一种用于太阳能电池芯片及组件的Ｉ－Ｖ特性测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种用于太阳能电池芯片及组件的Ｉ－Ｖ特性测试系统，该系统包括：模拟太阳光测试环境、Ｉ－Ｖ测试电路和多路数据采集器。模拟太阳光测试环境由温度可控可调的恒温测试箱，置于测试箱中的功率可以连续调节的模拟太阳光长弧氙灯、辐照度计组成。Ｉ－Ｖ测试电路由可调电子负载和电流采样器组成。样品的被测电压和电流，测试过程中控制的温度和辐照度由多路数据采集器进行数据处理。本实用新型专利技术的优点是：模拟太阳光光强连续可调；测试环境的温度可调可控；光源的辐照度可连续监测；具有处理单芯片及组件或多芯片及组件的测试能力。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及太阳能电池，具体是指太阳能电池芯片及组件的I-V特性测试系统。
技术介绍
传统的太阳能电池及组件I-V特性测试有脉冲测量及连续光测量两种。目前常见 的连续光测试系统一般光源面积较小，测试对象的范围较窄，测试光强固定，可测电压和电 流的范围均较小，温度、辐照度不可实时监测，不太适合目前的太阳能芯片及组件的发展需要。
技术实现思路
基于上述已有技术存在的问题，本技术的目的是提出一种可重复模拟太阳光 测试环境，可测电压和电流的范围均较大，温度、辐照度可实时监测，可同时对多个太阳能 电池芯片及组件进行测试的I-V特性测试系统。本技术的一种用于太阳能电池芯片及组件的I-V特性测试系统，包括模拟 太阳光测试环境、I-V测试电路和多路数据采集器。所述的模拟太阳光测试环境由温度可控可调的恒温测试箱，置于测试箱中的功率 可以连续调节的模拟太阳光长弧氙灯、辐照度计、放置检测模拟太阳光的辐照度计及被测 样品的操作台组成。所述的I-V测试电路由可调电子负载和电流采样器组成。被测样品芯片或组件二端的被测电压和电流采样器输出的被测电流，测试过程中 控制的温度和辐照度由多路数据采集器进行数据处理。本技术的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
一种用于太阳能电池芯片及组件的I V特性测试系统，包括模拟太阳光测试环境、I V测试电路和多路数据采集器(8)，其特征在于所述的模拟太阳光测试环境由温度可控可调的恒温测试箱(1)，置于测试箱中的功率可以连续调节的模拟太阳光长弧氙灯(2)、辐照度计(3)、放置检测模拟太阳光的辐照度计(3)及被测样品(4)的操作台(5)组...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭伟立，王善力，梅伟芳，
申请(专利权)人：上海太阳能电池研究与发展中心，
类型：实用新型
国别省市：31