【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种具有二极管和IGBT的半导体器件。
技术介绍
例如,在美国专利申请NO.2007/0108468中公开了一种具有二极管和 IGBT的半导体器件。在该器件中,N型层和P型基极层形成在N型衬底上。 一对凹槽形成 在基极层的表面上,使得凹槽到达衬底。N型发射极区形成在基极层中, 使得该发射极区夹在这些凹槽之间。栅极氧化膜形成在凹槽的内壁上,而栅电极通过栅极氧化膜形成在凹 槽中。这样,基极层经由栅极氧化膜接触栅电极。基极层提供了IGBT的沟 道区。层间绝缘膜形成在栅电极上方,使得层间绝缘膜覆盖发射极区的一 部分。发射极电极形成在发射极区和基极层的一部分上。发射极电极还提供 了二极管的阳极。P+型集电极层和N+型阴极层独立形成在衬底的背侧。与 集电极层和阴极层两者耦合的集电极电极形成在衬底上。集电极电极还提 供了二极管的阴极。二极管和IGBT集成在衬底中。具有设置在衬底背侧上的集电极的 IGBT区用作IGBT。具有设置在衬底背侧的阴极层的二极管区用作二极管。 可以将多个二极管和IGBT形成在衬底中,从而提供了逆变器。然而,专利技术人认识到下列难点。当二 ...
【技术保护点】
一种半导体器件,包括: 半导体衬底(10、11),其包括第一导电类型层(11); 多个IGBT区(1),每个IGBT区(1)提供一个IGBT元件;以及 多个二极管区(2),每个二极管区(2)提供一个二极管元件, 其中所述多个IGBT区(1)和所述多个二极管区(2)交替布置在所述衬底(10、11)中, 其中每个二极管区(2)都包括具有第二导电类型的肖特基接触区(24), 其中所述肖特基接触区(24)用于回收来自所述第一导电类型层(11)的少数载流子,并且 其中所述肖特基接触区(24)设置在所述第一导体类型层(11)的第一表面部分中,并且邻近所述IGBT区(1)。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:都筑幸夫,河野宪司,
申请(专利权)人:株式会社电装,
类型:发明
国别省市:JP[日本]
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