阵列基板和具有该阵列基板的显示面板制造技术

一种阵列基板包括栅极线部分、数据线部分、像素部分、至少一个测试晶体管和测试焊盘部分。栅极线部分沿第一方向形成，且包括栅极线和至少一条伪栅极线。数据线部分沿与第一方向交叉的第二方向形成，且包括数据线和至少一条伪数据线。像素部分电连接到栅极线和数据线。至少一个测试晶体管电连接到伪栅极线和伪数据线。测试焊盘部分电连接到伪栅极线、伪数据线和测试晶体管的漏电极。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种阵列基板和具有该阵列基板的显示面板。更具体 地，本专利技术涉及一种能测量薄膜晶体管特性的阵列基板和具有该阵列 基板的显示面板。
技术介绍
液晶显示(LCD)装置，例如平板显示装置，利用液晶的电学 和光学特性显示图像。由于LCD装置尺寸相对小、重量轻且采用相对 低的功耗和驱动电压驱动，所以正越来越广泛地使用。LCD装置包括采用液晶的透光率显示图像的LCD面板和设置在 LCD面板下为LCD面板提供光的背光组件。LCD面板包括阵列基板、面对阵列基板的相对基板和设置在阵列 基板和相对基板之间的液晶层。阵列基板可以包括沿第一方向形成的 栅极线、沿与第一方向垂直的第二方向形成的数据线、与栅极线和数 据线电连接的薄膜晶体管(TFT)以及电连接到TFT的透明像素电 极。当长时间驱动LCD面板以显示图像时，TFT的特性通常会改变。 因此，需要在驱动LCD面板后测量TFT特性的方法。通常，通过开封(decap)方法测量TFT的特性，该开封方法从 阵列基板移走相对基板。然而，由于静电流入TFT，从而干扰测量， 所以通过开封方法的测量会毁坏LCD面板，并且是不精确的。
技术实现思路
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【技术保护点】
一种阵列基板，包括：沿第一方向形成的栅极线部分，所述栅极线部分包括栅极线和至少一条伪栅极线；沿与第一方向交叉的第二方向形成的数据线部分，所述数据线部分包括数据线和至少一条伪数据线；电连接到栅极线和数据线的像素部分；　 　电连接到伪栅极线和伪数据线的至少一个测试晶体管；和电连接到伪栅极线、伪数据线和测试晶体管漏电极的测试焊盘部分。

【技术特征摘要】
KR 2006-11-29 2006-01188191.一种阵列基板，包括沿第一方向形成的栅极线部分，所述栅极线部分包括栅极线和至少一条伪栅极线；沿与第一方向交叉的第二方向形成的数据线部分，所述数据线部分包括数据线和至少一条伪数据线；电连接到栅极线和数据线的像素部分；电连接到伪栅极线和伪数据线的至少一个测试晶体管；和电连接到伪栅极线、伪数据线和测试晶体管漏电极的测试焊盘部分。2. 如权利要求1所述的阵列基板，其中，测试焊盘部分包括 电连接到伪栅极线的栅极测试焊盘； 电连接到伪数据线的数据测试焊盘；和 电连接到测试晶体管漏电极的漏极测试焊盘。3. 如权利要求2所述的阵列基板，还包括 电连接在伪栅极线之间的第一抗静电部分；和 电连接在伪数据线和数据测试焊盘之间的第二抗静电部分。4. 如权利要求3所述的阵列基板，其中，第一和第二抗静电部 分包括静电二极管。5. 如权利要求2所述的阵列基板，还包括将栅极信号施加到栅极线且将伪栅极信号施加到伪栅极线的栅 极驱动部分；和将数据信号施加到数据线且将伪数据信号施加到伪数据线的数 据驱动部分。6. 如权利要求5所述的阵列基板，其中，伪栅极线与栅极线相 邻，且伪数据线与数据线相邻。7. 如权利要求6所述的阵列基板，其中，伪栅极信号等于栅极 信号，伪数据信号等于数据信号。8. 如权利要求7所述的阵列基板，其中，伪栅极线电连接到最 外侧的栅极线，伪数据线电连接到最外侧的数据线。9. 如权利要求2所述的阵列基板，其中，至少两条以上伪栅极线在测试晶体管的前端相互电短路。10. 如权利要求2所述的阵列基板，其中，至少两条以上伪数据 线在测试晶体管的前端相互电短路。1...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙宇成，郑敬锡，宋相宪，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]