存储器单元的修复制造技术

一种存储器设备包括至少一个具有数据列的存储器单元的子阵列（２０６、２０８、２１０、２１２）和至少一个具有备用列的备用子阵列（２０２、２０４）。在一实施方式中，存储器单元的子阵列和具有备用列的子阵列是同样的子阵列。使用自备用子阵列的一单独元素可修复存储器单元的子阵列中的单独元素。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
技术介绍
本申请要求于2004年5月20日提交的序列号为60/573,093的美国临时申请的优先权。存储器制造商可提供存储器模块上的冗余存储器结构。在制造之后装货之前，测试存储器时，冗余结构可用来修复存储器单元阵列，允许其它有缺陷的部分被纠正和使用。这提高制造收益并降低成本。在以前的存储器单元阵列的实施中，一整数据字节、8位、或字、16位从物理相邻的位单元的单列中读出。一单列由在访问时生成n个数据位的n个位线对组成。这种类型阵列中的缺陷修复通常包括用一备用列来替换一有缺陷的列，该备用列具有与该有缺陷的列相同数目的位线对。在这一方案中，该包含缺陷的列中的所有数据位被替换。加入到2个16位备用列元素中的32个备用位线的一组可以被用来修复达2列的缺陷。在较新的存储器实施中，n位线的每一组生成一单数据位输出，这依赖于列复用器(column multiplexer)的比率。例如，假定列复用器的比率为8∶1，那么8个物理相邻的位线对的一组产生一个数据位。8个物理相邻的位线对的下一组生成下一个数据位。存储器阵列中的缺陷有很大的随机性，且可期望对每一数据位提供2可能的修复元素，这等同于以前的方案位。然本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种存储器设备，其包括：　　　　存储器单元的至少一个子阵列，其具有数据列；　　　　至少一个备用子阵列，其具有备用列，使得使用自所述备用子阵列的一单独元素，可修复所述存储器单元的子阵列中的单独元素。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】US 2004-5-20 60/573,0931.一种存储器设备，其包括存储器单元的至少一个子阵列，其具有数据列；至少一个备用子阵列，其具有备用列，使得使用自所述备用子阵列的一单独元素，可修复所述存储器单元的子阵列中的单独元素。2.如权利要求1所述的存储器设备，所述存储器单元的至少一个子阵列和所述备用列的至少一个子阵列是同样的子阵列。3.如权利要求1所述的存储器设备，所述一备用子阵列进一步包括一备用子阵列以使自所述备用子阵列中的单独元素有选择地修复一数据字中的位的一子集，其中所述位的子集比一整字小。4.如权利要求1所述的存储器设备，进一步包括一列传送电路，其适用于所述存储器单元的子阵列中的所述数据列。5.如权利要求1所述的存储器设备，进一步包括一备用列传送电路，其适用于所述备用子阵列中的所述备用列。6.如权利要求1所述的存储器设备，进一步包括感测放大器阵列，其适用于所述存储器单元的子阵列。7.如权利要求1所述的存储器设备，进一步包括一备用感测放大器阵列，其适用于所述备用子阵列。8.如权利要求1所述的存储器设备，进一步...

【专利技术属性】
技术研发人员：格里高利P麦科尔，
申请(专利权)人：美国模拟器件公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]