集成有只读存储器的芯片及内建自测试系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种只读存储器内建自测试系统及方法，所述系统包括芯片及标准数据模块，所述芯片内部集成有只读存储器及比较器，所述只读存储器中存储有预先设定的存储数据，所述标准数据模块中存储有所述只读存储器中存储的预先设定的标准数据，在进行只读存储器内建自测试时，将标准数据模块中的标准数据写入芯片内，所述比较器比较标准数据与只读存储器内的对应的存储数据是否一致，在一致时通过芯片的一管脚输出正确信息，在不一致时通过芯片的该管脚输出错误信息并停止内建自测试。这样，不需要将只读存储器内的数据读出就可以完成内建自测试，有效地保护了数据安全。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及集成电路设计领域，尤其涉及集成于芯片内的只读存储器(Read Only Memory,简称ROM )内建自测试设计(Build-in Self Test,简 称BIST)技术。
技术介绍
目前有许多芯片中都集成有只读存储器(ROM )，在ROM内遍常存储有 预先设定的存储数据，比如程序代码等。对于集成了 ROM的芯片，量产后 需要测试每个芯片ROM中的存储数据是否与预先设定的标准数据一致，这 样就有必要在芯片的量产测试中引入ROM BIST (只读存储器内建自测试) 这一个测试项目，以便筛除ROM中数据出错的芯片。现有的ROM BIST测试通常是这样的将装有待测试芯片的载板(Load Board)连接上测试机；测试机通过待测试芯片的一个管脚将其选择成ROM BIST的测试模式；将ROM中的存储数据一个接一个的从数据管脚读出；将 读出数据与标准数据进行比较，如果完全一致，则说明该芯片通过了 ROM BIST测试；如果不完全一致，则说明该芯片就未能通过ROMBIST测试，也 就是说该芯片的ROM中存在出错数据。上述方法虽然可以对芯片的ROM进行ROM BIST测试，^f旦本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种只读存储器内建自测试系统，其包括芯片及标准数据模块，所述芯片内部集成有只读存储器及比较器，所述只读存储器中存储有预先设定的存储数据，所述标准数据模块中存储有所述只读存储器中存储的预先设定的标准数据，其特征在于：在进行只读存储器内建自测试时，将标准数据模块中的标准数据写入芯片内，所述比较器比较标准数据与只读存储器内的对应的存储数据是否一致，在一致时通过芯片的一管脚输出正确信息，在不一致时通过芯片的该管脚输出错误信息并停止内建自测试。

【技术特征摘要】
1、一种只读存储器内建自测试系统，其包括芯片及标准数据模块，所述芯片内部集成有只读存储器及比较器，所述只读存储器中存储有预先设定的存储数据，所述标准数据模块中存储有所述只读存储器中存储的预先设定的标准数据，其特征在于在进行只读存储器内建自测试时，将标准数据模块中的标准数据写入芯片内，所述比较器比较标准数据与只读存储器内的对应的存储数据是否一致，在一致时通过芯片的一管脚输出正确信息，在不一致时通过芯片的该管脚输出错误信息并停止内建自测试。2、 如权利要求1所述的只读存储器内建自测试系统，其特征在于所述 芯片内部集成有MCU只读存储器和OSD只读存储器，依次对所述MCU只 读存储器和所述OSD只读存储器进行内建自测试。3、 如权利要求1所述的只读存储器内建自测试系统，其特征在于所述 芯片的一管脚输出正确信息具体是所述芯片的该管脚输出工作电平，所述芯 片的该管脚输出错误信息具体是指所述芯片的该管脚输出闲置电平。4、 如权利要求1所述的只读存储器内建自测试系统，其特征在于所述 芯片具有测试管脚、测试模式管脚，其中在测试管脚为工作电平时且所述测 试模式 管脚选择只读存储器内建自测试模式时，芯片进入只读存储器内建自 测试模式。5、 如权利要求1所述的只读存储器内建自测试系统，其特征在于所述 芯片具有若干数据管脚，通过所述数据管脚将标准数据写入芯片内。6、 如权利要求5所述的只读存储器内建自测试系统，其特征在于所述 标准数据是以组为单位一皮写入芯片内的，所述比较器也是以组为单位比较标 准数据与只读存储器内的对应的存储数据是否一致，在一致时通过芯片的一管脚输出正确信息，同时，所述比较器继续比较下一组标准数据...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡鸣，付军，
申请(专利权)人：北京中星微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]