温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种只读存储器内建自测试系统及方法，所述系统包括芯片及标准数据模块，所述芯片内部集成有只读存储器及比较器，所述只读存储器中存储有预先设定的存储数据，所述标准数据模块中存储有所述只读存储器中存储的预先设定的标准数据，在进行只读存储...
该专利属于北京中星微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京中星微电子有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。