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晶体管联机测试笔制造技术

技术编号:2641356 阅读:231 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
许多电子仪器和设备都大量采用晶体三极管,在调试和修理许多家用电器和电子仪器设备时,往往需要把晶体管拆下测量。这种办法既麻烦又容易把线路板搞坏。晶体管联机测试笔能够测量大,中,小功率高频管,低频管,PNP型和NPN型三极管以及场效应管。对于一般的晶体管电路,不必拆下三极管就能判别其好坏,用发光二极管直接显示三极管好坏,准确度达到94%左右。它还能测试2PF以上小电容的好坏,用两节五号电池,使用方便。(*该技术在1997年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术属于电子
许许多多电子仪器和设备都大量采用晶体三极管,就是在广泛使用集成电路的电子线路中,晶体管也仍然是一种不可缺少的元件,在调试和修理许多家用电器和电子仪器设备时,除了凭经验和分析以外,就是用万用表测量。由于联机状态下用表不易测准,或者经验不够,因此往往需要把管子拆下来测量,这种办法不但麻烦,而且经常会把线路板搞坏,这是修理人员最感困难的事情。目前,国内外还没有一种性能比较可靠,价格便宜的晶体管联机测试笔。虽然以往有不少人进行了这方面的研究,也发表了一些设计电路,但是还是存在测试的准确性差,功能不强或者成本较高等缺陷。针对以上问题,本专利技术的任务是设计一种功能强,性能比较可靠,成本低廉的晶体管联机测试仪器。这种仪器做成笔形,采用两节五号电池,使用携带方便,它能够测量大,中,小功率高频管和低频管,PNP型和NPN型三极管以及场效应管。对于一般的晶体管电路,不必拆下晶体三极管就能判别其好坏,不但能够测试放大器电路,也能测试振荡器电路。用发光二极管直接显示三管的好坏,同时还能测试2PF以上小电容的好坏。晶体管联机测试笔的电路原理如图。E,B,C为测量探头的三个接点,分别接触待测三极管T的E,B,C三个极。R2为T的偏流电阻。电容C4,C3(或C2),电感L3(或L4)和晶体管T组成间歇振荡器。L5为自耦变压器,是晶体管T的输出负载。C5,D1,D2组成倍压整流电路。晶体管T2,发光二极管D3,电阻R3组成显示放大器。K1为振荡器频率转换开关。K2为电源极性转换开关。改变电源极性就可以分别测NPN和PNP型晶体管。如果仪器设备上的待测晶体管T是好的,并且其外围电路没有严重的交流或直流短路时,电路将产生振荡输出信号使T2导通,发光二极管D3发亮,R3为限流电阻。如果T是坏的,电路肯定不会产生振荡输出,D3不会发亮。T1组成20MHZ的振荡电路。当K1指向3的位置时T1产生高频振荡信号输出,可测试接于T的B,C两极的小电容的好坏。C6为滤波电容。实施例C4,C3为.047,C1,C2为1000P,R1,R2为51K,L3是用0.08漆包线在M6中频磁芯上绕400圈,150圈处抽头,L4是用0.31漆包线在M4高频磁芯上绕12圈7圈处抽头,L5是用0.12漆包线在M4高频磁芯上绕150圈,80圈处抽头,L1是用0.31漆包线在M4高频磁芯上绕13圈,8圈抽头,L2用0.5MH电感。C5为0.1,D1和D2都用2AP9。T1,T2用3DG6C。D3用普通发光二极管,R3为82欧姆。做成的晶体管测试笔对晶体管电子琴,收音机,电视机和示波器等设备进行测试,平均准确度达到94%左右。脱机测量晶体管的准确度达到100%。权利要求1.晶体管联机测试笔由间歇振荡电路,倍压整流电路和发光显示驱动电路组成,其特征是间歇振荡电路以电感作为振荡输出负载。2.根据权利要求1所述的测试笔,其特征是振荡电路是由R2,C4和待测晶体管T的B极相联,R2另一端接电源,C4通过开关K1-1分别与C3,C2相联,L3,L4末端分别与C3,C2相联,始端通过K1-2分别接地,其抽头与T的E相联,L5的始端接电源,抽头接C极,末端与C5相联;倍压整流电路是C5与D1负极,D2正极相联,D1正极接地,D2负极接T2的B极;显示驱动电路是T2的C极接发光二极管D3的负极,D3正极接R3,R3的另一端接电源。3.根据权利要求1所述的测试笔,其特征是T1组成的间歇振荡电路的输出信号由开关K1-1接通,经C4藕合至T的B极用以测试接于B,C极的小电容的好坏。4.根据权利要求1所述的测试笔,其特征是用开关K1转换谐振元件C2,C3,L3,L4来改变振荡频率以达到测试和区分高低频三极管的目的,用K2转换电源极性达到可以测试和区分NPN和PNP两种类型三极管的目的。专利摘要许多电子仪器和设备都大量采用晶体三极管,在调试和修理许多家用电器和电子仪器设备时,往往需要把晶体管拆下测量。这种办法既麻烦又容易把线路板搞坏。晶体管联机测试笔能够测量大,中,小功率高频管,低频管,PNP型和NPN型三极管以及场效应管。对于一般的晶体管电路,不必拆下三极管就能判别其好坏,用发光二极管直接显示三极管好坏,准确度达到94%左右。它还能测试2PF以上小电容的好坏,用两节五号电池,使用方便。文档编号G01R31/26GK2030730SQ8721603公开日1989年1月11日 申请日期1987年12月3日 优先权日1987年12月3日专利技术者张清辨, 金杏珍, 张福海 申请人:金杏珍本文档来自技高网...

【技术保护点】
晶体管联机测试笔由间歇振荡电路,倍压整流电路和发光显示驱动电路组成,其特征是间歇振荡电路以电感作为振荡输出负载。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张清辨金杏珍张福海
申请(专利权)人:金杏珍
类型:实用新型
国别省市:34[中国|安徽]

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