光驱动型驱动器、光输出型电压传感器、及使用这两者的IC试验装置制造方法及图纸

技术编号:2637477 阅读:220 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种IC试验装置,包括主框架和试验头,其中所述主框架容纳有:图形发生器、波形发生器和逻辑比较器等电子电路装置;所述试验头连接在自该主框架拉出的电缆的前端,在试验头侧配置光驱动型驱动器和光输出型电压传感器,在主框架侧设置将试验图形信号变换为光信号的光信号变换器和将光信号变换为电信号的光传感器,在主框架侧由光信号变换器将波形发生器输出的试验图形信号变换为光信号,使用光波导线路将该光信号向试验头传送,驱动设在试验头的光驱动型驱动器;将光信号变换为电信号提供给被试验IC。被试验IC输出的应答信号被提供给光输出型电压传感器,利用该光输出型电压传感器将被试验IC输出的电压信号作为光信号传送到主框架,利用光信号在主框架和试验头之间进行信号的授受,可以进行高速操作。(*该技术在2018年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光驱动型驱动器、光输出型电压传感器及使用了该两者的IC试验装置,其中,光驱动型驱动器通过利用光信号驱动而产生电压信号,将试验图形信号提供给被试验IC;光输出型电压传感器将检测出的电压作为光信号输出,可以利用光信号传输对应于测定电压值的模拟量。附图说明图15显示现有IC试验装置的通常的结构。一般使用的IC试验装置如图15所示,由试验头THD、容纳试验装置主体的主框架MIN、在它们之间进行连接的电缆KBL和全自动地将被试验IC10提供给试验头THD的自动装入机HND构成。其结构为在试验头THD装有IC插座SK,使被试验IC10与该IC插座SK接触,使被试验IC10经电缆KBL与主框架MIN电连接,自主框架MIN通过电缆KBL将试验图形信号提供给被试验IC10,将被试验IC10的应答信号再次经过电缆KBL送入主框架MIN,在主框架MIN中,通过对应答信号和期待值进行逻辑比较,判定被试验IC是否正常操作了,试验被试验IC的优劣。试验头THD上附设有自动装入机HND,自动搬送被试验IC10。自动装入机HND进行下述作业全自动地使被试验IC10与IC插座SK接触,试验结束后,本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光驱动型驱动器,其特征在于:该光驱动型驱动器包括:多个光波导线路,光学性结合在该多个光波导线路的各端部配置的多个光敏元件,连接在该光敏元件的各端子的一端侧的多个直流电压源,将所述光敏元件的另一端侧共连接的输出端子和在该输出端子和外部连接端子之间形成的终端电阻。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:冈安俊幸
申请(专利权)人:株式会社爱德万测试
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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