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一种ＩＣ试验装置，包括主框架和试验头，其中所述主框架容纳有：图形发生器、波形发生器和逻辑比较器等电子电路装置；所述试验头连接在自该主框架拉出的电缆的前端，在试验头侧配置光驱动型驱动器和光输出型电压传感器，在主框架侧设置将试验图形信号变换为光...
该专利属于株式会社爱德万测试所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社爱德万测试授权不得商用。

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