孔隙设备及微粒子测定系统、孔隙设备的制造方法技术方案

本发明专利技术提供一种不损害可靠性地能够长期保存的孔隙设备。孔隙设备(100)具备设备主体(150)及密封构件(160)。设备主体(150)具有通过孔隙(104)连通的第一空间(122)和第二空间(124)、用于向第一空间(122)及第二空间(124)注入电解液(5)的注入口(152)。向设备主体(150)的内部赋予亲水基(154)。密封构件(160)在第一空间(122)及第二空间(124)由电解液5充满的状态下，将注入口(152)密封。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及孔隙设备。

技术介绍

1、已知有被称为电阻法(库尔特原理)的粒度分布测定法。在该测定法中，使含有粒子的电解液通过被称为纳米孔隙的细孔。在粒子通过细孔时，细孔中的电解液减少与粒子的体积相应的量，使细孔的电阻增加。因此，通过测定细孔的电阻，能够测定粒子的体积(即粒径)。

2、图1是使用了电阻法的微粒子测定系统1r的框图。微粒子测定系统1r具备孔隙设备100r、计测装置200r及数据处理装置300。

3、孔隙设备100r的内部充满含有检测对象的粒子4的电解液2。孔隙设备100r的内部由孔隙片102分隔成两个空间，在两个空间内设置电极106和电极108。当在电极106与电极108之间产生电位差时，离子电流在电极间流动，而且由于电泳而粒子4经由孔隙104从一方的空间向另一方的空间移动。

4、计测装置200r使电极对106、108之间产生电位差，并取得与电极对之间的电阻值rp存在关联的信息。计测装置200r包括跨阻放大器210、电压源220、数字转换器230。电压源220使电极对106、108之间产生电位差vb。该电位本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种孔隙设备，其特征在于，

2.根据权利要求1所述的孔隙设备，其特征在于，

3.根据权利要求2所述的孔隙设备，其特征在于，

4.根据权利要求3所述的孔隙设备，其特征在于，

5.根据权利要求3或4所述的孔隙设备，其特征在于，

6.根据权利要求3或4所述的孔隙设备，其特征在于，

7.根据权利要求3或4所述的孔隙设备，其特征在于，

8.根据权利要求3或4所述的孔隙设备，其特征在于，

9.一种微粒子测定系统，其特征在于，

10.一种孔隙设备的制造方法，其特征在于，</p>

11.根...

【技术特征摘要】

1.一种孔隙设备，其特征在于，

2.根据权利要求1所述的孔隙设备，其特征在于，

3.根据权利要求2所述的孔隙设备，其特征在于，

4.根据权利要求3所述的孔隙设备，其特征在于，

5.根据权利要求3或4所述的孔隙设备，其特征在于，

6.根据权利要求3或4所述的孔...

【专利技术属性】
技术研发人员：生沼浩介，高田武晃，小川良平，鹫津信荣，
申请(专利权)人：株式会社爱德万测试，
类型：发明
国别省市：