散射光测定装置制造方法及图纸

技术编号:2564661 阅读:139 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术即使不使用接收频带宽的光接收器,也能测定布里渊散射光。散射光测定装置(1)具有:连续光源(10),产生连续光;光脉冲发生器(14),将连续光转换为脉冲光;光移频器(20),接收连续光并输出移位光,该移位光具有连续光、具有比连续光的光频率(F0)仅大规定光频率(Flo)的光频率的第一侧波带光、及具有比连续光的光频率(F0)仅小规定光频率(Flo)的光频率的第二侧波带光;功率降低部(22),降低光移频器(20)所输出的移位光中的连续光的功率;以及外差式受光器(26),从入射了脉冲光的光纤(2)的入射端(2a)接收散射光,而且从光移频器(20)接收移位光,并输出具有散射光的光频率与移位光的光频率之差的频率的电信号。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及布里渊散射光的测定。技术背景以往,就已经进行将连续波光脉沖化后给予光纤,从光纤得到散射光,并对布里渊散射光进行相干检波(例如,参照专利文献1 (特开2001 - 165808 号公报)的图8)。例如,对散射光、和将连续波光(光频率fc)以规定频率p 进行强度调制后的强度调制光进行合波并进行相干检波。另外,散射光除了布 里渊散射光(光频率fc + fb及fc - fb )之外还有雷利散射光(光频率fc )。而 且,强度调制光具有光频率fc的载波光成分和光频率fc+p及光频率fc - p的 侧波带光成分。还有,相干检波利用具有光电二极管的光接收器进行。然而,根据如上所述的现有技术,相干检波的结果中不仅包括布里渊散射 光的检波结果(中心频率为I p—fb I ),而且还包括雷利散射光的检波结果(中 心频率为0)。 一般来讲,雷利散射光的检波结果的功率比布里渊散射光的检 波结果的功率要大。因此,若I p—fb I没有充分大于0,则布里渊散射光的检 波结果被埋没在雷利散射光的检波结果中,从而无法测定布里渊散射光。但是,若I p—fb I充分大于0,则需要扩宽光接收器的光电二本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种散射光测定装置,具有:    连续光源,产生连续光;    光脉冲发生器,将上述连续光转换为脉冲光;    光移频器,接收上述连续光并输出移位光,该移位光具有上述连续光、具有光频率比上述连续光的光频率仅大规定光频率的第一侧波带光、及具有光频率比上述连续光的光频率仅小上述规定光频率的第二侧波带光;    功率降低单元,降低上述光移频器所输出的上述移位光中的上述连续光的功率;以及    外差式受光器,从入射了上述脉冲光的光纤的入射端接收散射光,而且从上述光移频器接收上述移位光,并输出具有频率为上述散射光的光频率与上述移位光的光频率之差的电信号。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:浮田润一松村尊
申请(专利权)人:株式会社爱德万测试
类型:发明
国别省市:JP[日本]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1