用于从测量区域测量光散射的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及用于检验接收光学器件的光散射测量装置。其中提出一种用于从测量区域测量光散射的装置，其包括用于将光束发射到测量空间的光发射器并包括具有接收光学器件以捕获测量区域中散射光的光接收器，其中设置了调节单元以在测量模式和检验模式之间转换，在测量模式下，光发射器和接收光学器件的光轴彼此呈一定角度且在测量区域彼此相交，在检验模式下，光发射器和接收光学器件的光轴彼此平行且光束逐渐将接收光学器件覆盖以识别污染。同时，接收光学器件可转动地固定到可移动的旋转轴，调节单元在检验模式下首先让接收光学器件绕旋转轴旋转，直至接收光学器件的光轴与光发射器的光轴平行，随后移动旋转轴和接收光学器件。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种用于从测量区域测量光散射的装置。
技术介绍
测量散射光时借助光源来照射测量空间。若在测量空间中存在散射中心(例如粉尘颗粒或其它颗粒)，则会使光散射。构造的与入射光呈一定角度的光接收器将所述散射光记录下来，该散射光容许推断出测量空间中颗粒的类型和量。例如在环境测量技术或排放测量技术中会使用散射光测量。随着时间的推移，测量精度可能会受到污染或其它效果的影响。已知一种自测试功能用于补偿，该自测试功能在经过适应性检验的排放测量设备中甚至进行了规定。自测试的可能性在于，对具有光源的光接收器的光学界面进行检验。为此光接收器从其测量位置移动到检验位置，在此位置处光没有散射在测量空间中直线接收。检验位置的期望接收强度对应于最大信号，从而使光学界面的代表性传输测量成为可能。如果接收光学器件受到污染，则所期望的信号会相应地减弱，从中可推断出污染以及污染程度。现有技术已知不同的结构，通过其可将光接收器移动到光源的光束中。最简单的情况就是将光发射器和光接收器彼此偏转，直到其在一条直的视线上。为了避免过载可将阻尼滤波器布置在一条所述视线上。如果想要空间分辨地获得接收光学器件的损害，则在本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于从测量区域(12)测量光散射的装置(10)，所述装置(10)包括用于将光束(18)发射到所述测量区域(12)中的光发射器(14)以及包括具有接收光学器件(24)的、用于捕获所述测量区域(12)中散射的光的光接收器(22)，其中设置有调节单元，以便在测量模式和检验模式之间转换，在所述测量模式下，所述光发射器(14)和所述接收光学器件(24)的光轴彼此呈一定角度且在所述测量区域(12)彼此相交，在所述检验模式下，所述光发射器(14)和所述接收光学器件(24)的光轴彼此平行且所述光束(18)会逐渐将所述接收光学器件(24)覆盖以识别污染，其特征在于，所述接收光学器件(24)可转动地固定在可移...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：乌维·梅尔彻，于尔根·雷杰，
申请(专利权)人：西克工程有限公司，
类型：新型
国别省市：德国;DE