光时域反射仪和用于使用光脉冲来测试光纤的方法技术

在实时测量的时候，当由标志来指定测量位置时，标志电平取得部件从存储在波形存储器中的波形数据取得波形电平。电平比较部件判断由标志电平取得部件取得的波形电平是否属于依照当前选择的衰减器（ＡＴＴ）值设置的、有效的测量电平范围。当电平比较部件判断波形电平不属于有效的测量电平范围时，ＡＴＴ值改变部件将ＡＴＴ值改变成新的ＡＴＴ值，从而波形电平包含在相应的有效测量电平范围中。控制部件基于新的ＡＴＴ值，允许来测量被测量的光纤，以致基于在显示部件的屏幕上显示的测量波形，使有不小于预定值的、好的Ｓ／Ｎ（信噪）比的波形测量成为可能。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及光时域反射仪和用于使用光脉沖来测试光纤的方法，并且特别地涉及作为光脉沖测试仪的光时域反射仪(OTDR)，其允许光脉冲入射到被 测量的光纤上，根据光脉沖的入射、基于从被测量的光纤返回的反射光的检 测结果，来检测被测量的光纤的故障点位置，并测量被测量的光纤的传输损 耗特性和连接损耗特性，并且涉及用于使用光脉冲来测试光纤的方法。
技术介绍
作为光脉冲测试仪的光时域反射仪(OTDR)发射光脉沖以入射到被测量 的光纤上，根据光脉沖的入射来检测从被测量的光纤返回的反射光，以致基 于反射光的检测结果来检测被测量的光纤的故障点位置，并且测量被测量的 光纤的传输损耗特性和连接损耗特性。图9为说明在下列的专利文件1中公开的光脉冲测试仪的构造的框图， 而所述光脉沖测试仪作为如按惯例为普遍已知的光脉冲测试仪这样的、传统 的光时域反射仪(OTDR)的一个实例。由计时发生部件52、驱动电路53、光源54、光定向耦合器55、光接收 器56、放大部件57、信号平均处理部件58、对数转换部件59和显示部件60 来组成图9中展示的光脉沖测试仪(0TDR) 49。所述类型的光脉沖测试仪(0TDR) 49基本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光时域反射仪，包含：　光源，其发射将入射到被测量的光纤上的光脉冲；　光接收部件，其根据从所述光源发射的所述光脉冲，来接收从所述被测量的光纤返回的后散射光；　等价的衰减器，其由以预定的增益来放大来自所述光接收部件的输出信号的放大部件，和将由所述放大部件放大的所述输出信号相加预定数目的次数以致求其平均值的信号平均处理部件组成；　对数转换部件，其对数地转换来自所述等价的衰减器的所述输出信号；　波形存储器，其将来自所述对数转换部件的所述输出信号作为波形数据存储在其中；　显示部件，其读取存储在所述波形存储器中的所述波形数据，以致将作为测量波形的所述数据显示在屏幕上；　标志设置部件，其在所述显示部件的...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：堀重雄，
申请(专利权)人：安立股份有限公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]