测试系统、存储器的测试方法及测试装置制造方法及图纸

本公开提供一种测试系统、存储器的测试方法及测试装置，涉及半导体技术领域。该测试方法包括：根据存储器的一存储块的多个运行状态和每个运行状态下能够执行的指令建立状态机；根据状态机的当前运行状态确定与当前运行状态对应的多个候选指令；确定当前时刻与一初始时刻间的运行时间；从各候选指令中随机选择一候选指令作为目标指令，并根据目标指令更新当前运行状态，直至运行时间达到预设值；根据所有目标指令生成一指令序列；确定指令序列中各目标指令在所有指令中的覆盖率；在覆盖率达到一阈值时，根据指令序列生成执行文件；通过测试机对存储器执行执行文件。

Test method and device of test system and memory

【技术实现步骤摘要】
测试系统、存储器的测试方法及测试装置
本公开涉及半导体
，具体而言，涉及一种测试系统、存储器的测试方法及存储器的测试装置。
技术介绍
随着半导体技术的发展，存储器的性能逐渐提升。现有的存储器包括动态随机存取存储器(DRAM)、随机访问存储器(RAM)等。为了检测存储器的性能，通常需要对存储器进行测试，每个测试项目用于一个检测目的。目前，在检测存储器时，需要根据需要检测的功能，人工书写测试项目，并根据书写的各个测试项目对存储器进行检测。但是，人工书写的测试项目的组合方式和数量是固定且有限的，而用户对存储器的各功能使用的组合方式是无限的且不固定，使得现有测试方式的效率较低，且测试项目的覆盖率较小，导致测试效果有待提高。需要说明的是，在上述
技术介绍
部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
技术实现思路
本公开的目的在于提供一种测试系统、存储器的测试方法及存储器的测试装置，可提高测试效率和测试效果。根据本公开的一个方面，提供一种存储器的测试方法，包括：根据存储器的一存储块的多个运行状态和每个所述运行状态下能够执行的指令建立状态机；根据所述状态机的当前运行状态确定与所述当前运行状态对应的多个候选指令；确定当前时刻与一初始时刻间的运行时间；从各所述候选指令中随机选择一所述候选指令作为目标指令，并根据所述目标指令更新当前运行状态，直至所述运行时间达到预设值；根据所有所述目标指令生成一指令序列；确定所述指令序列中各所述目标指令在所有所述指令中的覆盖率；在所述覆盖率达到一阈值时，根据所述指令序列生成执行文件；通过测试机对所述存储器执行所述执行文件。在本公开的一种示例性实施例中，从各所述候选指令中随机选择一所述候选指令作为目标指令，包括：根据随机种子生成当前随机数；根据所述当前随机数和预设的指令权重配置表从所述候选指令中选择一所述候选指令作为目标指令并为生成对应的随机地址。在本公开的一种示例性实施例中，所述测试方法还包括：控制所述目标指令符合预设时序。在本公开的一种示例性实施例中，确定所述指令序列中各所述目标指令在所有所述指令中的覆盖率，包括：确定从所述指令序列的所述目标指令中取出预设数量的目标指令的组合数，作为第一组合数，以及从所有所述指令中取出预设数量的指令的组合数，作为第二组合数；确定所述第一组合数与所述第二组合数之比，作为所述覆盖率。在本公开的一种示例性实施例中，所述测试方法还包括：在所述覆盖率小于所述阈值时，重新生成指令序列。根据本公开的一个方面，提供一种存储器的测试装置，包括：状态机模块，用于根据存储器的一存储块的多个运行状态和每个所述运行状态下能够执行的指令建立状态机；候选模块、用于根据所述状态机的当前运行状态确定与所述当前运行状态对应的多个候选指令；时间检测模块，用于确定当前时刻与一初始时刻间的运行时间；随机选择模块，用于从各所述候选指令中随机选择一所述候选指令作为目标指令，并根据所述目标指令更新当前运行状态，直至所述运行时间达到预设值；序列生成模块，用于根据所有所述目标指令生成一指令序列；覆盖率检测模块，用于确定所述指令序列中各所述目标指令在所有所述指令中的覆盖率；覆盖率比较模块，用于在所述覆盖率大于一阈值时，根据所述指令序列生成执行文件；执行模块，用于通过测试机对所述存储器执行所述执行文件。在本公开的一种示例性实施例中，所述随机选择模块包括：随机数生成单元，用于根据随机种子生成当前随机数；指令选择单元，用于根据所述当前随机数和预设的指令权重配置表从所述候选指令中选择一所述候选指令作为目标指令并为生成对应的随机地址。在本公开的一种示例性实施例中，所述测试装置还包括：时序控制模块，用于控制所述目标指令符合预设时序。在本公开的一种示例性实施例中，所述覆盖率检测模块包括：组合数确定单元，用于确定从所述指令序列的所述目标指令中取出预设数量的目标指令的组合数，作为第一组合数，以及从所有所述指令中取出预设数量的指令的组合数，作为第二组合数；计算单元，用于确定所述第一组合数与所述第二组合数之比，作为所述覆盖率。根据本公开的一个方面，提供一种测试系统，包括测试机和上述任意一项所述测试装置。本公开的测设系统、存储器的测试方法及测试装置，可通过状态机将存储器的运行状态和每个运行状态下能执行的指令关联起来，而每个指令可对应于一个测试项目；从当前运行状态对应的多个候选指令中随机选择出目标指令，直至运行时间达到预设值，从而可选出多个目标指令，相当于随机产生了多个测试项目；随后，可根据各目标指令生成的指令序列，并确定所述指令序列中各目标指令在所有指令中的覆盖率；在所述覆盖率达到一阈值时，可根据指令序列生成执行文件；最后，通过测试机对所述存储器执行所述执行文件，实现对存储器的测试。在上述过程中，可避免人工书写测试项目，有利于提高测试效率。同时，在上述过程中，由于各个目标指令为随机选择，相对于人工书写的测试项目而言，可包含更多的指令组合，并对覆盖率进行了检测，从而扩大了测试项目的覆盖率，提升了测试效果。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。附图说明此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本公开测试方法一实施方式的流程图。图2为图1中测试方法的步骤S140的流程图。图3为本公开测试方法另一实施方式的流程图。图4为本公开测试方法一实施方式中状态机的状态转移图。图5为本公开测试方法一实施方式的工作原理图。图6为本公开测试装置的随机选择模块的示意图。图7为本公开测试装置的覆盖率检测模块的示意图。图8为本公开测试装置另一实施方式的示意图。图中：1、状态机模块；2、候选模块；3、时间检测模块；4、随机选择模块；41、随机数生成单元；42、指令选择单元；5、序列生成模块；6、覆盖率检测模块；61、组合数确定单元；62、计算单元；7、覆盖率比较模块；8、执行模块；9、时序控制模块。具体实施方式现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而，示例实施方式能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的范例；相反，提供这些实施方式使得本公开将更加全面和完整，并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施方式中。在下面的描述中，提供许多具本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种存储器的测试方法，其特征在于，包括：/n根据存储器的一存储块的多个运行状态和每个所述运行状态下能够执行的指令建立状态机；/n根据所述状态机的当前运行状态确定与所述当前运行状态对应的多个候选指令；/n确定当前时刻与一初始时刻间的运行时间；/n从各所述候选指令中随机选择一所述候选指令作为目标指令，并根据所述目标指令更新当前运行状态，直至所述运行时间达到预设值；/n根据所有所述目标指令生成一指令序列；/n确定所述指令序列中各所述目标指令在所有所述指令中的覆盖率；/n在所述覆盖率达到一阈值时，根据所述指令序列生成执行文件；/n通过测试机对所述存储器执行所述执行文件。/n

【技术特征摘要】
1.一种存储器的测试方法，其特征在于，包括：
根据存储器的一存储块的多个运行状态和每个所述运行状态下能够执行的指令建立状态机；
根据所述状态机的当前运行状态确定与所述当前运行状态对应的多个候选指令；
确定当前时刻与一初始时刻间的运行时间；
从各所述候选指令中随机选择一所述候选指令作为目标指令，并根据所述目标指令更新当前运行状态，直至所述运行时间达到预设值；
根据所有所述目标指令生成一指令序列；
确定所述指令序列中各所述目标指令在所有所述指令中的覆盖率；
在所述覆盖率达到一阈值时，根据所述指令序列生成执行文件；
通过测试机对所述存储器执行所述执行文件。


2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，从各所述候选指令中随机选择一所述候选指令作为目标指令，包括：
根据随机种子生成当前随机数；
根据所述当前随机数和预设的指令权重配置表从所述候选指令中选择一所述候选指令作为目标指令并生成对应的随机地址。


3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：
控制所述目标指令符合预设时序。


4.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，确定所述指令序列中各所述目标指令在所有所述指令中的覆盖率，包括：
确定从所述指令序列的所述目标指令中取出预设数量的目标指令的组合数，作为第一组合数，以及从所有所述指令中取出预设数量的指令的组合数，作为第二组合数；
确定所述第一组合数与所述第二组合数之比，作为所述覆盖率。


5.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：
在所述覆盖率小于所述阈值时，重新生成指令序列。


6.一种存储器的测试装置，其特征在于，包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：不公告发明人，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34