嵌入式存储器的测试方法、装置、设备和计算机存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种嵌入式存储器测试方法，所述嵌入式存储器包括eMMC和DDR，其中，该嵌入式存储器测试方法包括：接收对所述eMMC进行测试的第一信号指令，根据所述第一信号指令控制所述eMMC开始测试，并反馈相应的测试信号；接收根据所述测试信号所生成的对所述DDR进行测试的第二信号指令，根据所述第二信号指令控制所述DDR开始测试；获取所述eMMC和DDR的测试结果，并根据所述eMMC和DDR的测试结果判定所述嵌入式存储器是否合格。本发明专利技术的嵌入式存储器测试方法可同时对eMMC和DDR进行测试，节省测试时间，提高测试效率以及降低成本支出。此外，本发明专利技术还公开一种嵌入式存储器测试装置、设备和计算机存储介质。

Test method, device, equipment and computer storage medium of embedded memory

【技术实现步骤摘要】
嵌入式存储器的测试方法、装置、设备和计算机存储介质
本专利技术涉及芯片测试
，特别涉及一种嵌入式存储器的测试方法、装置、设备和计算机存储介质。
技术介绍
随着科学技术的发展进步，嵌入式存储器广泛应用于各种移动电子设备中。其中，属于嵌入式存储器的eMCP和Emop等都是由DDR(DoubleDataRate，双倍速率同步动态随机存储器)与eMMC(EmbeddedMultiMediaCard，嵌入式多媒体卡)结合封装形成。与传统的DDR、MCP、eMOP等存储器相比较，嵌入式存储器的内部设有NANDFlash控制芯片，可以减少主芯片的运算负担，管理更大容量的快闪存储器，以及大幅度减少电子产品的应用面积。嵌入式存储器在生产过程中需要进行DDR和eMMC的测试，DDR和eMMC测试均通过后方对其进行开卡操作，但由于DDR和eMMC信号指令的不同，目前一般是采取分开测试的方式，此方式耗时费力，测试效率低，并且成本支出高。
技术实现思路
本专利技术的主要目的是提出一种嵌入式存储器的测试方法，旨在解决目前嵌入式存储器测试效率低且成本支出高的问题。为实现上述目的，本专利技术提出一种嵌入式存储器测试方法，所述嵌入式存储器包括eMMC和DDR，其中，该嵌入式存储器测试方法包括：接收对所述eMMC进行测试的第一信号指令，根据所述第一信号指令控制所述eMMC开始测试，并反馈相应的测试信号；接收根据所述测试信号所生成的对所述DDR进行测试的第二信号指令，根据所述第二信号指令控制所述DDR开始测试；获取所述eMMC和DDR的测试结果，并根据所述eMMC和DDR的测试结果判定所述嵌入式存储器是否合格。优选地，所述根据第一信号指令控制所述eMMC开始测试包括：当接收到所述第一信号指令时，反馈相应的应答信号；接收根据所述应答信号所下发的测试包，将所述测试包发送给所述eMMC，以使所述eMMC利用所述测试包进行测试。优选地，所述根据第二信号指令控制所述DDR开始测试包括：依次对所述DDR的多段空间进行数据读写测试；若所述数据读写测试正确，则对所述DDR的下一段空间进行数据读写测试；若所述数据读写测试错误，则停止对所述DDR进行测试。优选地，所述获取eMMC和DDR的测试结果，并根据所述eMMC和DDR的测试结果判定所述嵌入式存储器是否合格包括：若所述eMMC和DDR的测试结果均为正常，则判定所述嵌入式存储器合格；若所述eMMC和DDR的任一测试结果存在异常，则判定所述嵌入式存储器不合格。本专利技术还提出一种嵌入式存储器测试装置，该测试装置包括：eMMC测试模块，用于接收对所述eMMC进行测试的第一信号指令，根据所述第一信号指令控制所述eMMC开始测试，并反馈相应的测试信号；DDR测试模块，用于接收根据所述测试信号所生成的对所述DDR进行测试的第二信号指令，根据所述第二信号指令控制所述DDR开始测试；判定模块，用于获取所述eMMC和DDR的测试结果，并根据所述eMMC和DDR的测试结果判定所述嵌入式存储器是否合格。优选地，所述eMMC测试模块包括：反馈单元，用于当接收到所述第一信号指令时，反馈相应的应答信号；测试单元，用于接收根据所述应答信号所下发的测试包，将所述测试包发送给所述eMMC，以使所述eMMC利用所述测试包进行测试。优选地，所述DDR测试模块包括：读写测试单元，用于依次对所述DDR的多段空间进行数据读写测试；继续测试单元，用于当所述数据读写测试正确时，对所述DDR的下一段空间进行数据读写测试；停止测试单元，用于当所述数据读写测试错误时，停止对所述DDR进行测试。优选地，所述判定模块包括：第一判定单元，用于当所述eMMC和DDR的测试结果均为正常时，判定所述嵌入式存储器合格；第二判定单元，若所述eMMC和DDR的任一测试结果存在异常，则判定所述嵌入式存储器不合格。本专利技术还提出这一种嵌入式存储器测试设备，该测试设备包括：存储器，用于存储计算机程序；处理器，用于执行所述计算机程序时实现如下所述嵌入式存储器测试方法的步骤：接收对所述eMMC进行测试的第一信号指令，根据所述第一信号指令控制所述eMMC开始测试，并反馈相应的测试信号；接收根据所述测试信号所生成的对所述DDR进行测试的第二信号指令，根据所述第二信号指令控制所述DDR开始测试；获取所述eMMC和DDR的测试结果，并根据所述eMMC和DDR的测试结果判定所述嵌入式存储器是否合格。本专利技术还提出一种计算机存储介质，所述计算机存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时至少实现如下所述嵌入式存储器测试方法的步骤：接收对所述eMMC进行测试的第一信号指令，根据所述第一信号指令控制所述eMMC开始测试，并反馈相应的测试信号；接收根据所述测试信号所生成的对所述DDR进行测试的第二信号指令，根据所述第二信号指令控制所述DDR开始测试；获取所述eMMC和DDR的测试结果，并根据所述eMMC和DDR的测试结果判定所述嵌入式存储器是否合格。本专利技术技术方案与现有的嵌入式存储器测试方式相比较，其有益效果在于：将嵌入式存储器中eMMC和DDR测试相结合以同时测试，相较于目前eMMC和DDR分开测试的方式，可节省测试时间，提高测试效率，并且节约人力，降低测试人工成本支出。附图说明图1为本专利技术的嵌入式存储器测试方法一实施例的流程图；图2为本专利技术的嵌入式存储器测试方法另一实施例的流程图；图3为本专利技术的嵌入式存储器测试方法又一实施例的流程图；图4为本专利技术的嵌入式存储器测试方法再一实施例的流程图；图5为本专利技术的嵌入式存储器测试装置的功能模块图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的方案进行清楚完整的描述，显然，所描述的实施例仅是本专利技术中的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术提出一种嵌入式存储器测试方法，嵌入式存储器包括eMMC和DDR，其中，参照图1，该嵌入式存储器测试方法包括：步骤S10：接收对eMMC进行测试的第一信号指令，根据第一信号指令控制eMMC开始测试，并反馈相应的测试信号。本专利技术的嵌入式存储器测试方法应用于嵌入式存储器测试系统，乃是针对嵌入式存储器中eMMC和DDR的测试。该测试系统包括PC(个人计算机)、测试终端及其他配套设施，且该测试终端包括主控芯片。PC中安装有通讯及测试软件，PC与测试终端通过usb接口连接通信，并基于usb协议与测试终端的主控芯片实现信号传递及数据交互，PC用于控制测试终端的上下电、向主控芯片发送信号指令和接收反馈信号、以及下发测试数据包。人本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种嵌入式存储器测试方法，所述嵌入式存储器包括eMMC和DDR，其特征在于，包括：/n接收对所述eMMC进行测试的第一信号指令，根据所述第一信号指令控制所述eMMC开始测试，并反馈相应的测试信号；/n接收根据所述测试信号所生成的对所述DDR进行测试的第二信号指令，根据所述第二信号指令控制所述DDR开始测试；/n获取所述eMMC和DDR的测试结果，并根据所述eMMC和DDR的测试结果判定所述嵌入式存储器是否合格。/n

【技术特征摘要】
1.一种嵌入式存储器测试方法，所述嵌入式存储器包括eMMC和DDR，其特征在于，包括：
接收对所述eMMC进行测试的第一信号指令，根据所述第一信号指令控制所述eMMC开始测试，并反馈相应的测试信号；
接收根据所述测试信号所生成的对所述DDR进行测试的第二信号指令，根据所述第二信号指令控制所述DDR开始测试；
获取所述eMMC和DDR的测试结果，并根据所述eMMC和DDR的测试结果判定所述嵌入式存储器是否合格。


2.根据权利要求1所述的嵌入式存储器测试方法，其特征在于，所述根据第一信号指令控制所述eMMC开始测试包括：
当接收到所述第一信号指令时，反馈相应的应答信号；
接收根据所述应答信号所下发的测试包，将所述测试包发送给所述eMMC，以使所述eMMC利用所述测试包进行测试。


3.根据权利要求1所述的嵌入式存储器测试方法，其特征在于，所述根据第二信号指令控制所述DDR开始测试包括：
依次对所述DDR的多段空间进行数据读写测试；
若所述数据读写测试正确，则对所述DDR的下一段空间进行数据读写测试；
若所述数据读写测试错误，则停止对所述DDR进行测试。


4.根据权利要求1所述的嵌入式存储器测试方法，其特征在于，所述获取eMMC和DDR的测试结果，并根据所述eMMC和DDR的测试结果判定所述嵌入式存储器是否合格包括：
若所述eMMC和DDR的测试结果均为正常，则判定所述嵌入式存储器合格；
若所述eMMC和DDR的任一测试结果存在异常，则判定所述嵌入式存储器不合格。


5.一种嵌入式存储器测试装置，其特征在于，包括：
eMMC测试模块，用于接收对所述eMMC进行测试的第一信号指令，根据所述第一信号指令控制所述eMMC开始测试，并反馈相应的测试信...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶欣，张翔，黄裕全，
申请(专利权)人：深圳佰维存储科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44