一种提高矢量图形深度利用效率的大容量存储器测试方法技术

本发明专利技术公开了一种提高矢量图形深度利用效率的大容量存储器测试方法，其包括：对FLASH存储器的矢量图形进行分析，将存储器的擦写延时，重复读数据通过指令控制器实施单行压缩；对FLASH存储器的矢量图形进行分析，将存储器的规律读写数据通过指令控制器实施区块调用。本发明专利技术提供的方案通过矢量图形的指令控制器的有效控制使图形深度得到有效扩展，能够在没有ALPG功能矢量图形深度不够的情况下完成对大容量存储器测试。

【技术实现步骤摘要】
一种提高矢量图形深度利用效率的大容量存储器测试方法
本专利技术涉及FLASH芯片的测试技术，具体涉及大容量FLASH芯片的测试技术。
技术介绍
FLASH芯片由于其存储可靠、成本低等优点得到大量的应用，为保证芯片能长期可靠的工作，FLASH存储芯片必须进行全面的测试。如，DQ25Q128AL是一款高速大容量Flash芯片，总容量为128Mbit，在前期测试评估中认为必须使用存储器专用测试机进行测试开发。由于存储器内每一个存储单元的改变都有可能影响存储器内部其它单元的变化，这种相关性的擦写、读取产生了巨大的测试工作量，因此，容量越大的FLASH芯片不仅测试时间长还对测试的资源有着更高的要求，普遍采用主流品牌存储器专用测试机利用ALPG(AlgorithmicPatternGenerator)算法图形生成器功能来实现相关擦写、读取测试。但现有的主流大容量存储器测试机，存在成本较高且兼容性较差的问题，现有的存储器专用测试机通常只定位于存储器测试，不能覆盖其它领域的产品测试，比如模拟产品的测试，整体可扩展性较差。若采用主流通用型测试机，其成本就更高。对此，中国国产的测试机还很少有切入存储器专用测试领域，比如御渡NST1625L测试机是一款中国国产混合信号测试机，有着较低的成本和较强的扩展兼容性，其矢量图形深度128M，但在配置上缺少ALPG(AlgorithmicPatternGenerator)算法图形生成器功能。
技术实现思路
针对现有大容量存储器测试方案存在成本高且扩展兼容性差的问题，需要一种低成本且具有高兼容性的大容量存储器测试方案。为此，本专利技术的目的在于提供一种提高矢量图形深度利用效率的大容量存储器测试方法，其能够在没有ALPG功能矢量图形深度不够的情况下完成对大容量存储器测试，同时具有较高的可扩展性。为了达到上述目的，本专利技术提供的提高矢量图形深度利用效率的大容量存储器测试方法，包括：对FLASH存储器的矢量图形进行分析，将存储器的擦写延时，重复读数据通过指令控制器实施单行压缩；对FLASH存储器的矢量图形进行分析，将存储器的规律读写数据通过指令控制器实施区块调用。进一步地，所述将存储器的擦写延时，重复读数据通过指令控制器实施单行压缩时，将操作指令连续没有变化的行通过矢量图形控制器的控制指令在矢量图形文件中将重复行压缩到一行，以释放矢量图形被占用的深度。进一步地，所述将存储器的规律读写数据通过指令控制器实施区块调用时，通过矢量图形控制器的控制指令可以反复调用矢量图形文件中规定位置的一段，以释放矢量图形被占用的深度。本专利技术提供的方案通过矢量图形的指令控制器的有效控制使图形深度得到有效扩展，能够在没有ALPG功能矢量图形深度不够的情况下完成对大容量存储器测试。再者，本专利技术提供的方案相对于现有采用昂贵具备ALPG功能的测试机的测试方案，测试成本大大降低；同时测试时间并不增加。附图说明以下结合附图和具体实施方式来进一步说明本专利技术。图1为本实例中存储器测试的输入信号和操作指令示例图；图2为本实例中输入间隔的规律性控制指令信号的示例图。具体实施方式为了使本专利技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体图示，进一步阐述本专利技术。本针对现有大容量FLASH存储器依靠专用测试机进行测试所存在成本高且扩展兼容性差的问题。本实例基于混合信号测试机御渡NST1625来实现在没有ALPG功能下来完成对128M大容量FLASH存储器的测试。本实例方案通过矢量图形的指令控制器的有效控制使图形深度得到有效扩展，由此实现在矢量图形深度不够的情况下如何实现大容量FLASH存储器测试。由于矢量图形文件有容量深度限制，NST1625设备的最大容量是128Mbit，文件的每一行将占用1bit，因此对操作指令分析后，通过矢量图形控制器利用重复执行和反复调用的手段，将行数有效压缩，这样矢量图形的深度将被有效扩展。据此，本实例在对128M大容量FLASH存储器进行测试时，主要包括如下步骤：(1)对FLASH存储器的矢量图形进行分析，将存储器的擦写延时，重复读数据通过指令控制器实施单行压缩。由于存储器测试基于主时钟管脚接收的时钟信号，每个管脚通过接收相应的数字信号来实现不同的存储器操作指令，这里的时钟信号和数字信号按相同的频率以0、1方式排列，这里的0、1的序列文件则形成矢量图形文件。本实例通过对存储器操作指令分析，作为举例，在写入操作指令后存储器需要等待3毫秒来完成写入过程，这时候时钟信号保持，其余信号维持相对状态，即没有01的变化，重复读取相同数据的指令同样操作。本步骤中在将存储器的擦写延时，重复读数据通过指令控制器实施单行压缩时，将操作指令连续没有变化的行通过矢量图形控制器的控制指令在矢量图形文件中将重复行压缩到一行，这样矢量图形的深度占用将被有效得以释放。(2)对FLASH存储器的矢量图形进行分析，将存储器的规律读写数据通过指令控制器实施区块调用。本步骤通过对存储器操作指令分析，作为举例，在有间隔规律写入或读取相同数据时，操作指令以有规律的多行组合形式出现并反复被实施。本步骤在将存储器的规律读写数据通过指令控制器实施区块调用时，通过矢量图形控制器的控制指令可以反复调用矢量图形文件中规定位置的一段，这样矢量图形的深度占用将被有效得以释放。本方案在具体实施时，存储器的擦写延时，重复读数据阶段测试机通过矢量图形不停向待测试芯片发送时钟信号，其余信号都保持同一状态，将时钟信号格式设置为RZ，如图1所示框内的信号将保持相同内容的重复行，可以通过指令控制器将重复行压缩为1行。由于矢量图形文件中在操作指令连续没有变化的情况下，这些行的0、1内容都是相同的，这时候可以通过控制器的控制指令将这些重复行进行重复次数的声明，并将多行内容压缩为一行，本来多行所占用的容量将得到节省。存储器的规律读写数据在测试中经常出现，比如棋盘格模式的读写，数据以0X55,0XAA的单位重复出现，如图2所示的区域1和区域2，可以将这些信号以有规律的多行组合形式出现的区块单独建立(如在矢量图形文件中声明一个位置，将该组合作为子程序形式建立)，通过指令控制器实施区块的反复调用，对矢量图形深度的占用起到大量压缩作用。由于矢量图形文件中有些操作指令以有规律的多行组合形式出现并反复被实施，则可通过控制器的控制指令将这些组合单独声明一个位置，然后通过指令反复调用，类似通用程序的子程序调用结构，这样原先反复出现的多行组合所占用的容量将得到节省。以下举例说明一下本方案的应用。例如，DQ25Q128AL是一款高速大容量Flash芯片，总容量为128Mbit，在前期测试评估中认为必须使用存储器专用测试机进行测试开发。由于现有NST1625设备没有ALPG配置，而矢量图形深度最大容量是128Mbit，文件的每一行将本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种提高矢量图形深度利用效率的大容量存储器测试方法，其特征在于，包括：/n对FLASH存储器的矢量图形进行分析，将存储器的擦写延时，重复读数据通过指令控制器实施单行压缩；/n对FLASH存储器的矢量图形进行分析，将存储器的规律读写数据通过指令控制器实施区块调用。/n

【技术特征摘要】
1.一种提高矢量图形深度利用效率的大容量存储器测试方法，其特征在于，包括：
对FLASH存储器的矢量图形进行分析，将存储器的擦写延时，重复读数据通过指令控制器实施单行压缩；
对FLASH存储器的矢量图形进行分析，将存储器的规律读写数据通过指令控制器实施区块调用。


2.根据权利要求1所述的大容量存储器测试方法，其特征在于，所述将存储器的擦写延时，重复读...

【专利技术属性】
技术研发人员：洪斌，顾秋华，张文德，
申请(专利权)人：上海仪电智能电子有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31