一种提高矢量图形深度利用效率的大容量存储器测试方法技术

本发明专利技术公开了一种提高矢量图形深度利用效率的大容量存储器测试方法，其包括：对FLASH存储器的矢量图形进行分析，将存储器的擦写延时，重复读数据通过指令控制器实施单行压缩；对FLASH存储器的矢量图形进行分析，将存储器的规律读写数据通过指令控制器实施区块调用。本发明专利技术提供的方案通过矢量图形的指令控制器的有效控制使图形深度得到有效扩展，能够在没有ALPG功能矢量图形深度不够的情况下完成对大容量存储器测试。

【技术实现步骤摘要】
一种提高矢量图形深度利用效率的大容量存储器测试方法
本专利技术涉及FLASH芯片的测试技术，具体涉及大容量FLASH芯片的测试技术。
技术介绍
FLASH芯片由于其存储可靠、成本低等优点得到大量的应用，为保证芯片能长期可靠的工作，FLASH存储芯片必须进行全面的测试。如，DQ25Q128AL是一款高速大容量Flash芯片，总容量为128Mbit，在前期测试评估中认为必须使用存储器专用测试机进行测试开发。由于存储器内每一个存储单元的改变都有可能影响存储器内部其它单元的变化，这种相关性的擦写、读取产生了巨大的测试工作量，因此，容量越大的FLASH芯片不仅测试时间长还对测试的资源有着更高的要求，普遍采用主流品牌存储器专用测试机利用ALPG(AlgorithmicPatternGenerator)算法图形生成器功能来实现相关擦写、读取测试。但现有的主流大容量存储器测试机，存在成本较高且兼容性较差的问题，现有的存储器专用测试机通常只定位于存储器测试，不能覆盖其它领域的产品测试，比如模拟产品的测试，整体可扩展性较差。若采用主流通用型测试机，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种提高矢量图形深度利用效率的大容量存储器测试方法，其特征在于，包括：/n对FLASH存储器的矢量图形进行分析，将存储器的擦写延时，重复读数据通过指令控制器实施单行压缩；/n对FLASH存储器的矢量图形进行分析，将存储器的规律读写数据通过指令控制器实施区块调用。/n

【技术特征摘要】
1.一种提高矢量图形深度利用效率的大容量存储器测试方法，其特征在于，包括：
对FLASH存储器的矢量图形进行分析，将存储器的擦写延时，重复读数据通过指令控制器实施单行压缩；
对FLASH存储器的矢量图形进行分析，将存储器的规律读写数据通过指令控制器实施区块调用。


2.根据权利要求1所述的大容量存储器测试方法，其特征在于，所述将存储器的擦写延时，重复读...

【专利技术属性】
技术研发人员：洪斌，顾秋华，张文德，
申请(专利权)人：上海仪电智能电子有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31