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本发明公开了一种提高矢量图形深度利用效率的大容量存储器测试方法，其包括：对FLASH存储器的矢量图形进行分析，将存储器的擦写延时，重复读数据通过指令控制器实施单行压缩；对FLASH存储器的矢量图形进行分析，将存储器的规律读写数据通过指令控制...
该专利属于上海仪电智能电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海仪电智能电子有限公司授权不得商用。

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