DDR芯片测试方法、装置、设备和计算机可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种DDR芯片测试方法、装置、设备和计算机可读存储介质。其中，DDR芯片测试方法包括：在检测到启动测试指令的情况下，向启动测试指令中的目标测试终端发送测试指令，以使目标测试终端根据测试指令执行上电及测试操作；获取目标测试终端在指定时间内的反馈信号，根据目标测试终端的反馈信号确定测试结果；按照预设通讯协议发送测试结果，测试结果用以指示DDR芯片的异常情况。本发明专利技术的DDR芯片测试方法能够防止因出现漏测以及筛选错误而影响芯片良率的问题，而且全自动化操作还能够节约人力、提高生产效率。

DDR chip test method, device, equipment and computer readable storage medium

【技术实现步骤摘要】
DDR芯片测试方法、装置、设备和计算机可读存储介质
本专利技术涉及芯片测试
，具体涉及一种DDR芯片测试方法、装置、设备和计算机可读存储介质。
技术介绍
DDR(DoubleDataRate，双倍速率同步动态随机存储器)芯片是一种应用在计算机及电子产品领域的一种高带宽并行数据总线，标准规定的DDR测试主要分为三个方面，分别为：功能测试、时序参数测试、电气性能测试。常用的测试方法一般为操作人员手动将DDR芯片安装到手机中，然后操作测试设备依次对每个手机中的DDR芯片进行开关机测试和功能测试，完成一个芯片的测试后，操作人员将其测试结果记录下来，待下一工位再人工将合格和不合格的DDR芯片进行区分，以将其中测试合格的DDR芯片筛选出来。采用人工检测和筛选合格芯片的过程，容易出现漏测、漏记等情况，从而影响筛选出来的合格DDR芯片的良率。
技术实现思路
本专利技术的主要目的是提出一种DDR芯片测试方法，旨在解决因人工检测DDR芯片而导致产品良率较低的技术问题。为实现上述目的，本专利技术提出一种DDR芯片测试方法，该DDR芯片测试方法包括：在检测到启动测试指令的情况下，向所述启动测试指令中的目标测试终端发送测试指令，以使安装有DDR芯片的所述目标测试终端根据所述测试指令执行上电及测试操作；获取所述目标测试终端在指定时间内的反馈信号，根据所述目标测试终端的反馈信号确定测试结果；按照预设通讯协议发送所述测试结果，所述测试结果用以指示所述DDR芯片的异常情况。r>优选地，所述获取所述目标测试终端在指定时间内的反馈信号，根据所述目标测试终端的反馈信号确定测试结果包括：若在指定时间内未接收到所述目标测试终端反馈的第一串口信号，或仅接收到所述目标测试终端反馈的第一串口信号未接收到第二串口信号，则判定所述DDR芯片的测试结果为异常；若在指定时间内接收到所述目标测试终端反馈的第一串口信号和第二串口信号，则对所述第二串口信号进行解析并得到测试结果。优选地，所述指定时间包括第一指定时间和第二指定时间，则所述获取所述目标测试终端在指定时间内的反馈信号，根据所述目标测试终端的反馈信号确定测试结果包括：若在第一指定时间内未接收到所述目标测试终端反馈的第一串口信号，则判定所述DDR芯片的测试结果为异常；若在第一指定时间内接收到所述目标测试终端反馈的第一串口信号，则继续检测在第二时间内所述目标测试终端的反馈情况；若在第二指定时间内未接收到所述目标测试终端反馈的第二串口信号，则判定所述DDR芯片的测试结果为异常；若在第二指定时间内接收到所述目标测试终端反馈的第二串口信号，则对所述第二串口信号进行解析并得到测试结果。优选地，所述对所述第二串口信号进行解析并得到测试结果包括：对所述第二串口信号的尾数进行解析；若所述尾数为指定数值，则判定所述DDR芯片测试结果为正常；若所述尾数非指定数值，则判定所述DDR芯片测试结果为异常。优选地，DDR芯片测试方法还包括：分别对正常和异常的测试结果进行统计；当同一目标测试终端出现异常的测试结果超过预设次数时，发出对所述目标测试终端进行检测的警报信息。优选地，所述根据所述目标测试终端的反馈信号确定测试结果之后，还包括：发送停止检测指令给所述目标测试终端，以使所述目标测试终端执行断电操作。本专利技术还提出一种DDR芯片测试装置，该DDR芯片测试装置包括：启动测试模块，用于在检测到启动测试指令的情况下，向所述启动测试指令中的目标测试终端发送测试指令，以使安装有DDR芯片的所述目标测试终端根据所述测试指令执行上电及测试操作；结果判定模块，用于获取所述目标测试终端在指定时间内的反馈信号，根据所述目标测试终端的反馈信号确定测试结果；结果输出模块，用于按照预设通讯协议发送所述测试结果，所述测试结果用以指示所述DDR芯片的异常情况。优选地，所述结果判定模块包括：异常结果判定单元，用于当在指定时间内未接收到所述目标测试终端反馈的第一串口信号，或仅接收到所述目标测试终端反馈的第一串口信号未接收到第二串口信号时，判定所述DDR芯片的测试结果为异常；信号解析单元，用于当在指定时间内接收到所述目标测试终端反馈的第一串口信号和第二串口信号时，对所述第二串口信号进行解析并得到测试结果。本专利技术还提出一种DDR芯片测试设备，该DDR芯片测试设备包括：存储器，用于存储计算机程序；处理器，用于执行所述计算机程序时至少实现如下所述DDR芯片测试方法的步骤：在检测到启动测试指令的情况下，向所述启动测试指令中的目标测试终端发送测试指令，以使安装有DDR芯片的所述目标测试终端根据所述测试指令执行上电及测试操作；获取所述目标测试终端在指定时间内的反馈信号，根据所述目标测试终端的反馈信号确定测试结果；按照预设通讯协议发送所述测试结果，所述测试结果用以指示所述DDR芯片的异常情况。本专利技术还提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时至少实现如下所述DDR芯片测试方法的步骤：在检测到启动测试指令的情况下，向所述启动测试指令中的目标测试终端发送测试指令，以使安装有DDR芯片的所述目标测试终端根据所述测试指令执行上电及测试操作；获取所述目标测试终端在指定时间内的反馈信号，根据所述目标测试终端的反馈信号确定测试结果；按照预设通讯协议发送所述测试结果，所述测试结果用以指示所述DDR芯片的异常情况。本专利技术实施例与现有技术相比，其有益效果在于：通过测试电脑中安装的通讯软件实现工控电脑和测试主板之间的信息传递，形成闭环控制，工控电脑能及时获取测试主板反馈的每一次测试的结果，还可根据测试结果对应控制机械手对不同测试结果的DDR芯片进行筛选，相较人工检测和筛选操作来说，本专利技术的DDR芯片测试方法能够防止漏测以及筛选错误影响芯片良率等问题，而且全自动化操作还能够节约人力、提高生产效率。附图说明图1为本专利技术的DDR芯片测试方法在一实施例中的步骤流程图；图2为本专利技术的DDR芯片测试方法在又一实施例中的步骤流程图；图3为本专利技术的DDR芯片测试方法在又一实施例中的步骤流程图；图4为本专利技术的DDR芯片测试装置在一实施例中的功能模块图；图5为本专利技术的DDR芯片测试装置在又一实施例中的功能模块图。具体实施方式下面将详细描述本专利技术的实施例，实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同标号表示相同的元件或具有相同功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制，基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。如图1所示，本专利技术提出一种DDR芯片测试方法，在一实施方式中，该DD本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种DDR芯片测试方法，其特征在于，包括：/n在检测到启动测试指令的情况下，向所述启动测试指令中的目标测试终端发送测试指令，以使安装有DDR芯片的所述目标测试终端根据所述测试指令执行上电及测试操作；/n获取所述目标测试终端在指定时间内的反馈信号，根据所述目标测试终端的反馈信号确定测试结果；/n按照预设通讯协议发送所述测试结果，所述测试结果用以指示所述DDR芯片的异常情况。/n

【技术特征摘要】
1.一种DDR芯片测试方法，其特征在于，包括：
在检测到启动测试指令的情况下，向所述启动测试指令中的目标测试终端发送测试指令，以使安装有DDR芯片的所述目标测试终端根据所述测试指令执行上电及测试操作；
获取所述目标测试终端在指定时间内的反馈信号，根据所述目标测试终端的反馈信号确定测试结果；
按照预设通讯协议发送所述测试结果，所述测试结果用以指示所述DDR芯片的异常情况。


2.根据权利要求1所述的DDR芯片测试方法，其特征在于，所述获取所述目标测试终端在指定时间内的反馈信号，根据所述目标测试终端的反馈信号确定测试结果包括：
若在指定时间内未接收到所述目标测试终端反馈的第一串口信号，或仅接收到所述目标测试终端反馈的第一串口信号未接收到第二串口信号，则判定所述DDR芯片的测试结果为异常；
若在指定时间内接收到所述目标测试终端反馈的第一串口信号和第二串口信号，则对所述第二串口信号进行解析并得到测试结果。


3.根据权利要求1所述的DDR芯片测试方法，其特征在于，所述指定时间包括第一指定时间和第二指定时间，则所述获取所述目标测试终端在指定时间内的反馈信号，根据所述目标测试终端的反馈信号确定测试结果包括：
若在第一指定时间内未接收到所述目标测试终端反馈的第一串口信号，则判定所述DDR芯片的测试结果为异常；
若在第一指定时间内接收到所述目标测试终端反馈的第一串口信号，则继续检测在第二时间内所述目标测试终端的反馈情况；
若在第二指定时间内未接收到所述目标测试终端反馈的第二串口信号，则判定所述DDR芯片的测试结果为异常；
若在第二指定时间内接收到所述目标测试终端反馈的第二串口信号，则对所述第二串口信号进行解析并得到测试结果。


4.根据权利要求2或3所述的DDR芯片测试方法，其特征在于，所述对所述第二串口信号进行解析并得到测试结果包括：
对所述第二串口信号的尾数进行解析；
若所述尾数为指定数值，则判定所述DDR芯片测试结果为正常；
若所述尾数非指定...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘冲，李振华，
申请(专利权)人：深圳佰维存储科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44