【技术实现步骤摘要】
一种使用方便的电子元器件测试装置
本技术涉及电子元器件测试设备
,具体为一种使用方便的电子元器件测试装置。
技术介绍
电子元器件是电子元件和电小型的机器、仪器的组成部分,电子元器件包括:电阻、电容器、集成电路、半导体、二极管等,随着社会进步和科学技术的不断发展,电子产品已经成为人们生活中必不可少的生活用品,给人们的生活带来极大的便利,在电子设备中,集成电路通常制作成电路板芯片,该芯片是设备中非常重要的一个部件,在电路板未通电前,需要对电路板芯片进行检测,检测电路板芯片每个引脚的连通性是否正常,进而将电路不连通的生产不合格的芯片排除或返修。现有技术中,针对不同类型的芯片,采用不同型号的IC测试座进行检测,一般流程为:操作人员将芯片带有引脚的待测部位向下放入测试座内,然后盖上盒盖并锁死进行检测,检测完成后打开盒盖并从测试座内取出,存在着操作麻烦,效率不高的问题,且操作人员长时间工作后,对手指伤害较大,为此提供一种使用方便的电子元器件测试装置,以解决上述问题。
技术实现思路
本技术的目的在于提 ...
【技术保护点】
1.一种使用方便的电子元器件测试装置,包括测试座盒体(1),所述测试座盒体(1)通过铰链(2)与检测盖(3)铰接,所述检测盖(3)中部一体式设有压板(31),其特征在于:所述测试座盒体(1)左右两侧对称的设有指槽(4),所述测试座盒体(1)空腔内侧壁滑动连接有承载台(5),所述承载台(5)底部四角均开设有凹槽(51),所述凹槽(51)内设有升降杆(6),所述升降杆(6)远离凹槽(51)一端贯穿基座筒(7)上端中部通孔与支撑板(8)上端固定连接,所述支撑板(8)下方设有弹簧(9),且支撑板(8)和弹簧(9)均位于基座筒(7)内,所述基座筒(7)底部固定连接在测试座盒体(1)的 ...
【技术特征摘要】
1.一种使用方便的电子元器件测试装置,包括测试座盒体(1),所述测试座盒体(1)通过铰链(2)与检测盖(3)铰接,所述检测盖(3)中部一体式设有压板(31),其特征在于:所述测试座盒体(1)左右两侧对称的设有指槽(4),所述测试座盒体(1)空腔内侧壁滑动连接有承载台(5),所述承载台(5)底部四角均开设有凹槽(51),所述凹槽(51)内设有升降杆(6),所述升降杆(6)远离凹槽(51)一端贯穿基座筒(7)上端中部通孔与支撑板(8)上端固定连接,所述支撑板(8)下方设有弹簧(9),且支撑板(8)和弹簧(9)均位于基座筒(7)内,所述基座筒(7)底部固定连接在测试座盒体(1)的空腔底面,所述承载台(5)空腔内侧壁滑动连接有检测板(10),所述检测板(10)上设有检测顶针(11),且检测板(10)下端固定连接有检测仪器(12),所述承载台(5)上端放置有电子元器件(13)。
2.根据权利要求1所述的一种使用方便的电...
【专利技术属性】
技术研发人员:孟召阳,
申请(专利权)人:福州拓威电子科技有限公司,
类型:新型
国别省市:福建;35
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