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本实用新型涉及电子元器件测试设备技术领域，具体为一种使用方便的电子元器件测试装置，包括测试座、铰链与检测盖，检测盖中部设有压板，测试座上设有指槽，测试座滑动连接有承载台，承载台底部设有凹槽，凹槽内设有升降杆，升降杆与支撑板固定连接，支撑板下...
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