【技术实现步骤摘要】
阵列基板及其制作方法
本专利技术涉及显示领域,尤其涉及一种阵列基板及其制作方法。
技术介绍
如图1所示,为现有的一种背沟道刻蚀型阵列基板90的结构示意图,其包括有源层91以及位于有源层91上的源漏极层92,源漏极层92的结构普遍采用从下至上依次层叠设置的下阻隔层921、导电层922和上阻隔层923的三明治结构,其中导电层的922材质优选为铜,上阻隔层923主要是防止后续SiOx成膜进行高温处理以及N2O处理时导致导电层的严重氧化,下阻隔层921也起到防止铜扩散到阵列基板沟道中的作用。上阻隔层923通常采用金属或合金,但因上阻隔层923与光刻胶93黏附性不佳,会导致光刻胶93与上阻隔层923边缘产生翘起,在上阻隔层923刻蚀时会在光刻胶93翘起部位被刻蚀,导致上阻隔层923内缩。如图2所示,为实际制作时上阻隔层923内缩的阵列基板90的结构示意图,导致无法有效防止导电层922被氧化。目前业界通常采取更换光刻胶93的方式解决此问题,但此种方法光刻胶93材料的成本高,产能损失较大。
技术实现思路
本专利 ...
【技术保护点】
1.一种阵列基板的制作方法,其特征在于,包括制作源漏极层步骤,所述源漏极层包括从下至上依次层叠设置的下阻隔层、导电层以及上阻隔层,所述制作源漏极层步骤包括:/n上阻隔层亲油性处理,对所述上阻隔层进行清洗将其上表面的亲水性改变为亲油性;以及/n制作光阻层,在所述上阻隔层上通过涂布光刻胶的方式制作光阻层,所述光阻层与所述上阻隔层完全贴附。/n
【技术特征摘要】
1.一种阵列基板的制作方法,其特征在于,包括制作源漏极层步骤,所述源漏极层包括从下至上依次层叠设置的下阻隔层、导电层以及上阻隔层,所述制作源漏极层步骤包括:
上阻隔层亲油性处理,对所述上阻隔层进行清洗将其上表面的亲水性改变为亲油性;以及
制作光阻层,在所述上阻隔层上通过涂布光刻胶的方式制作光阻层,所述光阻层与所述上阻隔层完全贴附。
2.根据权利要求1所述的阵列基板的制作方法,其特征在于,在所述上阻隔层亲油性处理步骤之前还包括:
制作下阻隔层;
制作导电层,在所述下阻隔层上制作导电层;以及
制作上阻隔层,在所述导电层上制作上阻隔层。
3.根据权利要求1所述的阵列基板的制作方法,其特征在于,在所述制作源漏极层步骤之前还包括:
制作衬底基板;以及
制作半导体层,在所述衬底基板上制作半导体层;在所述半导体层上制作所述下阻隔层。
4.根据权利要求1所述的阵列基板的制作方法,其特征在于,在所述制作光阻层步骤之后还包括:
光阻层图案化,通过刻蚀所述光阻层形成图案化的光阻层。
5.根据权利要求4所述的阵列基板的...
【专利技术属性】
技术研发人员:郑立彬,刘晓伟,
申请(专利权)人:深圳市华星光电半导体显示技术有限公司,
类型:发明
国别省市:广东;44
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