晶圆处理设备制造技术

技术编号:23537356 阅读:59 留言:0更新日期:2020-03-20 10:12
本实用新型专利技术涉及一种晶圆处理设备,所述晶圆处理设备包括机械手和机械手清洗装置,所述机械手清洗装置包括:清洗容器,所述清洗容器具有一允许机械手进出的开口;供气单元,包括至少一个气体输入端和至少一个气体输出端,分别连通至所述清洗容器,所述气体输入端用于向所述清洗容器内通入气体,所述气体输出端用于排出所述清洗容器内的气体;供液单元,包括至少一个液体输入端和至少一个液体输出端,分别连通至所述清洗容器,所述液体输入端用于向所述清洗容器内通入液体,所述液体输出端用于排出所述清洗容器内的液体。上述晶圆处理设备的机械手清洗装置能够及时去除机械手上的污染物。

wafer processing equipment

【技术实现步骤摘要】
晶圆处理设备
本技术涉及半导体设备领域,尤其涉及一种晶圆处理设备。
技术介绍
目前的晶圆处理机台在工艺过程中,会使用机械手传输晶圆。晶圆与机械手的主要接触位置是晶圆的边缘位置。根据长期工艺处理的经验和结果发现,晶圆的边缘区域经常会出现材料层剥离的情况,剥落的颗粒很容易沾污机台内机械手,进而对其他进入机台做工艺处理的晶圆有一定的沾污风险,因此机台需要经常性的做维护(PM)。每次维护的过程需要进行机台各部分进行装卸、清洗、监测,监测合格方可投入正常使用,这些步骤也导致了机台每次维护所用时间较长,减少了机台的产能。如何减少机械手在传输晶圆的过程中被沾污的可能性,从而减少机台维护时间,提高产能,是目前亟待解决的问题。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种晶圆处理设备,避免机械手对晶圆造成污染,提高晶圆处理设备的产能。为了解决上述问题,本技术提供了一种晶圆处理设备,包括一机械手以及机械手清洗装置,其中,所述机械手清洗装置包括:清洗容器,所述清洗容器具有一允许机械手进出的开口;供气单元,包括至少一个气体输入端和至本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种晶圆处理设备,其特征在于,包括一机械手以及机械手清洗装置,其中,所述机械手清洗装置包括:/n清洗容器,所述清洗容器具有一允许机械手进出的开口;/n供气单元,包括至少一个气体输入端和至少一个气体输出端,分别连通至所述清洗容器,所述气体输入端用于向所述清洗容器内通入气体,所述气体输出端用于排出所述清洗容器内的气体;/n供液单元,包括至少一个液体输入端和至少一个液体输出端,分别连通至所述清洗容器,所述液体输入端用于向所述清洗容器内通入液体,所述液体输出端用于排出所述清洗容器内的液体。/n

【技术特征摘要】
1.一种晶圆处理设备,其特征在于,包括一机械手以及机械手清洗装置,其中,所述机械手清洗装置包括:
清洗容器,所述清洗容器具有一允许机械手进出的开口;
供气单元,包括至少一个气体输入端和至少一个气体输出端,分别连通至所述清洗容器,所述气体输入端用于向所述清洗容器内通入气体,所述气体输出端用于排出所述清洗容器内的气体;
供液单元,包括至少一个液体输入端和至少一个液体输出端,分别连通至所述清洗容器,所述液体输入端用于向所述清洗容器内通入液体,所述液体输出端用于排出所述清洗容器内的液体。


2.根据权利要求1所述的晶圆处理设备,其特征在于,所述供气单元包括一个气体输入端和一个气体输出端,所述气体输入端用于连接至氮气源。


3.根据权利要求1所述的晶圆处理设备,其特征在于,所述供液单元包括一个液体输入端和一个液体输出端,所述液体输入端用于连接至去离子水源。


4.根据权利要求1所述的晶圆处理设备,其特征在于,所述清洗容器内设置有传感单元,用于检测是否有机械手进入所述清洗容器内;所述传感单元包括传感器。


5.根据权利要求4所述的晶圆处理设备,其特征在于,所述开口设置于所述清洗容器的顶部,所述传感器设置于所述清洗容器的底部,与所述开口位置相对。

【专利技术属性】
技术研发人员:张杰真刘命江方桂芹
申请(专利权)人:德淮半导体有限公司
类型:新型
国别省市:江苏;32

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