【技术实现步骤摘要】
存储器测试方法与存储器测试系统
本专利技术涉及一种存储器测试方法与存储器测试系统。
技术介绍
数码相机、移动电话与MP3播放器在这几年来的成长十分迅速，使得消费者对存储媒体的需求也急速增加。由于可复写式非易失性存储器模块(例如，快闪存储器)具有数据非易失性、省电、体积小，以及无机械结构等特性，所以非常适合内建于上述所举例的各种可携式多媒体装置中。特别是，在生产具有可复写式非易失性存储器模块的存储装置时，存储装置的制造商(或可复写式非易失性存储器模块的供应商)例如会对大量的可复写式非易失性存储器模块进行测试与分类。举例来说，若一可复写式非易失性存储器模块欲被用来配置在较高阶的存储装置(例如，固态硬盘(Solid-StateDrive，SSD)或支持PCIe的存储装置)中，则该可复写式非易失性存储器模块需达到较严谨的条件(例如，可支持的最高时脉高于一特定门槛值、损坏的物理程序化单元的数量少于一特定门槛值)。相对来说，若一可复写式非易失性存储器模块欲被用来配置在较低阶的存储装置(例如，通用串行总线(UniversalSerialBus，USB)的存储装置或安全数字卡(SecureDigitalCard，SDCard))中，则该可复写式非易失性存储器模块则可以不需要达到如前述严谨的条件。一般来说，判断一个可复写式非易失性存储器模块是否适用于高阶的存储装置的测试流程与判断一个可复写式非易失性存储器模块是否适用于低阶的存储装置的测试流程两者是分开且相互独立的。因此，如何整合前述两个测试流程以快速并且准确地判断一可...
【技术保护点】
1.一种存储器测试方法，用于存储器测试系统，所述存储器测试系统包括主机系统以及测试装置，所述主机系统包括处理器，所述测试装置用以电性连接至所述主机系统以及可复写式非易失性存储器模块，所述存储器测试方法包括：/n通过所述测试装置中对应于第一类存储器存储装置的第一存储器控制电路单元测试所述可复写式非易失性存储器模块以获得第一测试信息；/n通过所述测试装置中对应于第二类存储器存储装置的第二存储器控制电路单元根据所述第一测试信息测试所述可复写式非易失性存储器模块以获得第二测试信息；以及/n根据所述第一测试信息以及所述第二测试信息，通过所述处理器判断所述可复写式非易失性存储器模块是否适用于所述第二类存储器存储装置，其中所述第一类存储器存储装置不同于所述第二类存储器存储装置。/n
【技术特征摘要】
1.一种存储器测试方法，用于存储器测试系统，所述存储器测试系统包括主机系统以及测试装置，所述主机系统包括处理器，所述测试装置用以电性连接至所述主机系统以及可复写式非易失性存储器模块，所述存储器测试方法包括：
通过所述测试装置中对应于第一类存储器存储装置的第一存储器控制电路单元测试所述可复写式非易失性存储器模块以获得第一测试信息；
通过所述测试装置中对应于第二类存储器存储装置的第二存储器控制电路单元根据所述第一测试信息测试所述可复写式非易失性存储器模块以获得第二测试信息；以及
根据所述第一测试信息以及所述第二测试信息，通过所述处理器判断所述可复写式非易失性存储器模块是否适用于所述第二类存储器存储装置，其中所述第一类存储器存储装置不同于所述第二类存储器存储装置。
2.根据权利要求1所述的存储器测试方法，所述方法还包括：
当根据所述第一测试信息判断所述可复写式非易失性存储器模块不符合至少一第一条件且根据所述第二测试信息判断所述可复写式非易失性存储器模块符合至少一第二条件时，通过所述处理器判断所述可复写式非易失性存储器模块适用于所述第二类存储器存储装置。
3.根据权利要求2所述的存储器测试方法，所述方法还包括：
当根据所述第一测试信息判断所述可复写式非易失性存储器模块不符合所述第一条件且根据所述第二测试信息判断所述可复写式非易失性存储器模块不符合所述第二条件时，通过所述处理器判断所述可复写式非易失性存储器模块不适用于所述第二类存储器存储装置。
4.根据权利要求1所述的存储器测试方法，其中通过所述测试装置中对应于所述第一类存储器存储装置的所述第一存储器控制电路单元测试所述可复写式非易失性存储器模块以获得所述第一测试信息的步骤之前，所述方法还包括：
通过所述测试装置中对应于所述第二类存储器存储装置的所述第二存储器控制电路单元测试所述可复写式非易失性存储器模块以获得第三测试信息；
当根据所述第三测试信息判断所述可复写式非易失性存储器模块符合第三条件时，根据所述第三测试信息执行通过所述测试装置中对应于所述第一类存储器存储装置的所述第一存储器控制电路单元测试所述可复写式非易失性存储器模块以获得所述第一测试信息的步骤；以及
当根据所述第三测试信息判断所述可复写式非易失性存储器模块不符合所述第三条件时，通过所述处理器判断所述可复写式非易失性存储器模块不适用于所述第二类存储器存储装置。
5.根据权利要求4所述的存储器测试方法，其中所述可复写式非易失性存储器模块包括多个物理抹除单元，所述多个物理抹除单元中的每一个物理抹除单元包括多个物理程序化单元，
所述第一测试信息包括第一编码操作的至少一编码信息以及所述第一存储器控制电路单元根据第一时脉以及所述多个物理程序化单元中的第一物理程序化单元的数据执行所述第一编码操作所产生的第一错误检查与更正码的至少其中之一。
6.根据权利要求5所述的存储器测试方法，其中
所述第三测试信息包括所述多个物理抹除单元中至少一损坏的物理抹除单元在所述可复写式非易失性存储器模块中的分布位置、所述损坏的物理抹除单元的数量、所述第二存储器控制电路单元在测试所述可复写式非易失性存储器模块时所述可复写式非易失性存储器模块所能达到的最高时脉以及所述第二存储器控制电路单元根据一第二时脉以及所述多个物理程序化单元中的第二物理程序化单元的数据执行第二编码操作所产生的第二错误检查与更正码的至少其中之一，
其中所述第一时脉高于所述第二时脉且所述第一编码操作不同于所述第二编码操作。
7.根据权利要求6所述的存储器测试方法，其中通过所述第一存储器控制电路单元测试所述可复写式非易失性存储器模块以获得所述第一测试信息的步骤包括：
通过所述第一存储器控制电路单元根据所述第三测试信息识别所述多个物理抹除单元中所述损坏的物理抹除单元以外的其他损坏的物理抹除单元；以及
通过所述处理器记录对应于所述其他损坏的物理抹除单元的标记于查找表中，并将所述查找表存储至所述可复写式非易失性存储器模块中。
8.根据权利要求4所述的存储器测试方法，其中所述第三测试信息包括所述第二存储器控制电路单元分别对所述可复写式非易失性存储器模块中的多个第一数据分别执行第二编码操作后所产生的多个第三错误检查与更正码，所述方法还包括：
通过所述第二存储器控制电路单元根据所述多个第三错误检查与更正码判断所述多个第一数据的其中之一是否存在无法被更正的错误比特；
当通过所述第二存储器控制电路单元根据所述多个第三错误检查与更正码判断所述多个第一数据的其中之一存在无法被更正的错误比特时，通过所述第一存储器控制电路单元测试所述可复写式非易失性存储器模块以获得所述第一测试信息的步骤包括：
通过所述第一存储器控制电路单元对所述可复写式非易失性存储器模块中的所述多个第一数据执行第一编码操作以产生第四错误检查与更正码，并根据所述第四错误检查与更正码判断所述多个第一数据的其中之一是否存在无法被更正的错误比特；以及
当通过所述第二存储器控制电路单元根据所述多个第三错误检查与更正码判断所述多个第一数据的其中之一没有存在无法被更正的错误比特时，通过所述第一存储器控制电路单元测试所述可复写式非易失性存储器模块以获得所述第一测试信息的步骤包括：
不通过所述第一存储器控制电路单元执行对所述可复写式非易失性存储器模块中的所述多个第一数据执行所述第一编码操作以产生所述第四错误检查与更正码并根据所述第四错误检查与更正码判断所述多个第一数据的其中之一是否存在无法被更正的错误比特的步骤。
9.根据权利要求1所述的存储器测试方法，其中所述测试装置还包括第一切换电路以及第二切换电路，所述第一存储器控制电路单元电性连接至所述第一切换电路以及所述第二切换电路，所述第二存储器控制电路单元电性连接至所述第一切换电路以及所述第二切换电路，所述第一切换电路电性连接至所述主机系统，且所述第二切换电路电性连接至所述可复写式非易失性存储器模块。
10.根据权利要求9所述的存储器测试方法，其中所述第一存储器控制电路单元通过指令转换器电性连接至所述第一切换电路。
11.根据权利要求1所述的存储器测试方法，其中所述第一类存储器存储装置为固态硬盘或支持PCIe的存储装置...
【专利技术属性】
技术研发人员：林小东，邱智鸿，罗焜聪，张朝凯，
申请(专利权)人：群联电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71
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