存储器芯片及其数据处理电路和数据处理方法技术

本发明专利技术公开了一种存储器芯片及其数据处理电路和数据处理方法，设置存储器芯片内置的数据处理电路包括数据图形产生器、并串转换电路以及端口驱动模块。在测试模式下，数据图形产生器自动启动预设测试命令，基于预设测试命令产生测试数据，测试数据通过并串转换电路进行并串转换生成第一数据信号，第一数据信号用于控制端口驱动模块输出第一结果，基于第一结果监测存储器芯片的功耗参数。无需提前写入数据，缩短了测试时间；而且测试采样区间不受数据最大地址上限的限制，降低了测试难度，有利于提高测试精度。

Memory chip and its data processing circuit and data processing method

【技术实现步骤摘要】
存储器芯片及其数据处理电路和数据处理方法
本专利技术涉及存储器芯片
，更具体的说，涉及一种存储器芯片及其数据处理电路和数据处理方法。
技术介绍
随着科学技术的不断发展，越来越多的电子设备被广泛的应用于人们的日常生活以及工作当中，为人们的日常生活以及工作带来了巨大的便利，成为当今人们不可或缺的重要工具。存储器芯片是电子设备的一个重要电子元件。存储器芯片需要内置电路用于进行功耗测试。参考图1和图2所示，图1为现有存储器芯片进行功耗测试时的测试系统电路图，图2为存储器芯片中用于进行功耗测试的内置电路的示意图，对存储器芯片进行功耗测试时，需要通过测试机11对存储器芯片12进行控制和供电，及接收存储器芯片12的输出数据，进行处理判断，以确认其功耗。测试机11可以控制存储器芯片12工作在不同的测试模式，以测量存储器芯片12的平均功耗。其中，测试机11包括：电源模块111，用于为存储器芯片12供电；控制模块112，用于为存储器芯片12进行命令输入；数据处理模块113，用于获取存储器芯片12的数据输出，并进行数据处理，以获取功耗数据。存储器芯片1本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种存储器芯片的数据处理电路，其特征在于，包括：/n数据图形产生器、并串转换电路以及端口驱动模块；/n在测试模式下，所述数据图形产生器用于自动启动预设测试命令，基于所述预设测试命令产生测试数据，所述测试数据通过所述并串转换电路进行并串转换生成第一数据信号，所述第一数据信号用于控制所述端口驱动模块输出第一结果，基于所述第一结果监测所述存储器芯片的功耗参数。/n

【技术特征摘要】
1.一种存储器芯片的数据处理电路，其特征在于，包括：
数据图形产生器、并串转换电路以及端口驱动模块；
在测试模式下，所述数据图形产生器用于自动启动预设测试命令，基于所述预设测试命令产生测试数据，所述测试数据通过所述并串转换电路进行并串转换生成第一数据信号，所述第一数据信号用于控制所述端口驱动模块输出第一结果，基于所述第一结果监测所述存储器芯片的功耗参数。


2.根据权利要求1所述的数据处理电路，其特征在于，还包括：灵敏放大电路；
在数据读取模式下，存储阵列中的存储数据依次通过所述灵敏放大电路的放大和所述并串转换电路进行并串转换生成第二数据信号，所述第二数据信号用于控制所述端口驱动模块输出第二结果，所述第二结果用于表征所述存储数据。


3.根据权利要求2所述的数据处理电路，其特征在于，所述数据图形产生器以及所述灵敏放大电路通过同一双路选通器与所述并串转换电路连接；
其中，所述双路选通器的第一输入端连接所述数据图形产生器，所述双路选通器的第二输入端连接所述灵敏放大电路，所述双路选通器的输出端与所述并串转换电路的输入端连接。


4.根据权利要求2所述的数据处理电路，其特征在于，所述灵敏放大电路包括：第一MOS管、第二MOS管、第三MOS管、存储电容以及锁存器；
所述第一MOS管的控制电极用于输入第一控制信号，其第一电极连接电源，其第二电极连接公共节点；
所述第二MOS管的控制电极用于输入第二控制信号，其第一电极连接所述公共节点，其第二电极连接所述第三MOS管的第一电极；
所述第三MOS管的控制电极用于输入第三控制信号，其第二电极用于连接所述存储阵列；
所述存储电容的一个极板连接所述公共节点，另一个极板接地；
所述锁存器的输入端连接所述公共节点，其输出端用于输出放大后的存储数据。


5.根据权利要求3所述的数据处理电路，其特征在于，还包括：逻辑控制器；
在测试模式下，所述逻辑控制器用于执行测试指令，以控制所述双路选通器的第一输入端与所述双路选通器的输出端导通，并控制所述并串转换电路以及所述端口驱动模块开启，以使得所...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨诗洋，王颀，刘飞，霍宗亮，
申请(专利权)人：中国科学院微电子研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11