一种存储设备掉电测试方法、装置及系统制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种存储设备掉电测试方法，包括以下步骤：A1、向待测试的存储设备的至少两个不同的预设存储区域，分别写入两种不同的预设特征数据；B1、在写入特征数据的同时，监测存储设备的数据存储状态，并当所述存储设备的存储状态为第一状态时，切断对所述存储设备的供电，并将至少一个预设存储区域作为掉电测试区域；C1、恢复对所述存储设备的供电后，将至少两个不同的预设存储区域中的至少一个中所存储的数据，与对应该预设存储区域中的预设特征数据进行对比。本发明专利技术测试方法能够获取存储设备对数据的处理状态，进而根据其执行掉电策略来测试对应的设备掉电保护策略，测试覆盖面更广。

【技术实现步骤摘要】
一种存储设备掉电测试方法、装置及系统
本专利技术涉及存储设备测试方法，特别涉及一种存储设备掉电测试方法、装置及系统。
技术介绍
对于存储设备而言，保证数据的可靠存储与稳定性是其功能属性中的重点，而异常掉电测试就是验证其数据存储可靠度的一个重要场景。当发生异常掉电时，若存储设备的掉电保护策略设计不当，往往会造成大量的数据丢失，从而给存储设备的提供者与使用者带来巨大的经济损失。在现有的存储测试掉电测试方案中，虽然测试方案多样，如引入测试系统、掉电时间随机或函数增长等，但其在进行掉电时，都是系统整机的掉电，不能根据不同的数据处理状态来分析制定掉电保护策略。
技术实现思路
为了解决现有技术中，针对存储器的测试采用系统整机掉电的方法，不能根据不同的数据处理状态来分析制定掉电保护策略的问题，本专利技术提出一种存储设备掉电测试方法、装置及系统。第一，本专利技术提出一种存储设备掉电测试方法，包括以下步骤：A1、向待测试的存储设备的至少两个不同的预设存储区域，分别写入两种不同的预设特征数据；B1、在写入特征数据的同时，监测存储设备的数据存储状态，并当所述存储设备的存储状态为第一状态时，切断对所述存储设备的供电，并将至少一个预设存储区域作为掉电测试区域；C1、恢复对所述存储设备的供电后，将至少两个不同的预设存储区域中的至少一个中所存储的数据，与对应该预设存储区域中的预设特征数据进行对比。第二，本专利技术提出一种存储设备掉电测试方法，包括以下步骤：A2、建立待测试的存储设备的数据与存储区域的预设的映射关系，并按照所述预设的映射关系将特征数据写入到所述存储设备中相应的存储区域中，其中，向所述存储设备的第一预设存储区域写入第一特征数据，向所述存储设备的第二预设存储区域写入第二特征数据，并向所述存储设备的第三预设存储区域写入第三特征数据；B2、在写入特征数据的同时，监测存储设备的数据存储状态，并当所述存储设备的存储状态为第一状态时，切断对所述存储设备的供电，并将第一预设存储区域、第二预设存储区域和第三预设存储区域中的至少一个作为掉电测试区域；C2、恢复对所述存储设备的供电后，寻找所述存储设备中是否存在与所述第一特征数据、第二特征数据以及第三特征数据均不同的数据；并检查恢复供电后，检测待测试的存储设备中的数据与存储区域的映射关系是否符合所述预设的映射关系。进一步，在本专利技术提出的上述方法中，在步骤A2前，还包括以下步骤：在所述待测试的存储设备上设置信号引脚。进一步，在本专利技术提出的上述方法中，当所述信号引脚的电平由高变低时，所述存储设备的状态为第一状态。进一步，在本专利技术提出的上述方法中，切断对所述存储设备的供电包括以下切断方式中的任意一种或多种：在预设的时间切断、在随机的时间切断，或根据所述存储器数据处理状态切断。进一步，在本专利技术提出的上述方法中，所述第一预设存储区域包含所述第二预设存储区域和所述第三预设存储区域；并且，所述第二预设存储区域与所述第三预设存储区域不重叠。第三，本专利技术提出一种应用上述所述的方法的存储设备掉电测试装置，包括：待测试的存储设备；信号引脚，所述信号引脚连接至所述待测试的存储设备，并且，所述信号引脚输出至少一种信号，所述信号指示所述待测试的存储设备的状态；控制器，所述控制器与所述待测试的存储设备连接，用于至少向所述待测试的存储设备写入预设的特征数据、控制对所述存储设备的供电的切断与恢复、读出所述待测试的存储设备中的数据，在恢复对所述存储设备的供电后，寻找所述存储设备中是否存在与所述第一特征数据、第二特征数据以及第三特征数据均不同的数据，并检查恢复供电后，检测待测试的存储设备中的数据与存储区域的映射关系是否符合所述预设的映射关系。第四，本专利技术提出一种应用上述所述的方法，并包括上述的存储设备掉电测试装置的存储设备掉电测试系统，包括：服务器，所述服务器内存储有包括上述所述的方法的测试程序；一个或多个测试节点，所述测试节点与所述服务器通信连接，所述测试节点内存储有包括上述所述的方法的测试程序；一个或多个待测试的存储设备，所述存储设备连接至所述测试节点，接收并运行传输自所述测试节点的测试程序；其中，所述测试节点是所述服务器的子节点；并且，所述待测的存储设备是所述测试节点的子节点。进一步，在本专利技术提出的上述系统中，测试开始前，将包含至少一个测试参数传输至所述服务器后，将关联至所述至少一个测试参数的测试程度传输至所述待测试的存储设备并执行。最后，本专利技术提出一种计算机可读存储介质，其上储存有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述所述的方法的步骤。本专利技术的有益成果是：获取存储设备对数据的处理状态，进而根据其执行掉电策略来测试对应的设备掉电保护策略，测试覆盖面更广。附图说明下面结合附图和实例对本专利技术作进一步说明。在所附的附图中，相同的附图标记表示相同的部件。图1所示为根据本专利技术的一种存储设备掉电测试方法的第一实施例的流程图；图2所示为根据本专利技术的一种存储设备掉电测试方法的第二实施例的流程图；图3所示为根据本专利技术的一种存储设备掉电测试方法的第三实施例的流程图；图4所示为根据本专利技术的一种存储设备掉电测试装置的第一实施例的框架图；图5所示为根据本专利技术的一种存储设备掉电测试装置的第二实施例的框架图；图6所示为根据本专利技术的一种存储设备掉电测试系统的一个实施例的架构图；图7所示为根据本专利技术的一种存储设备掉电测试系统的工作方式的示意图。具体实施方式以下将结合实施实例和附图对本专利技术的构思、具体结构及产生的技术效果进行清楚、完整的描述，以充分地理解本专利技术的目的、方案和效果。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。附图中各处使用的相同的附图标记指示相同或相似的部分。需要说明的是，如无特殊说明，当某一特征被称为“固定”、“连接”在另一个特征，它可以直接固定、连接在另一个特征上，也可以间接地固定、连接在另一个特征上。此外，本申请中所使用的上、下、左、右等描述仅仅是相对于附图中本申请各组成部分的相互位置关系来说的。在本申请和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。本文及附图所描述的示例性实施例不应视为限制。在不脱离本文和权利要求的范围的情况下，可以进行各种机械的、组成的、结构的、电气的和操作性的变形，包括等同物。在某些情况下，未详细示出或描述公知的结构和技术，以免与本公开混淆。两幅或多幅图表中的相同的附图标记表示相同或类似的元件。此外，参考一个实施例所详细描述的元件及其相关特征，可以在任何可行的情况下包括在未具体示出或描述它们的其他实施例中。例如，如果参考一个实施例详细描述了某个元件，并且没有参考第二实施例描述该元件，则也可以主张包括该元件在第二实施例中。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种存储设备掉电测试方法，其特征在于，包括以下步骤：/nA1、向待测试的存储设备的至少两个不同的预设存储区域，分别写入两种不同的预设特征数据；/nB1、在写入特征数据的同时，监测存储设备的数据存储状态，并当所述存储设备的存储状态为第一状态时，切断对所述存储设备的供电，并将至少一个预设存储区域作为掉电测试区域；/nC1、恢复对所述存储设备的供电后，将至少两个不同的预设存储区域中的至少一个中所存储的数据，与对应该预设存储区域中的预设特征数据进行对比。/n

【技术特征摘要】
1.一种存储设备掉电测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
A1、向待测试的存储设备的至少两个不同的预设存储区域，分别写入两种不同的预设特征数据；
B1、在写入特征数据的同时，监测存储设备的数据存储状态，并当所述存储设备的存储状态为第一状态时，切断对所述存储设备的供电，并将至少一个预设存储区域作为掉电测试区域；
C1、恢复对所述存储设备的供电后，将至少两个不同的预设存储区域中的至少一个中所存储的数据，与对应该预设存储区域中的预设特征数据进行对比。


2.一种存储设备掉电测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
A2、建立待测试的存储设备的数据与存储区域的预设的映射关系，并按照所述预设的映射关系将特征数据写入到所述存储设备中相应的存储区域中，其中，向所述存储设备的第一预设存储区域写入第一特征数据，向所述存储设备的第二预设存储区域写入第二特征数据，并向所述存储设备的第三预设存储区域写入第三特征数据；
B2、在写入特征数据的同时，监测存储设备的数据存储状态，并当所述存储设备的存储状态为第一状态时，切断对所述存储设备的供电，并将第一预设存储区域、第二预设存储区域和第三预设存储区域中的至少一个作为掉电测试区域；
C2、恢复对所述存储设备的供电后，寻找所述存储设备中是否存在与所述第一特征数据、第二特征数据以及第三特征数据均不同的数据；并检查恢复供电后，检测待测试的存储设备中的数据与存储区域的映射关系是否符合所述预设的映射关系。


3.根据权利要求2所述的存储设备掉电测试方法，其特征在于，在步骤A2前，还包括以下步骤：
在所述待测试的存储设备上设置信号引脚。


4.根据权利要求3所述的存储设备掉电测试方法，其特征在于，当所述信号引脚的电平由高变低时，所述存储设备的状态为第一状态。


5.根据权利要求2所述的存储设备掉电测试方法，其特征在于，切断对所述存储设备的供电包括以下切断方式中的任意一种或多种：在预设的时间切断、在随机的时间切断，或根据所述存储器数据处理状态切断。...

【专利技术属性】
技术研发人员：王春南，黄智盛，
申请(专利权)人：广州妙存科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44