【技术实现步骤摘要】
用于静态存储器功能检测的晶圆允收测试模块和方法
本专利技术涉及半导体集成电路制造领域,特别涉及一种用于静态存储器功能检测的晶圆允收测试(WaferAcceptTest,WAT)模块。本专利技术还涉及一种用于静态存储器功能检测的晶圆允收测试方法。
技术介绍
现有技术中,WAT测试设备无法执行AC测试,只能针对器件的直流特性做量测。所以存储器如静态存储器(SRAM)的功能测试必须在客制化设计的芯片上执行,并且需要等待工艺开发到一定阶段后才能开始。原因如下:缺乏合适的工艺设计工具包(ProcessDevelopmentKit,PDK)可供芯片SRAM设计。面积小的SRAM面积是由衬垫(pad)数决定,即使能克服上述的问题,我们只想做简易的验证,却需要相对大的面积。需要投入额外的芯片设计、硬件、测试的成本和资源。现有静态存储器功能检测通常需要采用自动化测试设备(AutomaticTestEquipment,ATE)。如图1所示,是现有静态存储器功能检测的设备连接图;现有静态存储器功能检测中需要单独采用ATE设备102,而静态存储器则设置在晶圆101上。所述静态存储器包括存储单元阵列103,地址解码器(AddressAecoder)104,数据输入端口(DataIn)105,灵敏放大器(SA)和输出输出端口(IO)105。现有方法中,需要采用ATE设备102中的信号发生器(SignalGenerator)107分别形成地址信号和数据信号并分别输入到地址解码器104和数据输 ...
【技术保护点】
1.一种用于静态存储器功能检测的晶圆允收测试模块,其特征在于:晶圆允收测试模块包括形成于晶圆上的由测试图形组成的精简指令内建自我测试电路,所述精简指令内建自我测试电路用于对形成于所述晶圆上的静态存储器进行功能检测;/n所述静态存储器包括存储单元阵列,地址解码器,数据输入端口,灵敏放大器;/n所述精简指令内建自我测试电路包括:环形振荡器,分频器,计数器,数据锁存器和比较器;/n所述精简指令内建自我测试电路在晶圆允收测试设备提供的直流电压下工作;/n所述环形振荡器和所述分频器用于形成内部时钟信号;/n所述计数器用于对所述内部时钟信号进行计数,所述计数同时作为所述地址解码器和所述数据输入端口的输入信号;所述计数器的最高有效位作为读写控制信号;/n所述数据锁存器和比较器连接所述地址解码器的输出端和所述灵敏放大器的输出端,所述数据锁存器和比较器用于对所述地址解码器的输出信号和所述灵敏放大器的输出信号进行比较并根据比较结果判断测试结果是成功还是失败。/n
【技术特征摘要】
1.一种用于静态存储器功能检测的晶圆允收测试模块,其特征在于:晶圆允收测试模块包括形成于晶圆上的由测试图形组成的精简指令内建自我测试电路,所述精简指令内建自我测试电路用于对形成于所述晶圆上的静态存储器进行功能检测;
所述静态存储器包括存储单元阵列,地址解码器,数据输入端口,灵敏放大器;
所述精简指令内建自我测试电路包括:环形振荡器,分频器,计数器,数据锁存器和比较器;
所述精简指令内建自我测试电路在晶圆允收测试设备提供的直流电压下工作;
所述环形振荡器和所述分频器用于形成内部时钟信号;
所述计数器用于对所述内部时钟信号进行计数,所述计数同时作为所述地址解码器和所述数据输入端口的输入信号;所述计数器的最高有效位作为读写控制信号;
所述数据锁存器和比较器连接所述地址解码器的输出端和所述灵敏放大器的输出端,所述数据锁存器和比较器用于对所述地址解码器的输出信号和所述灵敏放大器的输出信号进行比较并根据比较结果判断测试结果是成功还是失败。
2.如权利要求1所述的用于静态存储器功能检测的晶圆允收测试模块,其特征在于:所述环形振荡器由奇数个反相器首尾相连形成。
3.如权利要求1所述的用于静态存储器功能检测的晶圆允收测试模块,其特征在于:所述计数器由n+1位触发器连接形成,由第1至n位的所述触发器的输出信号形成n位所述计数,由第n+1位所述触发器的输出信号形成所述读写控制信号。
4.如权利要求3所述的用于静态存储器功能检测的晶圆允收测试模块,其特征在于:所述触发器采用D触发器。
5.如权利要求1所述的用于静态存储器功能检测的晶圆允收测试模块,其特征在于:当所述数据锁存器和比较器的输出表示所述地址解码器的输出信号和所述灵敏放大器的输出信号相同时,所述测试结果为成功;当所述数据锁存器和比较器的输出表示所述地址解码器的输出信号和所述灵敏放大器的输出信号不相同时,所述测试结果为失败。
6.如权利要求3所述的用于静态存储器功能检测的晶圆允收测试模块,其特征在于:第n+1位所述触发器的输出信号为0时,所述读写控制信号为写信号,在所述写信号的控制下对所述存储单元阵列进行写操作,所述写操作中,所述计数从0开始逐渐增加并依次在和所述计数相同的地址中写入和所述计数相同的数据。
7.如权利要求6所述的用于静态存储器功能检测的晶圆允收测试模块,其特征在于:第n+1位所述触发器的输出信号为1时,所述读写控制信号为读信号,在所述读信号的控制下对所述存储单元阵列进行读操作,所述读操作中,所述计数从0开始逐渐增加并通过所述灵敏放大器依次读取和所述计数相同的地址中的数据。
8.如权利要求3所述的用于静态存储器功能检测的晶圆允收测试模块,其特征在于:所述存储单元阵列的存储单元的数量小于等...
【专利技术属性】
技术研发人员:赖振安,陈俊晟,黄召颖,
申请(专利权)人:上海华力集成电路制造有限公司,
类型:发明
国别省市:上海;31
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