The invention relates to a chip testing device and a chip testing method. The tester comprises a plurality of digital channels which are connected to the development circuit board respectively for bidirectional data transmission between the tester and the development circuit board, and the tester and the development circuit board are connected to the chip to be tested respectively. The chip testing device uses multiple digital channels of the tester itself as communication unit. It can realize two-way communication between the tester and the development circuit board without external dedicated communication unit. The data exchange is stable and the cost of program development is effectively reduced.
【技术实现步骤摘要】
芯片测试装置及芯片测试方法
本专利技术属于芯片测试
,具体涉及一种芯片测试装置及芯片测试方法。
技术介绍
芯片在封装厂封装完成后,要进行成品的最终测试。目前常用的测试方法是在自动测试设备上进行测试。然而,在芯片测试过程中,除测试机外,芯片的部分功能往往还需要外部开发电路板例如FPGA(现场可编程门阵列)和处理器等来实现一些功能。而测试机与外部开发电路板两者协同作用时,就会存在两者之间的通信问题。采用传统通信模块例如USB(通用串行总线)转UART(通用异步收发传输器)接口模块、并口或者其他通信卡,技术比较成熟,但占用资源多,且开发较为复杂,耗费周期长。例如,以DB-25孔并口通信为例,采用计算机并口通信,需要17条信号线和8条地线,信号线又分为3组,每组分别包括4条控制线、5条状态线和8条数据线,这意味着外部开发电路板需要设置17条信号线与电脑主机进行连接,需要占用更多的开发电路板资源;或者采用USB转并口的方案才能完成整个通信过程,这样进一步增加了新的硬件成本,且使用USB协议开发难度增加。
技术实现思路
为了解决现有技术中存在的上述问题,本专利技术提供了一种芯片测试装置及芯片测试方法。本专利技术要解决的技术问题通过以下技术方案实现:本专利技术的一个方面提供了一种芯片测试装置,包括测试机和开发电路板,其中,所述测试机包括多个数字通道,所述多个数字通道均连接至所述开发电路板,用于在所述测试机与所述开发电路板之间进行双向数据传输;所述测试机和所述开发电路板分别连接至待测芯片。在本专利技术的一个实施例中,所述开发电路板上设置有逻辑控制模块,所述逻辑控制模块连 ...
【技术保护点】
1.一种芯片测试装置,其特征在于,包括测试机(1)和开发电路板(2),其中,所述测试机(1)包括多个数字通道,所述多个数字通道均连接至所述开发电路板(2),用于在所述测试机(1)与所述开发电路板(2)之间进行双向数据传输;所述测试机(1)和所述开发电路板(2)分别连接至待测芯片(5)。
【技术特征摘要】
1.一种芯片测试装置,其特征在于,包括测试机(1)和开发电路板(2),其中,所述测试机(1)包括多个数字通道,所述多个数字通道均连接至所述开发电路板(2),用于在所述测试机(1)与所述开发电路板(2)之间进行双向数据传输;所述测试机(1)和所述开发电路板(2)分别连接至待测芯片(5)。2.根据权利要求1所述的芯片测试装置,其特征在于,所述开发电路板(2)上设置有逻辑控制模块(21),所述逻辑控制模块(21)连接所述多个数字通道和所述待测芯片(5),用于根据来自所述多个数字通道的状态指令确定测试向量,并将所述测试向量对应的工作模式发送至所述待测芯片(5)。3.根据权利要求2所述的芯片测试装置,其特征在于,所述逻辑控制模块(21)包括现场可编程门阵列芯片(211)和控制芯片(212),其中,所述现场可编程门阵列芯片(211)连接所述多个数字通道和所述控制芯片(212),用于将来自所述多个数字通道的状态指令发送至所述控制芯片(212);所述控制芯片(212)连接所述待测芯片(5),用于接收所述状态指令并根据所述状态指令确定对应的测试向量,并将所述测试向量对应的工作模式发送至所述待测芯片(5);所述控制芯片(212)还用于获取所述待测芯片(5)运行所述工作模式后的工作状态,并根据所述工作状态确定所述待测芯片(5)的测试结果;所述现场可编程门阵列芯片(211)还用于接收所述测试结果并反馈至所述测试机(1)。4.根据权利要求3所述的芯片测试装置,其特征在于,所述多个数字通道的个数为4个,所述多个数字通道对应连接至所述现场可编程门阵列芯片(211)的相应管脚。5.根...
【专利技术属性】
技术研发人员:孙浩涛,尹文芹,贾红,程显志,陈维新,韦嶔,
申请(专利权)人:西安智多晶微电子有限公司,
类型:发明
国别省市:陕西,61
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