一种用于集成电路的通电测试装置制造方法及图纸

一种用于集成电路的通电测试装置，涉及集成电路生产测试用设备技术领域，包括测试平台，测试平台上存在有推进装置和测试总成，测试总成包括由下向上依次存在的底座、测试板和工作板，推进装置包括推进器和推进板，推进板上有供电装置；测试板上具有测试腔，底座具有位于测试腔竖直下方与测试腔对应的通孔，工作板具有位于测试腔竖直上方与测试腔对应的工作部；测试总成包括测试腔内的测试器，包括壳体、安装腔、极片，安装腔位于工作部下方且其内设有电路插口，极片由通孔内穿过；供电装置上设有与极片对应的极槽。通过本实用新型专利技术，可以实现多个集成电路的通电测试，降低工人劳动强度，简化测试操作，提高检测准确性和效率。

【技术实现步骤摘要】
一种用于集成电路的通电测试装置
本技术涉及集成电路生产测试用设备
，尤其涉及一种用于集成电路的通电测试装置。
技术介绍
集成电路板被广泛的应用于生活中的电气控制设备中，尤其在生活家居智能化的现在，应用于只能家居电气设备中的集成电路具有集成化、小型化、总体数量增多的趋势。在集成电路的生产中，因其集成化、小型化的趋势，电路复杂度和精密度相应的提高，生产出的集成电路的质量要求也相应的提高。作为基本质量要求的通电测试，一般的厂家还在使用较为粗放的手工测试方式，即工人将流水线上产出的集成电路板捡拾后通电，测试其生产质量。具有效率低、工人劳动强度高、操作繁琐、易出错等问题。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种用于集成电路的通电测试装置，通过该集成电路的通电测试装置，可以一次实现多个集成电路的通电测试，降低工人的劳动强度，简化测试操作，提高检测准确性和效率。为实现技术目的，本技术采用了如下技术方案：一种用于集成电路的通电测试装置，包括测试平台，所述测试平台上存在有推进装置和测试总成，所述测试总成包括由下向上依次存在的底座、测试板和工作板，所述推进装置包括固接于所述测试平台的推进器和由推进器前端向所述底座下方延伸的推进板，所述推进板上固接有供电装置；所述测试板上具有至少一个测试腔，所述底座具有位于所述测试腔竖直下方与所述测试腔一一对应的通孔，所述工作板具有位于所述测试腔竖直上方与所述测试腔一一对应的工作部；所述测试总成还包括安装于所述测试腔内的测试器，所述包括壳体、安装腔、极片，所述安装腔位于所述工作部下方且其内设有电路插口，所述极片由所述通孔内穿过并向下露出于所述底座下表面；所述供电装置上设有与所述极片一一对应的极槽。作为本技术的优选，所述壳体包括与所述电路插口和极片串联的提示灯，所述提示灯露出于所述工作部内。进一步的，所述工作部包括间隔设置的第一孔和第二孔，所述提示灯嵌套于所述第一孔内，所述第二孔位于所述安装腔上方。作为本技术的优选，所述供电装置包括与所述推进板固接的安装部、一体成型于所述安装部前侧的延伸部和位于所述延伸部端部的所述极槽。进一步的，所述推进板上具有位于所述延伸部下方的空腔。作为本技术的优选，所述推进器为气缸。作为本技术的优选，所述测试平台上还包括电气盒，所述极槽并联接入所述电气盒。作为本技术的优选，所述底座边缘设有向上延伸的固定壁，所述工作板边缘具有与所述固定壁对应的固定块。作为本技术的优选，所述推进器与所述推进板间设有隔离壁，所述推进板在靠近所述推进器的一侧呈多根导向条组成的格栅形状，所述隔离壁上具有与所述导向条滑接的导向孔。作为本技术的优选，所述推进板上设有导向槽，所述测试平台上具有导向柱，所述导向槽与所述导向柱滑接。本技术的有益效果在于：1.可自动的进行集成电路板的通电、测试，效率高；2.测试结果通过提示灯展示，便于测试人员直观地了解质量情况；3.模块化设计，可以在生产线上将待测集成电路板安装至工作板上后直接安装到测试总成中检测，检测效率高，工作流程简单；4.通过各部件的嵌套导向配合具有良好的工作流程和安装稳定性，检测效果好。附图说明图1为本技术的三维示意图；图2为本技术的爆炸示意图；图3为本技术测试工作时的截面示意图；图4为本技术推进装置及供电装置处的结构示意图；图中各项分别为：1测试平台，11隔离壁，111导向孔，12导向柱，2推进装置，21推进器，22推进板，221空腔，222导向条，223导向槽，3供电装置，31极槽，32安装部，33延伸部，4底座，41通孔，42固定壁，5测试板，51测试腔，6工作板，61工作部，611第一孔，612第二孔，62固定块，7测试器，71壳体，711提示灯，72安装腔，73极片，8电气盒。具体实施方式以下结合附图对本技术进行详细描述：实施例一如图1、2、3、4所示的一种用于集成电路的通电测试装置，包括一个平板形状的测试平台1，测试平台1上安装有推进装置2和测试总成，测试总成包括由下向上依次叠加的底座4、测试板5和工作板6，推进装置2包括通过螺钉固接于测试平台1上表面的推进器21和螺接于推进器21前端向底座4下方水平延伸的推进板22，推进板22上螺纹安装有供电装置3；测试板5上具有两排共十个测试腔51。底座4为一个通过螺钉固定安装在测试平台上的平板，其具有位于测试腔51竖直下方与测试腔51一一对应的通孔41，通孔形状为T字形,便于下述极片73的穿过，其T形伸出的部分用于为极槽31插入时提供防止干涉的空间。测试板5通过螺钉固定安装于底座4的上方。工作板6为一个可拆的板件，其具有位于测试腔51竖直上方与测试腔51一一对应的工作部61，工作板6通过定位销可拆固接于测试板5的上方。测试总成还包括放置于测试腔51内的测试器7，包括壳体71、安装腔72、极片73，壳体73的形状与测试腔51相同，从而在放置后即可在测试腔51内稳定地存在，安装腔72由壳体71的侧面一体的延伸，其安装后的位置位于工作部61下方且其内设有电路插口用于插接待测的集成电路板，每一个测试器71具有两个极片73，极片73的下端由通孔41内穿过并向下露出于底座4下表面，极片73上端连接位于安装腔72内的电路插口。供电装置3上设有与极片73一一对应的极槽31。本实施例中，壳体71上安装有与电路插口和极片73串联的提示灯711，提示灯711连接有位于壳体内的判断电路。在该判断电路的控制下提示灯711具有初始、通路、断路三种提示状态，在本实施例中对应为熄灭、发绿光、发红光三种状态，提示灯711露出于工作部61内。本实施例中，每一个工作部61包括间隔设置的第一孔611和第二孔612，提示灯711嵌套于第一孔611内以便于检测人员观察。第二孔612位于安装腔72上方并与安装腔72形成一个用于安装限位集成电路板及其壳体的空间。本实施例中，供电装置3包括与推进板22螺钉固接的安装部32、一体成型于安装部32前侧的延伸部33和位于延伸部33端部的极槽31，延伸部33为与通孔41位置一一对应从安装部32上伸出的悬臂，极槽31卡接固定在其最前端。本实施例中，推进板22上具有位于延伸部33下方的空腔221，从而在本实施例测试器7两排的情况下，通过空腔221避开其中一排向下伸出的极片73以防止干涉损伤。本实施例中，推进器21为气缸。气缸受到具有脚踏开关或手按开关的气泵控制。本实施例中，测试平台1上还包括电气盒8，所有极槽31相互之间并联并接入电气盒8，其线路通过在推进板22、安装部32、延伸部33上设置凹槽的形式隐蔽安装并两端连接极槽31和电气盒8。本实施例中，底座4边缘具有向上一体延伸的固定壁42，工作板6四角的边缘具有一体与固定壁42对应的固定块62。在工作板6安装是其固定块62恰好嵌合于固定壁42内部，从而实现在水平面上的各向限位，提高安装稳定性。本实施例中，推进器21与推进板22间设有隔离壁11，本实施例的隔离壁11为电气盒8的前侧板，即推进器21安装后位于电气盒8的内部，从而进一步减少测试装置的整体体积。推进板22在靠近推进器21的一侧呈三根根导向条222组成的格栅形状，隔离壁11上具有与导向条222滑接的导向孔111，从而本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于集成电路的通电测试装置，其特征在于，包括测试平台（1），所述测试平台（1）上存在有推进装置（2）和测试总成，所述测试总成包括由下向上依次存在的底座（4）、测试板（5）和工作板（6），所述推进装置（2）包括固接于所述测试平台（1）的推进器（21）和由推进器（21）前端向所述底座（4）下方延伸的推进板（22），所述推进板（22）上固接有供电装置（3）；所述测试板（5）上具有至少一个测试腔（51），所述底座（4）具有位于所述测试腔（51）竖直下方与所述测试腔（51）一一对应的通孔（41），所述工作板（6）具有位于所述测试腔（51）竖直上方与所述测试腔（51）一一对应的工作部（61）；所述测试总成还包括安装于所述测试腔（51）内的测试器（7），所述包括壳体（71）、安装腔（72）、极片（73），所述安装腔（72）位于所述工作部（61）下方且其内设有电路插口，所述极片（73）由所述通孔（41）内穿过并向下露出于所述底座（4）下表面；所述供电装置（3）上设有与所述极片（73）一一对应的极槽（31）。

【技术特征摘要】
1.一种用于集成电路的通电测试装置，其特征在于，包括测试平台（1），所述测试平台（1）上存在有推进装置（2）和测试总成，所述测试总成包括由下向上依次存在的底座（4）、测试板（5）和工作板（6），所述推进装置（2）包括固接于所述测试平台（1）的推进器（21）和由推进器（21）前端向所述底座（4）下方延伸的推进板（22），所述推进板（22）上固接有供电装置（3）；所述测试板（5）上具有至少一个测试腔（51），所述底座（4）具有位于所述测试腔（51）竖直下方与所述测试腔（51）一一对应的通孔（41），所述工作板（6）具有位于所述测试腔（51）竖直上方与所述测试腔（51）一一对应的工作部（61）；所述测试总成还包括安装于所述测试腔（51）内的测试器（7），所述包括壳体（71）、安装腔（72）、极片（73），所述安装腔（72）位于所述工作部（61）下方且其内设有电路插口，所述极片（73）由所述通孔（41）内穿过并向下露出于所述底座（4）下表面；所述供电装置（3）上设有与所述极片（73）一一对应的极槽（31）。2.根据权利要求1所述的一种用于集成电路的通电测试装置，其特征在于，所述壳体（71）包括与所述电路插口和极片（73）串联的提示灯（711），所述提示灯（711）露出于所述工作部（61）内。3.根据权利要求2所述的一种用于集成电路的通电测试装置，其特征在于，所述工作部（61）包括间隔设置的第一孔（611）和第二孔（612），所述提示灯（711）嵌套于所述第一孔（611）内，所述第二孔（61...

【专利技术属性】
技术研发人员：秦兵，张涛，孙文男，沈能，江德军，
申请(专利权)人：长兴博泰电子科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江,33