一种芯片测试方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种芯片测试方法、装置、设备及介质。该方法的步骤包括：对待测芯片中各测试输入端设置对应的数据生成函数及执行参数；分别基于各执行参数执行相应的数据生成函数，生成各测试输入端对应的测试数据；将各测试数据传入相应的测试输入端，以对待测芯片进行测试。本方法对于芯片的每个测试输入端均设置有相应的数据生成函数，进而各个测试输入端的测试数据均由该测试输入端对应的数据生成函数单独产生，进而保证了芯片测试的灵活性以及全面性。此外，本发明专利技术还提供一种芯片测试装置、设备及介质，有益效果同上所述。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试方法、装置、设备及介质
本专利技术涉及芯片测试领域，特别是涉及一种芯片测试方法、装置、设备及介质。
技术介绍
随着芯片工艺技术的不断发展，芯片的硬件复杂度不断提高，与此同时，芯片的应用领域也在不断扩展，逐渐覆盖日常生活的各个方面，为了确保芯片产品的稳定性及可靠性，芯片产品开发过程中的仿真测试起到了至关重要的作用。现有的芯片设计流程中，分为前端设计(逻辑设计)和后端设计(物理设计)两个阶段。前端设计主要是以通过硬件描述语言来实现芯片的逻辑功能。在对芯片进行仿真测试的过程中，需要针对前端设计所涉及到的各个逻辑功能构造相应的使用场景，即测试用例，进而依照测试用例的使用场景向芯片输入端输入相应的测试数据，实现对芯片中工作参数的配置，以此达到模拟芯片在该使用场景下工作的目的，进而通过芯片各个输入端的工作状态获悉当前所测试的逻辑功能的正确性。当前进行芯片的逻辑功能测试时，各个芯片输入端的测试数据是整体产生的，因此在当前的测试过程中无法为芯片的某一输入端单独生成对应的测试数据。而当前在对逻辑功能进行某一使用场景的测试时，技术人员往往需要在该使用场景的基础上对输入端的测试数据进行定向调整本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：对待测芯片中各测试输入端设置对应的数据生成函数及执行参数；分别基于各所述执行参数执行相应的所述数据生成函数，生成各所述测试输入端对应的测试数据；将各所述测试数据传入相应的所述测试输入端，以对所述待测芯片进行测试。

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：对待测芯片中各测试输入端设置对应的数据生成函数及执行参数；分别基于各所述执行参数执行相应的所述数据生成函数，生成各所述测试输入端对应的测试数据；将各所述测试数据传入相应的所述测试输入端，以对所述待测芯片进行测试。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述对所述待测芯片进行测试后，该方法进一步包括：当所述测试输入端中的目标测试输入端工作状态异常时，选取所述目标测试输入端，并仅对所述目标测试输入端对应的所述数据生成函数和/或执行参数进行修改。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对待测芯片中各测试输入端设置对应的数据生成函数及执行参数具体为：对所述待测芯片中各所述测试输入端设置对应的随机数生成函数及随机种子；相应的，所述分别基于各所述执行参数执行相应的所述数据生成函数，生成各所述测试输入端对应的测试数据具体为：分别基于各所述随机种子执行相应的所述随机数生成函数，生成各所述测试输入端对应的所述测试数据。4.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：李拓，周恒钊，
申请(专利权)人：郑州云海信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：河南,41