一种芯片测试方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种芯片测试方法、装置、设备及介质。该方法的步骤包括：对待测芯片中各测试输入端设置对应的数据生成函数及执行参数；分别基于各执行参数执行相应的数据生成函数，生成各测试输入端对应的测试数据；将各测试数据传入相应的测试输入端，以对待测芯片进行测试。本方法对于芯片的每个测试输入端均设置有相应的数据生成函数，进而各个测试输入端的测试数据均由该测试输入端对应的数据生成函数单独产生，进而保证了芯片测试的灵活性以及全面性。此外，本发明专利技术还提供一种芯片测试装置、设备及介质，有益效果同上所述。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试方法、装置、设备及介质
本专利技术涉及芯片测试领域，特别是涉及一种芯片测试方法、装置、设备及介质。
技术介绍
随着芯片工艺技术的不断发展，芯片的硬件复杂度不断提高，与此同时，芯片的应用领域也在不断扩展，逐渐覆盖日常生活的各个方面，为了确保芯片产品的稳定性及可靠性，芯片产品开发过程中的仿真测试起到了至关重要的作用。现有的芯片设计流程中，分为前端设计(逻辑设计)和后端设计(物理设计)两个阶段。前端设计主要是以通过硬件描述语言来实现芯片的逻辑功能。在对芯片进行仿真测试的过程中，需要针对前端设计所涉及到的各个逻辑功能构造相应的使用场景，即测试用例，进而依照测试用例的使用场景向芯片输入端输入相应的测试数据，实现对芯片中工作参数的配置，以此达到模拟芯片在该使用场景下工作的目的，进而通过芯片各个输入端的工作状态获悉当前所测试的逻辑功能的正确性。当前进行芯片的逻辑功能测试时，各个芯片输入端的测试数据是整体产生的，因此在当前的测试过程中无法为芯片的某一输入端单独生成对应的测试数据。而当前在对逻辑功能进行某一使用场景的测试时，技术人员往往需要在该使用场景的基础上对输入端的测试数据进行定向调整，即对某一个或某几个输入端的测试数据进行定向修改，而其它输入端的测试数据不变，因此当前对芯片的逻辑功能测试显然无法实现对芯片各输入端中测试数据的定向调整，难以保证芯片测试的灵活性以及全面性。由此可见，提供一种芯片测试方法，以实现对芯片各输入端中测试数据的定向调整，保证芯片测试的灵活性以及全面性，是本领域技术人员亟待解决的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种芯片测试方法、装置、设备及介质，以实现对芯片各输入端中测试数据的定向调整，保证芯片测试的灵活性以及全面性。为解决上述技术问题，本专利技术提供一种芯片测试方法，包括：对待测芯片中各测试输入端设置对应的数据生成函数及执行参数；分别基于各执行参数执行相应的数据生成函数，生成各测试输入端对应的测试数据；将各测试数据传入相应的测试输入端，以对待测芯片进行测试。优选的，在对待测芯片进行测试后，该方法进一步包括：当测试输入端中的目标测试输入端工作状态异常时，选取目标测试输入端，并仅对目标测试输入端对应的数据生成函数和/或执行参数进行修改。优选的，对待测芯片中各测试输入端设置对应的数据生成函数及执行参数具体为：对待测芯片中各测试输入端设置对应的随机数生成函数及随机种子；相应的，分别基于各执行参数执行相应的数据生成函数，生成各测试输入端对应的测试数据具体为：分别基于各随机种子执行相应的随机数生成函数，生成各测试输入端对应的测试数据。优选的，待测芯片中各测试输入端对应的随机种子互不相同。优选的，随机种子具体为系统时间。优选的，数据生成函数具体基于VerilogHDL编写。此外，本专利技术还提供一种芯片测试装置，包括：设置模块，用于对待测芯片中各测试输入端设置对应的数据生成函数及执行参数；数据生成模块，用于分别基于各执行参数执行相应的数据生成函数，生成各测试输入端对应的测试数据；传入测试模块，用于将各测试数据传入相应的测试输入端，以对待测芯片进行测试。此外，本专利技术还提供一种芯片测试设备，包括：存储器，用于存储计算机程序；处理器，用于执行计算机程序时实现如上述的芯片测试方法的步骤。此外，本专利技术还提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如上述的芯片测试方法的步骤。本专利技术所提供的芯片测试方法，首先对待测芯片中的各个测试输入端分别设置对应的数据生成函数以及执行参数，进而分别基于各个测试输入端对应的执行参数执行与该执行参数相应的数据生成函数，以此生成各测试输入端的测试数据，并将测试数据传入相应的测试输入端以模拟待测芯片在某场景下的工作，达到测试芯片的目的。本方法对于芯片的每个测试输入端均设置有相应的数据生成函数以及执行参数，进而在测试时，各个测试输入端的测试数据均由该测试输入端对应的数据生成函数单独产生，因此本方法能够在测试过程中，通过修改某测试输入端的数据生成函数或执行参数以实现对该输入端的测试数据的定向修改，并确保其它输入端的测试数据不变，进而保证了芯片测试的灵活性以及全面性。此外，本专利技术还提供一种芯片测试装置、设备及介质，有益效果同上所述。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例，下面将对实施例中所需要使用的附图做简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的一种芯片测试方法的流程图；图2为本专利技术实施例提供的一种芯片测试装置的结构图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下，所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护范围。本专利技术的核心是提供一种芯片测试方法，以实现对芯片各输入端中测试数据的定向调整，保证芯片测试的灵活性以及全面性。本专利技术的另一核心是提供一种芯片测试装置、设备及介质。为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步的详细说明。实施利一图1为本专利技术实施例提供的一种芯片测试方法的流程图。请参考图1，芯片测试方法的具体步骤包括：步骤S10：对待测芯片中各测试输入端设置对应的数据生成函数及执行参数。需要说明的是，本步骤中的待测芯片可以具体为FPGA、CPLD等支持前端逻辑开发以及后端电路开发的芯片。各个测试输入端是指待测芯片在工作状态下用于接收数据的端口，由于待测芯片在不同的工作场景下，其端口所接收的数据内容往往是不同的，因此将待测芯片用于接收数据的端口作为测试输入端，并根据测试时所模拟的工作场景向测试输入端传入相应的数据能够实现对待测芯片在该工作场景下工作状态的获悉，进而实现对待测芯片进行测试的目的。由于待测芯片的各测试输入端对所接收的数据往往具有一定的要求，例如对数据的取值范围要求、数据的类型要求以及数据长度要求等，因此本步骤中的数据生成函数，是根据其相应的测试输入端对数据的要求而预先编写的数据生成逻辑，其目的是根据数据生成逻辑对执行参数进行一系列的数据转化，进而使得到的测试数据满足该测试输入端对数据的约束条件。步骤S11：分别基于各执行参数执行相应的数据生成函数，生成各测试输入端对应的测试数据。本步骤的目的是分别对各个测试输入端所对应的测试数据进行计算，具体的计算过程是将测试数据作为数据生成函数的输入参数，以执行数据生成函数，生成个各输入端对应的测试数据。需要说明的是，本方法中的数据生成函数仅是为了向待测芯片的各个测试输入端提供相应的测试数据，以此等价模拟待测芯片在某一工作场景下各个测试输入端应输入的数据内容，但是由于待测芯片的工作场景数量众多，在每个工作场景下，待测芯片的各待测输入端的数量往往差异较大，因此相同测试输入端在不同工作场景下所对应的数据生成函数也各不相同，数据生成函数的具体内容应根据所模拟的工作场景以及实际的测试需求而定，在此不做限定。步骤S12：将各测试数据传入相应的测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：对待测芯片中各测试输入端设置对应的数据生成函数及执行参数；分别基于各所述执行参数执行相应的所述数据生成函数，生成各所述测试输入端对应的测试数据；将各所述测试数据传入相应的所述测试输入端，以对所述待测芯片进行测试。

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：对待测芯片中各测试输入端设置对应的数据生成函数及执行参数；分别基于各所述执行参数执行相应的所述数据生成函数，生成各所述测试输入端对应的测试数据；将各所述测试数据传入相应的所述测试输入端，以对所述待测芯片进行测试。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述对所述待测芯片进行测试后，该方法进一步包括：当所述测试输入端中的目标测试输入端工作状态异常时，选取所述目标测试输入端，并仅对所述目标测试输入端对应的所述数据生成函数和/或执行参数进行修改。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对待测芯片中各测试输入端设置对应的数据生成函数及执行参数具体为：对所述待测芯片中各所述测试输入端设置对应的随机数生成函数及随机种子；相应的，所述分别基于各所述执行参数执行相应的所述数据生成函数，生成各所述测试输入端对应的测试数据具体为：分别基于各所述随机种子执行相应的所述随机数生成函数，生成各所述测试输入端对应的所述测试数据。4.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：李拓，周恒钊，
申请(专利权)人：郑州云海信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：河南,41