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本发明公开了一种芯片测试方法、装置、设备及介质。该方法的步骤包括：对待测芯片中各测试输入端设置对应的数据生成函数及执行参数；分别基于各执行参数执行相应的数据生成函数，生成各测试输入端对应的测试数据；将各测试数据传入相应的测试输入端，以对待测...
该专利属于郑州云海信息技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过郑州云海信息技术有限公司授权不得商用。

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