一种测试电路板的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种测试电路板的方法及装置，该方法可以包括：获取电路板中第一目标测试点的位置；获取电路板中的第一测试区域；获取电路板中的第二测试区域；判断第一测试区域与第二测试区域是否存在重叠部分；当第一测试区域与第二测试区域存在重叠部分时，调整第一测试区域的位置，以使第一测试区域与第二测试区域不存在重叠部分。这种方法可以通过将第一测试区域与第二测试区域调整到不存在重叠部分的方式，使得位于第一测试区域的第一目标测试点与位于第二测试区域的第二目标测试点之间的距离大于或等于预设值，不需要再用人工检测每两个测试点之间的距离，可以提高工作效率，节省时间。

【技术实现步骤摘要】
一种测试电路板的方法及装置
本专利技术涉及电学领域，具体涉及一种测试电路板的方法及装置。
技术介绍
在计算机中，电路板应用的非常广泛。电路板上的零件和线路十分复杂多样。在电路板批量化生产之前，都需要对电路板进行集成电路测试，用以检测所有的零件和线路是否都符合工艺要求。目前用于检测电路板的装置是通过探针来检测的，如果探针直接接触电路板上的零件或者焊脚时，极有可能将电路板上的零件或焊脚压坏。所以，在对电路板进行集成电路测试之前，需要在电路板上添加测试点。使得探针在检测电路板时接触这些测试点，不直接与电路板上的零件或焊脚接触，从而保证不会压坏电路板上的电路元件。由于做集成电路测试的两个探针之间的距离是有一定要求的，当两个测试点距离过近时，会出现无法植针的情况。所以在测试之前要确保每两个测试点之间的距离大于或等于预设值。目前主要是通过工程师手动测量测试点之间的距离，当测试点之间的距离小于预设值时，再调整测试点的位置，使得每两个测试点之间的距离都大于或等于预设值。这种检测方式工作效率低，花费的时间长。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例第一方面提供一种测试电路板的方法，该方法可以包括：获取电路板中第一目标测试点的位置，第一目标测试点为电路板上的一个测试点；获取电路板中的第一测试区域，第一测试区域为包括第一目标测试点的区域；获取电路板中的第二测试区域，第二测试区域为包括第二目标测试点的区域，且第一目标测试点和第二目标测试点互不相同；判断第一测试区域与第二测试区域是否存在重叠部分；当第一测试区域与第二测试区域存在重叠部分时，调整第一测试区域的位置，以使第一测试区域与第二测试区域不存在重叠部分。可选的，结合上述第一方面，在第一方面的第一种可能的实现方式中，获取电路板中的第二测试区域之前，还可以包括：获取第二目标测试点的位置，第二目标测试点与第一目标测试点互不相同。可选的，结合上述第一方面，在第一方面的第二种可能的实现方式中，当第一测试区域与第二测试区域存在重叠部分时，还可以包括：发送提示信息，提示信息用于表示第一测试区域与第二测试区域存在重叠部分。可选的，结合上述第一方面，在第一方面的第三种可能的实现方式中，获取电路板中第一目标测试点的位置之前，还可以包括：在电路板上添加测试点。可选的，结合上述第一方面，在第一方面的第四种可能的实现方式中，调整第一测试区域的位置之后，还可以包括：在第一目标测试点的位置上植入探针；使用探针测试电路板。本专利技术实施例第二方面提供一种测试电路板的装置，该装置可以包括：第一获取单元，用于获取电路板中第一目标测试点的位置，第一目标测试点为电路板上的一个测试点；第二获取单元，用于获取电路板中的第一测试区域，第一测试区域为包括第一目标测试点的区域；第三获取单元，用于获取电路板中的第二测试区域，第二测试区域为包括第二目标测试点的区域，且第一目标测试点和第二目标测试点互不相同；第一处理单元，用于判断第一测试区域与第二测试区域是否存在重叠部分；第二处理单元，用于当第一测试区域与第二测试区域存在重叠部分时，调整第一测试区域的位置，以使第一测试区域与第二测试区域不存在重叠部分。可选的，结合上述第二方面，在第二方面的第一种可能的实现方式中，该装置还可以包括：第四获取单元，用于获取第二目标测试点的位置，第二目标测试点与第一目标测试点互不相同。可选的，结合上述第二方面，在第二方面的第二种可能的实现方式中，该装置还可包括：发送单元，用于发送提示信息，提示信息用于表示第一测试区域与第二测试区域存在重叠部分。可选的，结合上述第二方面，在第二方面的第三种可能的实现方式中，该装置还可以包括：第三处理单元，用于在电路板上添加测试点。可选的，结合上述第二方面，在第二方面的第四种可能的实现方式中，该装置还可以包括：第四处理单元，用于在第一目标测试点的位置上植入探针；第五处理单元，用于使用探针测试电路板。本专利技术实施例提供了一种测试电路板的方法及装置，该方法可以包括：获取电路板中第一目标测试点的位置，第一目标测试点为电路板上的一个测试点；获取电路板中的第一测试区域，第一测试区域为包括第一目标测试点的区域；获取电路板中的第二测试区域，第二测试区域为包括第二目标测试点的区域，且第一目标测试点和第二目标测试点互不相同；判断第一测试区域与第二测试区域是否存在重叠部分；当第一测试区域与第二测试区域存在重叠部分时，调整第一测试区域的位置，以使第一测试区域与第二测试区域不存在重叠部分。这种方法可以通过将第一测试区域与第二测试区域调整到不存在重叠部分的方式，使得位于第一测试区域的第一目标测试点与位于第二测试区域的第二目标测试点之间的距离在大于或等于预设值的范围内，而不需要人工检测每两个测试点之间的距离，可以提高工作效率，节省时间。附图说明图1为本专利技术实施例提供的一种测试电路板的方法的一个实施例；图2为本专利技术实施例提供的一种测试电路板的方法的另一个实施例；图3为本专利技术实施例提供的一种测试电路板的装置的一个实施例；图4为本专利技术实施例提供的一种测试电路板的装置的另一个实施例。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本申请中出现的术语“和/或”，可以是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本申请中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的实施例能够以除了在这里图示或描述的内容以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或模块的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或模块，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或模块。电路板上的零件和线路十分复杂多样。在电路板批量化生产之前，都需要对电路板进行集成电路测试，用以检测所有的零件和线路是否都符合工艺要求。目前用于检测电路板的装置是通过探针来检测的，如果探针直接接触电路板上的零件或者焊脚时，极有可能将电路板上的零件或焊脚压坏。在对电路板进行集成电路测试之前，需要在电路板上添加测试点。使得探针在检测电路板时接触这些测试点，不直接与电路板上的零件或焊脚接触，从而保证不会压坏电路板上的电路元件。由于做集成电路测试的两个探针之间的距离是有一定要求的，当两个测试点距离过近时，会出现无法植针的情况。所以在测试之前要确保每两个测试点之间的距离大于或等于预设值。目前主要是通过工程师手动测量测试点之间的距离，当测试点之间的距离小于预设值时，再调整测试点的位置，使得每两个测试点之间的距离都大于或等于预设值。这种手动检测的方式工作效率低，花费的时间长。如图1所示，实施例一针对上述问题提供了一种测试电路板的方法本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试电路板的方法，其特征在于，包括：获取电路板中第一目标测试点的位置，所述第一目标测试点为所述电路板上的一个测试点；获取所述电路板中的第一测试区域，所述第一测试区域为包括所述第一目标测试点的区域；获取所述电路板中的第二测试区域，所述第二测试区域为包括第二目标测试点的区域，且所述第一目标测试点和所述第二目标测试点互不相同；判断所述第一测试区域与所述第二测试区域是否存在重叠部分；当所述第一测试区域与所述第二测试区域存在重叠部分时，调整所述第一测试区域的位置，以使所述第一测试区域与所述第二测试区域不存在重叠部分。

【技术特征摘要】
1.一种测试电路板的方法，其特征在于，包括：获取电路板中第一目标测试点的位置，所述第一目标测试点为所述电路板上的一个测试点；获取所述电路板中的第一测试区域，所述第一测试区域为包括所述第一目标测试点的区域；获取所述电路板中的第二测试区域，所述第二测试区域为包括第二目标测试点的区域，且所述第一目标测试点和所述第二目标测试点互不相同；判断所述第一测试区域与所述第二测试区域是否存在重叠部分；当所述第一测试区域与所述第二测试区域存在重叠部分时，调整所述第一测试区域的位置，以使所述第一测试区域与所述第二测试区域不存在重叠部分。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述电路板中的第二测试区域之前，还包括：获取所述第二目标测试点的位置，所述第二目标测试点与所述第一目标测试点互不相同。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当所述第一测试区域与所述第二测试区域存在重叠部分时，还包括：发送提示信息，所述提示信息用于表示所述第一测试区域与所述第二测试区域存在重叠部分。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取电路板中第一目标测试点的位置之前，还包括：在所述电路板上添加所述测试点。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述调整所述第一测试区域的位置之后，还包括：在所述第一目标测试点的位置上植入探针；使用所述探针测试所述电路板。6.一种测试电路板的...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭丹萍，
申请(专利权)人：郑州云海信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：河南,41