一种测试电路板的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种测试电路板的方法及装置，该方法可以包括：获取电路板中第一目标测试点的位置；获取电路板中的第一测试区域；获取电路板中的第二测试区域；判断第一测试区域与第二测试区域是否存在重叠部分；当第一测试区域与第二测试区域存在重叠部分时，调整第一测试区域的位置，以使第一测试区域与第二测试区域不存在重叠部分。这种方法可以通过将第一测试区域与第二测试区域调整到不存在重叠部分的方式，使得位于第一测试区域的第一目标测试点与位于第二测试区域的第二目标测试点之间的距离大于或等于预设值，不需要再用人工检测每两个测试点之间的距离，可以提高工作效率，节省时间。

【技术实现步骤摘要】
一种测试电路板的方法及装置
本专利技术涉及电学领域，具体涉及一种测试电路板的方法及装置。
技术介绍
在计算机中，电路板应用的非常广泛。电路板上的零件和线路十分复杂多样。在电路板批量化生产之前，都需要对电路板进行集成电路测试，用以检测所有的零件和线路是否都符合工艺要求。目前用于检测电路板的装置是通过探针来检测的，如果探针直接接触电路板上的零件或者焊脚时，极有可能将电路板上的零件或焊脚压坏。所以，在对电路板进行集成电路测试之前，需要在电路板上添加测试点。使得探针在检测电路板时接触这些测试点，不直接与电路板上的零件或焊脚接触，从而保证不会压坏电路板上的电路元件。由于做集成电路测试的两个探针之间的距离是有一定要求的，当两个测试点距离过近时，会出现无法植针的情况。所以在测试之前要确保每两个测试点之间的距离大于或等于预设值。目前主要是通过工程师手动测量测试点之间的距离，当测试点之间的距离小于预设值时，再调整测试点的位置，使得每两个测试点之间的距离都大于或等于预设值。这种检测方式工作效率低，花费的时间长。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例第一方面提供一种测试电路板的方法，该方法可以包括：获取电本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试电路板的方法，其特征在于，包括：获取电路板中第一目标测试点的位置，所述第一目标测试点为所述电路板上的一个测试点；获取所述电路板中的第一测试区域，所述第一测试区域为包括所述第一目标测试点的区域；获取所述电路板中的第二测试区域，所述第二测试区域为包括第二目标测试点的区域，且所述第一目标测试点和所述第二目标测试点互不相同；判断所述第一测试区域与所述第二测试区域是否存在重叠部分；当所述第一测试区域与所述第二测试区域存在重叠部分时，调整所述第一测试区域的位置，以使所述第一测试区域与所述第二测试区域不存在重叠部分。

【技术特征摘要】
1.一种测试电路板的方法，其特征在于，包括：获取电路板中第一目标测试点的位置，所述第一目标测试点为所述电路板上的一个测试点；获取所述电路板中的第一测试区域，所述第一测试区域为包括所述第一目标测试点的区域；获取所述电路板中的第二测试区域，所述第二测试区域为包括第二目标测试点的区域，且所述第一目标测试点和所述第二目标测试点互不相同；判断所述第一测试区域与所述第二测试区域是否存在重叠部分；当所述第一测试区域与所述第二测试区域存在重叠部分时，调整所述第一测试区域的位置，以使所述第一测试区域与所述第二测试区域不存在重叠部分。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述电路板中的第二测试区域之前，还包括：获取所述第二目标测试点的位置，所述第二目标测试点与所述第一目标测试点互不相同。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当所述第一测试区域与所述第二测试区域存在重叠部分时，还包括：发送提示信息，所述提示信息用于表示所述第一测试区域与所述第二测试区域存在重叠部分。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取电路板中第一目标测试点的位置之前，还包括：在所述电路板上添加所述测试点。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述调整所述第一测试区域的位置之后，还包括：在所述第一目标测试点的位置上植入探针；使用所述探针测试所述电路板。6.一种测试电路板的...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭丹萍，
申请(专利权)人：郑州云海信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：河南,41