手动芯片测试座制造技术

本实用新型专利技术公开了一种手动芯片测试座，包括测试盖和底座，所述测试盖包括基盖和挂钩，所述基盖侧面设有沉孔，所述沉孔内设有挂钩弹性件，所述挂钩铰接于基盖侧面，所述挂钩弹性件抵住挂钩一端，所述挂钩另一端设有钩部，所述底座包括浮动板和基座，所述基座设有滑动槽，所述浮动板设于滑动槽中，所述基座侧面设有卡槽，所述卡槽与挂钩的钩部对应，所述基盖通过锁紧件设于基座上，所述基盖和基座之间设有脱开弹性件。本实用新型专利技术提供的手动芯片测试座，测试方便，效率高。

【技术实现步骤摘要】
手动芯片测试座
本技术涉及芯片测试
，具体地说，涉及一种手动芯片测试座。
技术介绍
在现有的芯片测试行业中，一般都是用芯片测试仪进行芯片各项功能的测试。在芯片的生产测试过程中，为了方便每个被测试芯片的每一个管脚与测试仪器实现简单、快捷、准确、高效的连接，通常需要用测试座作为连接媒介；这样的方式实现测试仪与被测芯片的连接，不仅提高生产效率，还提高测试精度。由于适应大批量生产的自动化芯片测试座成本较高，在检测规模较小、或减少企业投资时需要使用手动测试座。中国专利文献CN202471762U公开一种手动芯片测试座，包括底座和上盖，上盖连接于底座上，底座上设有空腔，空腔底部设有与电路板相连的下针模，下针模上设有针孔用于安装弹簧探针，下针模上方设有上针模，上针模上设有针孔用于安装弹簧探针，上针模和下针模之间装有双头弹簧探针，通过下压上盖，使得放置于底座浮板上的待测芯片下降，压缩弹簧探针，使得待测芯片的管脚与底座针模的探针相接触，实现芯片管脚与电路板测试盘之间的良好的电性能导通，实现芯片的手动测试。上盖相对底座翻转用于芯片的放置和压紧，操作略显不方便，需要进一步提高其测试效率。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种手动芯片测试座，具有测试方便、效率高的优点。本技术公开的手动芯片测试座所采用的技术方案是：一种手动芯片测试座，包括测试盖和底座，所述测试盖包括基盖和挂钩，所述基盖侧面设有沉孔，所述沉孔内设有挂钩弹性件，所述挂钩铰接于基盖侧面，所述挂钩弹性件抵住挂钩一端，所述挂钩另一端设有钩部，所述底座包括浮动板和基座，所述基座设有滑动槽，所述浮动板设于滑动槽中，所述基座侧面设有卡槽，所述卡槽与挂钩的钩部对应，所述基盖通过锁紧件设于基座上，所述基盖和基座之间设有脱开弹性件。作为优选方案，所述基座包括保护板、底板、基板、第一浮动滑轨和第二浮动滑轨，所述底板和基板设于保护板上，所述底板设于基板和保护板之间，所述基板上设有若干针孔，所述针孔内设有探针，所述探针的一端抵住底板，所述滑动槽设于基板上，所述第一浮动滑轨和第二浮动滑轨分别设于基板上滑动槽两侧。作为优选方案，所述基板上设有第一浮动弹性件孔和第二浮动弹性件孔，所述第一浮动弹性件孔设有第一浮动弹性件，所述第二浮动弹性件孔内设有第二浮动弹性件，所述第一浮动弹性件的一端抵住第一浮动滑轨，所述第二浮动弹性件的一端抵住第二浮动滑轨。作为优选方案，所述保护板固定于基板上，所述基板通过锁紧件与基盖连接。作为优选方案，所述脱开弹性件为弹簧，所述弹簧套设于锁紧件上。作为优选方案，所述基盖包括盖板、第一支撑座、第二支撑座和压头，所述沉孔设于盖板侧面，所述第一支撑座和第二支撑座固定于盖板上，所述压头设于第一支撑座和第二支撑座之间，且位于浮动板上方。作为优选方案，所述第一支撑座上表面设有第一支撑孔，所述第一支撑孔内设有支撑弹性件，所述第二支撑座上表面设有第二支撑孔，所述第二支撑孔内设有支撑弹性件，所述第一支撑座的上表面和第二支撑座的上表面通过螺栓固定于盖板上。本技术公开的手动芯片测试座的有益效果是：基盖侧面设有沉孔，沉孔内设有挂钩弹性件，挂钩铰接于基盖侧面，基座设有滑动槽，浮动板设于滑动槽中，基座侧面设有卡槽，所述卡槽与挂钩的钩部对应，基盖通过锁紧件设于基座上，基盖和基座之间设有脱开弹性件，按住挂钩，基盖在脱开弹性件的作用下上移，抽拉浮动板，放置待测试芯片，下压基盖，挂钩在挂钩弹性件的作用下，挂钩另一端的钩部钩住卡槽，基盖将待测芯片压紧，效率更高，测试更方便。附图说明图1是本技术手动芯片测试座的结构示意图；图2是本技术手动芯片测试座的爆炸示意图；图3是本技术手动芯片测试座中测试盖的爆炸示意图；图4是本技术手动芯片测试座中底座的爆炸示意图。具体实施方式下面结合具体实施例和说明书附图对本技术做进一步阐述和说明：请参考图1和图2，一种手动芯片测试座，包括测试盖10和底座20，所述测试盖10通过锁紧件30设于底座20上，所述测试盖10和底座20之间设有脱开弹性件40。所述脱开弹性件40为弹簧，套设于锁紧件30上。请参考图3，所述测试盖10包括基盖和挂钩15，所述基盖包括盖板11、第一支撑座12、第二支撑座13和压头14，所述第一支撑座12上表面设有第一支撑孔，所述第一支撑孔内设有支撑弹性件，所述第二支撑座13上表面设有第二支撑孔131，所述第二支撑孔131内设有支撑弹性件132，所述第一支撑座12的上表面和第二支撑座13的上表面通过螺栓固定于盖板11上，则第一支撑座12和第二支撑座13可相对盖板11上下移动，起到缓冲作用，所述压头14设于第一支撑座12和第二支撑座13之间，所述压头14通过螺栓171以及螺母172与第一支撑座12和第二支撑座13固定，则压头14可弹性压紧待测芯片，所述盖板11的侧面设有沉孔，所述挂钩15上设有挂钩弹性件孔152和通孔151，所述挂钩弹性件孔152内设有挂钩弹性件153，所述挂钩弹性件153设于盖板11的沉孔和挂钩弹性件孔152中，所述盖板11的侧面设有凹槽和铰接轴孔，所述铰接轴孔横穿凹槽，所述挂钩15通过穿过盖板11上的铰接轴孔以及挂钩15上的通孔151的铰接轴161铰接于盖板11上，所述铰接轴161的两端设有轴套162，防止铰接轴脱落，所述挂钩弹性件153抵住挂钩15一端，所述挂钩15另一端设有钩部。请参考图3，所述底座20包括浮动板24和基座，所述基座包括保护板21、底板23、基板22、第一浮动滑轨25和第二浮动滑轨26，所述底板23和基板22设于保护板21上，所述底板23设于基板22和保护板21之间，所述基板22上设有若干针孔，所述针孔内设有探针，所述探针的一端抵住底板23，所述基板22上设有滑动槽，所述第一浮动滑轨25和第二浮动滑轨26分别设于基板22上滑动槽两侧，所述第一浮动滑轨25设有第一侧面槽251，所述第二浮动滑轨26设有第二侧面槽，所述浮动板24在第一侧面槽251和第二侧面槽之间的滑动槽中滑动，所述基板22上设有第一浮动弹性件孔和第二浮动弹性件孔，所述第一浮动弹性件孔设有第一浮动弹性件222，所述第二浮动弹性件孔内设有第二浮动弹性件221，所述第一浮动弹性件222的一端抵住第一浮动滑轨25，所述第二浮动弹性件221的一端抵住第二浮动滑轨26，所述保护板21固定于基板22上，所述基板22的侧面设有卡槽，所述卡槽与挂钩15的钩部对应，所述基板22通过锁紧件30与盖板11连接。基盖侧面设有沉孔，沉孔内设有挂钩弹性件，挂钩铰接于基盖侧面，基座设有滑动槽，浮动板设于滑动槽中，基座侧面设有卡槽，所述卡槽与挂钩的钩部对应，基盖通过锁紧件设于基座上，基盖和基座之间设有脱开弹性件，按住挂钩，基盖在脱开弹性件的作用下上移，抽拉浮动板，放置待测试芯片，下压基盖，挂钩在挂钩弹性件的作用下，挂钩另一端的钩部钩住卡槽，基盖将待测芯片压紧，效率更高，测试更方便，由于脱开弹性件使测试盖和底座相对浮动，第一支撑座、第二支撑座和压头相对盖板浮动，可有效保护探针，避免探针损坏影响检测准确度，延长探针的使用寿命。最后应当说明的是，以上实施例仅用以说明本技术的技术方案，而非对本技术保护范围的限制，尽管参照较佳实施例对本技术作了本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种手动芯片测试座，包括测试盖和底座，所述测试盖包括基盖和挂钩，所述基盖侧面设有沉孔，所述沉孔内设有挂钩弹性件，所述挂钩铰接于基盖侧面，所述挂钩弹性件抵住挂钩一端，所述挂钩另一端设有钩部，其特征在于，所述底座包括浮动板和基座，所述基座设有滑动槽，所述浮动板设于滑动槽中，所述基座侧面设有卡槽，所述卡槽与挂钩的钩部对应，所述基盖通过锁紧件设于基座上，所述基盖和基座之间设有脱开弹性件。

【技术特征摘要】
1.一种手动芯片测试座，包括测试盖和底座，所述测试盖包括基盖和挂钩，所述基盖侧面设有沉孔，所述沉孔内设有挂钩弹性件，所述挂钩铰接于基盖侧面，所述挂钩弹性件抵住挂钩一端，所述挂钩另一端设有钩部，其特征在于，所述底座包括浮动板和基座，所述基座设有滑动槽，所述浮动板设于滑动槽中，所述基座侧面设有卡槽，所述卡槽与挂钩的钩部对应，所述基盖通过锁紧件设于基座上，所述基盖和基座之间设有脱开弹性件。2.如权利要求1所述的手动芯片测试座，其特征在于，所述基座包括保护板、底板、基板、第一浮动滑轨和第二浮动滑轨，所述底板和基板设于保护板上，所述底板设于基板和保护板之间，所述基板上设有若干针孔，所述针孔内设有探针，所述探针的一端抵住底板，所述滑动槽设于基板上，所述第一浮动滑轨和第二浮动滑轨分别设于基板上滑动槽两侧。3.如权利要求2所述的手动芯片测试座，其特征在于，所述基板上设有第一浮动弹性件孔和第二浮动弹性件孔，所述第一浮动弹性件孔设...

【专利技术属性】
技术研发人员：李俊敏，李俊强，
申请(专利权)人：东莞市睿辉机电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44