【技术实现步骤摘要】
一种逆阻型IGBT
本技术属于功率半导体
,涉及一种逆阻型IGBT(InsulatedGateBipolarTransistor,绝缘栅双极型晶体管)。
技术介绍
2001年,由富士电机研发出真正适用于交流变频应用的600V级垂直结构的逆阻型IGBT器件。该结构通过在P+衬底上外延100um厚的N型漂移区,形成NPT型IGBT实现正向和反向耐压。直至2014年,逆阻型IGTB对结构上的改进主要体现在终端区的设计,旨在器件承受反向耐压时,降低由耗尽线扩展至划片区引起的泄露电流,而器件的元胞区仍为NPT结构。逆阻型IGBT因具有正反对称的阻断能力,在基于矩阵变换器交流-交流(AC-AC)应用领域备受亲睐。作为交流-交流(AC-AC)矩阵逆变器中的核心元件,逆阻型IGBT解决了常规IGBT无法承受高的反向电压的困扰,不需要外串联高压二极管来承受外部的反向电压,减小了矩阵逆变器中所需的元器件数量,同时减小了因外串联二极管带来的额外导通能力损耗。常规FS型IGBT在正向耐压时,高浓度的FS层可有效截止正向耐压电场,但在反向阻断状态下,底部较高浓度的FS层和高浓度的P+集电极之间会形成高电场峰值,在漂移区还未耗尽条件下,FS层和P+集电区之间的反偏结发生提前击穿,无法满足双向耐压的应用场合。NPT型IGBT可实现双向耐压,但需要较大厚度的漂移区,引起正向导通压降增大;同时,在关断状态下,由于厚的漂移区不能被全耗尽,非耗尽区内的载流子需要通过自身复合,产生较大的拖尾电流,同时器件的关断能量损耗增大,导致器件的导通压降和关断损耗折中性能退化。
技术实现思路
:本技术所要解决 ...
【技术保护点】
一种逆阻型IGBT,包括N型高阻区,其特征在于,在N型高阻区上表面中部具有第二N型区(6),位于第二N型区(6)上表面的P阱(1),并列位于P阱(1)上表面的N型发射区(2)和P型接触区(3);其中N型发射区(2)和P型接触区(3)相互独立,其共同引出端为发射极;N型高阻区上表面两侧具有两个对称的沟槽,与N型发射区(2)接触的沟槽为槽栅(4),槽栅(4)包含位于槽内壁的第一绝缘介质层(41)和由第一绝缘介质层(41)包围的第一导电材料(42),由槽栅(4)中的第一导电材料(42)引出栅电极;与P型接触区(3)接触的沟槽为槽结构(5),槽结构(5)包含位于槽内壁的第二绝缘介质层(51)和由第二绝缘介质层(51)包围的第二导电材料(52);在N型高阻区下表面具有第一N型层(7),所述第一N型层(7)的下层具有多个不连续的P+集电区(8),P+集电区(8)的掺杂浓度高于N型高阻区的掺杂浓度,P+集电区(8)的引出端为集电极;在相邻的2个P+集电区(8)之间的第一N型层(7)中,具有P型层(9)。
【技术特征摘要】
1.一种逆阻型IGBT,包括N型高阻区,其特征在于,在N型高阻区上表面中部具有第二N型区(6),位于第二N型区(6)上表面的P阱(1),并列位于P阱(1)上表面的N型发射区(2)和P型接触区(3);其中N型发射区(2)和P型接触区(3)相互独立,其共同引出端为发射极;N型高阻区上表面两侧具有两个对称的沟槽,与N型发射区(2)接触的沟槽为槽栅(4),槽栅(4)包含位于槽内壁的第一绝缘介质层(41)和由第一绝缘介质层(41)包围的第一导电材料(42),...
【专利技术属性】
技术研发人员:罗小蓉,刘庆,黄琳华,魏杰,李聪,魏雨夕,苏伟,曾莉尧,曹厚华,莫日华,孙燕,
申请(专利权)人:电子科技大学,电子科技大学广东电子信息工程研究院,
类型:新型
国别省市:四川,51
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