电子元件测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种电子元件测试装置，包括底座，所述底座前端设置有可转动的转盘，所述转盘上设置有2个用于放置待测电子元件的测试座，所述底座具有测试工位，所述转盘转动带动两个测试座往复与测试工位；所述测试工位上方设置有取件装置，所述测试工位后侧设置测试机构。提升电子元件的检测检测效率，一个工人直线复杂装料，测试装置完成检测和取件，节省人力，提升效率。

【技术实现步骤摘要】
电子元件测试装置
本专利技术涉及一种电子元件测试装置。
技术介绍
组装完成的电子元件需要进行检测，以往的检测通过人工逐个进行检测，检测效率很低。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是：克服现有技术的不足，提供一种电子元件测试装置，解决以往电子元件检测效率低下的缺陷。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种电子元件测试装置，包括底座，所述底座前端设置有可转动的转盘，所述转盘上设置有2个用于放置待测电子元件的测试座，所述底座具有测试工位，所述转盘转动带动两个测试座往复与测试工位；所述测试工位上方设置有取件装置，所述测试工位后侧设置测试机构。进一步的，所述测试机构包括在底座前后移动的下滑块，所述下滑块经两根滑杆与底座配合，所述下滑块前端设置有用于与待测电子元件配合的U型插件；所述底座下端设置有用于驱动滑块前后移动的第一气缸，所述第一气缸推杆前端与底座固定连接，所述第一气缸的缸体与下滑块固定连接；所述第一气缸作业，经第一气缸缸体带动滑块在底座上做前后移动。进一步的，所述取件装置包括一对第一支座、一对第二支座以及第三支座，所述第一支座位于测试工位两侧，两个第一支座位于测试工位两侧，两个第二支座位于第一支座后侧，第三支座位于底座后端，同侧的两侧第一支座和第二支座之间连接滑杆，两根滑杆上连接上滑台，所述上滑台上设置第二气缸，所述第二气缸推杆下端连接水平安装板，所述水平安装板下端左右夹紧装置。进一步的，所述左右夹紧装置包括缸体，所述缸体内十字腔体左右贯穿缸体，所述缸体左右两端开口分别设置有可左右滑动的十字滑键，所述缸体的十字腔体连接气嘴；左右两个所述十字滑键分别连接左夹板和右夹板。进一步的，所述左右夹紧装置缸体下端设置有下压块，所述下压块与水平安装板连接。进一步的，所述第三支座上设置第三气缸，所述第三气缸推杆连接上滑台。本专利技术的有益效果是：提升电子元件的检测检测效率，一个工人直线复杂装料，测试装置完成检测和取件，节省人力，提升效率。附图说明下面结合附图对本专利技术进一步说明。图1是本专利技术测试装置示意图图2是测试机构在底座上的示意图；图3是取件装置示意图；其中，1、底座，2、转盘，3、测试机构，31、下滑块，32、U型插件，33、第一气缸，4、取件装置，41、上滑台，42、第二气缸，43、水平安装板，44、左右夹紧装置，45、左夹板，46、下压块，47、第三气缸，48、十字滑键。具体实施方式现在结合附图对本专利技术作进一步的说明。这些附图均为简化的示意图仅以示意方式说明本专利技术的基本结构，因此其仅显示与本专利技术有关的构成。如图1至图3所示，一种电子元件测试装置，包括底座1，底座1前端设置有可转动的转盘2，转盘2上设置有2个用于放置待测电子元件的测试座，底座1具有测试工位，转盘2转动带动两个测试座往复与测试工位；测试工位上方设置有取件装置4，测试工位后侧设置测试机构3。测试机构3包括在底座1前后移动的下滑块31，下滑块31经两根滑杆与底座1配合，下滑块31前端设置有用于与待测电子元件配合的U型插件32；底座1下端设置有用于驱动滑块前后移动的第一气缸33，第一气缸33推杆前端与底座1固定连接，第一气缸33的缸体与下滑块31固定连接；第一气缸33作业，经第一气缸33缸体带动滑块在底座1上做前后移动。取件装置4包括一对第一支座、一对第二支座以及第三支座，第一支座位于测试工位两侧，两个第一支座位于测试工位两侧，两个第二支座位于第一支座后侧，第三支座位于底座1后端，同侧的两侧第一支座和第二支座之间连接滑杆，两根滑杆上连接上滑台41，上滑台41上设置第二气缸42，第二气缸42推杆下端连接水平安装板43，水平安装板43下端左右夹紧装置44。左右夹紧装置44包括缸体，缸体内十字腔体左右贯穿缸体，缸体左右两端开口分别设置有可左右滑动的十字滑键48，缸体的十字腔体连接气嘴；左右两个十字滑键48分别连接左夹板45和右夹板。高压气体从气嘴进出，进气时，十字腔体扩张，从而使两侧的十字滑键48向外移动，使两个夹板张开；出气时，十字腔体收缩，从而使两侧的十字滑键48向内移动，使两个夹板闭合夹紧电子元件。左右夹紧装置44缸体下端设置有下压块46，下压块46与水平安装板43连接。下压块46用于与电子元件配合，控制第二气缸42的下行距离。第三支座上设置第三气缸47，第三气缸47推杆连接上滑台41。第三气缸47控制上滑台41前后移动。作业时，人工将电子元件安装在一个测试座上，转盘2下端连接驱动电机，驱动电机带动转盘2转动，带动测试座旋转至测试工位，第一气缸33工作带动下滑块31向前移动，U型插件32与测试工位的电子元件接触，完成测试，然后U型插件32向后退回；第三气缸47工作，使上滑台41移动至最前端，第二气缸42控制下压块46下移，下压块46接触测试工位的电子元件之后，气嘴抽气，十字腔体收缩，从而使两侧的十字滑键48向内移动，使两个夹板闭合夹紧电子元件。然后第二气缸42带动电子元件上移，第三气缸47带动电子元件向后移动，至下料工位。以上述依据本专利技术的理想实施例为启示，通过上述的说明内容，相关工作人员完全可以在不偏离本项专利技术技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。本项专利技术的技术性范围并不局限于说明书上的内容，必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子元件测试装置，其特征是，包括底座，所述底座前端设置有可转动的转盘，所述转盘上设置有2个用于放置待测电子元件的测试座，所述底座具有测试工位，所述转盘转动带动两个测试座往复与测试工位；所述测试工位上方设置有取件装置，所述测试工位后侧设置测试机构。

【技术特征摘要】
1.一种电子元件测试装置，其特征是，包括底座，所述底座前端设置有可转动的转盘，所述转盘上设置有2个用于放置待测电子元件的测试座，所述底座具有测试工位，所述转盘转动带动两个测试座往复与测试工位；所述测试工位上方设置有取件装置，所述测试工位后侧设置测试机构。2.根据权利要求1所述的电子元件测试装置，其特征是，所述测试机构包括在底座前后移动的下滑块，所述下滑块经两根滑杆与底座配合，所述下滑块前端设置有用于与待测电子元件配合的U型插件；所述底座下端设置有用于驱动滑块前后移动的第一气缸，所述第一气缸推杆前端与底座固定连接，所述第一气缸的缸体与下滑块固定连接；所述第一气缸作业，经第一气缸缸体带动滑块在底座上做前后移动。3.根据权利要求1所述的电子元件测试装置，其特征是，所述取件装置包括一对第一支座、一对第二支座以及第三支座，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：张峰，
申请(专利权)人：西北工业大学张家港智能装备技术产业化研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32