电子元件测试装置制造方法及图纸
【技术实现步骤摘要】
电子元件测试装置
本专利技术涉及一种电子元件测试装置。
技术介绍
组装完成的电子元件需要进行检测，以往的检测通过人工逐个进行检测，检测效率很低。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是：克服现有技术的不足，提供一种电子元件测试装置，解决以往电子元件检测效率低下的缺陷。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种电子元件测试装置，包括底座，所述底座前端设置有可转动的转盘，所述转盘上设置有2个用于放置待测电子元件的测试座，所述底座具有测试工位，所述转盘转动带动两个测试座往复与测试工位；所述测试工位上方设置有取件装置，所述测试工位后侧设置测试机构。进一步的，所述测试机构包括在底座前后移动的下滑块，所述下滑块经两根滑杆与底座配合，所述下滑块前端设置有用于与待测电子元件配合的U型插件；所述底座下端设置有用于驱动滑块前后移动的第一气缸，所述第一气缸推杆前端与底座固定连接，所述第一气缸的缸体与下滑块固定连接；所述第一气缸作业，经第一气缸缸体带动滑块在底座上做前后移动。进一步的，所述取件装置包括一对第一支座、一对第二支座以及第三支座，所述第一支座位于测试工位两侧，两个第一支座...
【技术保护点】
一种电子元件测试装置，其特征是，包括底座，所述底座前端设置有可转动的转盘，所述转盘上设置有2个用于放置待测电子元件的测试座，所述底座具有测试工位，所述转盘转动带动两个测试座往复与测试工位；所述测试工位上方设置有取件装置，所述测试工位后侧设置测试机构。
【技术特征摘要】
1.一种电子元件测试装置，其特征是，包括底座，所述底座前端设置有可转动的转盘，所述转盘上设置有2个用于放置待测电子元件的测试座，所述底座具有测试工位，所述转盘转动带动两个测试座往复与测试工位；所述测试工位上方设置有取件装置，所述测试工位后侧设置测试机构。2.根据权利要求1所述的电子元件测试装置，其特征是，所述测试机构包括在底座前后移动的下滑块，所述下滑块经两根滑杆与底座配合，所述下滑块前端设置有用于与待测电子元件配合的U型插件；所述底座下端设置有用于驱动滑块前后移动的第一气缸，所述第一气缸推杆前端与底座固定连接，所述第一气缸的缸体与下滑块固定连接；所述第一气缸作业，经第一气缸缸体带动滑块在底座上做前后移动。3.根据权利要求1所述的电子元件测试装置，其特征是，所述取件装置包括一对第一支座、一对第二支座以及第三支座，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：张峰，
申请(专利权)人：西北工业大学张家港智能装备技术产业化研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32
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