非接触通信芯片的全自动化测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及测试验证领域，提供一种非接触通信芯片(包括但不局限于近距离高频非接触智能卡芯片和非接触读卡器芯片)的全自动化测试装置以及测试方法，解决了非接触通信芯片手工测试、简单机械测试存在的测试效率低、空间测试位置不全面的问题，在目前对于射频通信芯片的要求越来越严苛的背景下，提高了非接触通信芯片测试验证的效率和全面性。

【技术实现步骤摘要】
非接触通信芯片的全自动化测试装置
本技术涉及测试验证领域，提供一种非接触通信芯片(包括但不局限于近距离高频非接触智能卡芯片和非接触读卡器芯片)的全自动化测试装置。
技术介绍
随着非接触应用越来越广泛，非接触集成电路芯片的开发及测试的工作也越来越多。现有的测试，基本上是通过操作人员手工移动非接触通信的测试设备或者被测件来实现非接触测试的。也出现了一些机械的测试装置，可以完成一些单一方向上不同距离的非接触测试的功能，达不到目前对测试高效性、全面性的要求。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种非接触通信芯片(包括但不局限于高频非接触智能卡芯片和非接触读卡器芯片)的全自动化测试装置及测试方法，该装置由四轴定位平台、测试设备、被测件以及PC组成。，所述四轴定位平台包括X轴、Y轴、Z轴和U轴四个可运动的组件、并固定于平面(c)和框架(d)组成的一个支撑结构上；所述测试设备放置于所述四轴定位平台的模块(b)上；所述被测件固定在所述四轴定位平台的模块(a)上；所述PC通过通信接口与所述测试设备和所述四轴定位平台相连。测试过程中，PC控制四轴定位平台、测试设备以及被测件，全自动循环执行既定的测试流程。本技术本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种非接触通信芯片的全自动化测试装置，其特征在于所述装置由四轴定位平台、测试设备、被测件以及PC组成，所述四轴定位平台包括X轴、Y轴、Z轴和U轴四个可运动的组件、并固定于平面(c)和框架(d)组成的一个支撑结构上；所述测试设备放置于所述四轴定位平台的模块(b)上；所述被测件固定在所述四轴定位平台的模块(a)上；所述PC通过通信接口与所述测试设备和所述四轴定位平台相连。

【技术特征摘要】
1.一种非接触通信芯片的全自动化测试装置，其特征在于所述装置由四轴定位平台、测试设备、被测件以及PC组成，所述四轴定位平台包括X轴、Y轴、Z轴和U轴四个可运动的组件、并固定于平面(c)和框架(d)组成的一个支撑结构上；所述测试设备放置于所述四轴定位平台的模块(b)上；所述被测件固定在所述四轴定位平台的模块(a)上；所述PC通过通信接口与所述测试设备和所述四轴定位平台相连。2.如权利要求1所述的装置，其特征在于所述的四轴定位平台可以在水平的X、Z两个方向、垂直Y方向，以及以垂直方向为轴的转动角度U四个维度上移动。3.如权利要求1所述的装置，其特征在于所述的四轴定位平台的模块(a)具有在某设定位置(g)处抓取被测件，沿X方向移动，以及在某设定位置(h)处放下被测件的功能。4.如权利要求1所述的装置，其特征在于所述的四...

【专利技术属性】
技术研发人员：王丰，刘丽丽，
申请(专利权)人：北京中电华大电子设计有限责任公司，
类型：新型
国别省市：北京,11