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本实用新型涉及测试验证领域，提供一种非接触通信芯片(包括但不局限于近距离高频非接触智能卡芯片和非接触读卡器芯片)的全自动化测试装置以及测试方法，解决了非接触通信芯片手工测试、简单机械测试存在的测试效率低、空间测试位置不全面的问题，在目前对于...
该专利属于北京中电华大电子设计有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京中电华大电子设计有限责任公司授权不得商用。

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