The invention provides a GaAs base inversion LED chip, a preparation method and a LED display device. Including: from bottom to top. The prepared GaAs substrate, AlGaAs buffer layer, GaInP layer, N GaAs etch stop layer, a quantum well layer, P layer and P GaAs GaP ohmic contact layer; in the P GaP ohmic contact layer prepared on metal contact layer; in the metal contact layer for key cut size the preparation of size preset for LED chip graphics together; according to the preparation of the bond graph using wet etched cutting to N GaAs layer on the surface; in the preparation of bonding layer and reflective layer on the substrate, the substrate has prepared the reflective layer and the bonding layer and the processing step epitaxial wafer bonding, the bonding temperature is 300 to 400 DEG C, the bonding time is 200 ~ 300ms; the corrosion process of wet chemical removing GaAs substrate and AlGaAs buffer layer; the epitaxial wafer in acetone solution step after treatment, shock in 30 ~ 60 DEG C ultrasonic, ultrasonic frequency The rate is 30 ~ 60MHZ, the oscillation time of 3 ~ 8min, with the GaInP etch stop layer and N GaAs layer shake off; the invention can improve the yield rate of the product.
【技术实现步骤摘要】
GaAs基倒装LED芯片及其制备方法、LED显示装置
本专利技术涉及LED芯片制备
,特别涉及一种GaAs基倒装LED芯片及其制备方法、LED显示装置。
技术介绍
GaAs基LED芯片既可作为发光器件,也可作为光电显示器件,并以其低能耗、高亮度的优势被广泛应用。在GaAs基LED芯片的制备工艺中,将整个芯片分割成所需求尺寸的单一晶粒是不可或缺的一道工序。目前,在对GaAs基倒装LED芯片进行切割时,是使用金刚刀实现,并对切割后的芯片进行清洗。然而,由于GaAs材料比较脆,而且芯片正背面会蒸镀比较厚的金属材料,使得芯片本身的应力较大,再加上切割时金刚刀直接接触芯片,这就使得芯片加工时容易破碎,芯片周围边缘容易产生崩边、崩角、裂纹等,导致产品良率较低。
技术实现思路
为解决目前通过金刚刀对GaAs基倒装LED芯片进行切割时,导致产品良率比较低的技术问题,本专利技术提供一种GaAs基倒装LED芯片及其制备方法、LED显示装置。为了解决上述问题,本专利技术提供一种GaAs基倒装LED芯片的制备方法,其采用的技术方案如下:S1、制备GaAs基倒装LED芯片的外延片;其中,外延片自下而上依次包括GaAs衬底、AlGaAs缓冲层、GaInP腐蚀停止层、N-GaAs层、量子阱层、P-GaAs层和P-GaP欧姆接触层;S2、在P-GaP欧姆接触层上表面制备金属接触层;S3、在金属接触层上表面制备键合图形,其中,键合图形的尺寸为LED芯片预设的切割道尺寸;S4、根据制备的键合图形采用湿法刻蚀工艺刻蚀切割道至N-GaAs层上表面;S5、在基板上表面依次制备键合层和反射层,并将 ...
【技术保护点】
一种GaAs基倒装LED芯片的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括:S1、制备GaAs基倒装LED芯片的外延片;其中,外延片自下而上依次包括GaAs衬底、AlGaAs缓冲层、GaInP腐蚀停止层、N‑GaAs层、量子阱层、P‑GaAs层和P‑GaP欧姆接触层;S2、在P‑GaP欧姆接触层上表面制备金属接触层;S3、在金属接触层上表面制备键合图形,其中,键合图形的尺寸为LED芯片预设的切割道尺寸;S4、根据制备的键合图形采用湿法刻蚀工艺刻蚀切割道至N‑GaAs层上表面;S5、在基板上表面依次制备键合层和反射层,并将已经制备好反射层和键合层的基板与经步骤S4处理后的外延片进行键合,其中,键合时的温度为300~400℃,键合时间为200~300ms;S6、采用化学湿法腐蚀工艺去掉GaAs衬底和AlGaAs缓冲层;S7、将经步骤S6处理后的外延片置于丙酮溶液中,并在30~60℃的条件下进行超声震荡,超声波的频率为30~60MHZ,超声震荡的时间为3~8min,以将GaInP腐蚀停止层和N‑GaAs层震荡掉。
【技术特征摘要】
1.一种GaAs基倒装LED芯片的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括:S1、制备GaAs基倒装LED芯片的外延片;其中,外延片自下而上依次包括GaAs衬底、AlGaAs缓冲层、GaInP腐蚀停止层、N-GaAs层、量子阱层、P-GaAs层和P-GaP欧姆接触层;S2、在P-GaP欧姆接触层上表面制备金属接触层;S3、在金属接触层上表面制备键合图形,其中,键合图形的尺寸为LED芯片预设的切割道尺寸;S4、根据制备的键合图形采用湿法刻蚀工艺刻蚀切割道至N-GaAs层上表面;S5、在基板上表面依次制备键合层和反射层,并将已经制备好反射层和键合层的基板与经步骤S4处理后的外延片进行键合,其中,键合时的温度为300~400℃,键合时间为200~300ms;S6、采用化学湿法腐蚀工艺去掉GaAs衬底和AlGaAs缓冲层;S7、将经步骤S6处理后的外延片置于丙酮溶液中,并在30~60℃的条件下进行超声震荡,超声波的频率为30~60MHZ,超声震荡的时间为3~8min,以将GaInP腐蚀停止层和N-GaAs层震荡掉。2.根据权利要求1所述的GaAs基倒装LED芯片的制备方法,其特征在于,所述步骤S4中湿法刻蚀工艺采用的刻蚀液和步骤S6中化学腐蚀工艺采用的腐蚀液的成份均为H3PO4、H2O2和H2O的混合液;其中,H3PO4∶H2O2∶H2O的比例为2∶0.3~1.5∶10~20。3.根据权利要求1所述的GaAs基倒装LED芯片的制备方法,其特征在于,所述金属接触层的材料为Au和/或AuBe,所述键合层的材料为Ti/Pt,所述反射层的材料为Au。4.根据权利要求1所述的GaAs基倒装LED芯片的制备方法,其特征在于,所述金属接触层的厚度为所述反射层的厚度为5.根据权利要求1所述的GaAs基倒装LED芯片的制备方法,其特征在于,步骤S7中超声震荡的温度为45...
【专利技术属性】
技术研发人员:米洪龙,关永莉,梁建,徐小红,王琳,
申请(专利权)人:山西飞虹微纳米光电科技有限公司,
类型:发明
国别省市:山西,14
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