The invention discloses a keyboard profile detection method comprises the following steps: 1. Using array CCD camera to scan the keyboard size drawings, the ideal size of drawing the contour from the keyboard keycap extraction Sigma P ideal point set; two. Using the calibration plate array CCD camera calibration; three samples to be detected by surface. Array CCD camera scanning to obtain the measured points set Sigma P; four. The use of R and T of the tested point set Q transform Q2 sigma sigma sigma sigma = R Q+T, calculate the Q2 of each Qi2 to the corresponding PI Di standard point projection distance in PI normal, maximum Dmax d then, the profile of profile = 2|dmax|. The invention can enter the batch test only by early debugging, and the multiple images can be fused into a complete image by image stitching. In this way, a lens with smaller horizons can be selected to improve the resolution of the pixel, thus improving the overall detection accuracy.
【技术实现步骤摘要】
键盘轮廓度的检测方法
本专利技术涉及一种轮廓度检测方法,特别涉及一种键盘轮廓度的检测方法。
技术介绍
轮廓度误差是指实际被测轮廓对其理想轮廓的变动量,其中理想轮廓是由理论正确尺寸确定的形状。零部件在设计时给出的就是理想轮廓。想要保证产品的质量,必须控制零部件的轮廓度误差,目前通常采用标准测量仪器测量,这样需要固定的测量人员去操作并且测量的时间较长;或者选择高分辨率的镜头,概括整个产品的视野,这样会导致整个测量结果的精度低,不符合高精度测量的要求;又或是通过将图像的坐标系与带动相机移动的轴的坐标系关联在一起,取多张图像测量。这样的测量方式会将轴的误差代入计算,导致结果不够精准。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种无需轮廓的解析表达式,适应面更广,对复杂形状的轮廓依然适用并且可用来计算2D和3D轮廓度的键盘轮廓度的检测方法。为解决上述技术问题,本专利技术采用如下技术方案:一种键盘轮廓度的检测方法,其包括以下步骤:步骤一.利用面阵CCD相机扫描键盘尺寸图纸,从尺寸图纸中键盘的键帽的理想轮廓提取理想点集ΣP,其中每个标准点p由坐标和法向量组成Pstd{x,y,vx,vy};步骤二.利用标定板对面阵CCD相机做标定;步骤三.利用面阵CCD相机扫描待检测样品,得到待测点集ΣP,其中每个检测点由2坐标组成q{x,y}。然后利用最小二乘拟合,得到旋转矩阵R,和平移矩阵T,使得其中n为待测点集中点的数量,qi是其中的一个点,pi是在理想点集中与qi距离最近的点;步骤四.利用R和T将待测点集ΣQ变换为ΣQ2=RΣQ+T,计算ΣQ2中每个点qi2到对应的标准点pi的距离在pi ...
【技术保护点】
一种键盘轮廓度的检测方法,其特征在于,其包括以下步骤:步骤一.利用面阵CCD相机扫描键盘尺寸图纸,从尺寸图纸中键盘的键帽的理想轮廓提取理想点集ΣP,其中每个标准点p由坐标和法向量组成Pstd{x,y,vx,vy};步骤二.利用标定板对面阵CCD相机做标定;步骤三.利用面阵CCD相机扫描待检测样品,得到待测点集ΣP,其中每个检测点由2坐标组成q{x,y},然后利用最小二乘拟合,得到旋转矩阵R,和平移矩阵T,使得
【技术特征摘要】
1.一种键盘轮廓度的检测方法,其特征在于,其包括以下步骤:步骤一.利用面阵CCD相机扫描键盘尺寸图纸,从尺寸图纸中键盘的键帽的理想轮廓提取理想点集ΣP,其中每个标准点p由坐标和法向量组成Pstd{x,y,vx,vy};步骤二.利用标定板对面阵CCD相机做标定;步骤三.利用面阵CCD相机扫描待检测样品,得到待测点集ΣP,其中每个检测点由2坐标组成q{x,y},然后利用最小二乘拟合,得到旋转矩阵R,和平移矩阵T,使得其中n为待测点集中点的数量,qi是其中的一个点,pi是在理想点集中与qi距离最近的点;步骤四.利用R和T将待测点集ΣQ变换为ΣQ2=RΣQ+T,计算ΣQ2中每个点qi2到对应的标准点pi的距离在pi法线上的投影di,得到d的最大值dmax,那么轮廓度profile=2|dmax|。2.根据权利要求1所述的键盘轮廓度的检测方法,其特征在于:键盘尺寸图纸或待检测样品的四个角依次为第一角、第二角、第三角、第四角,在利用面阵CCD相机扫描键盘尺寸图纸或待检测样品时,从而键盘尺寸图纸或待检测样品的其中第一角开始拍摄,第一次拍摄完成后,面阵CCD相机向第二角移动一定距离,第二次拍摄,保证和上一次的拍摄图片存在重合区域,不会漏掉目标信息,重复以上步骤,直到面阵CCD相机跑到键盘右上角,完成第一行的拍摄,然后面阵CCD相机向第三角方向移动一定距离,开始第二行第一次拍摄,保证和上一次的拍摄图片存在重合区域,然后由第二角向第一角方向移动一定距离,开始第二行第二次拍摄,保证和上一次的拍摄图片存在重合区域,重复以上步骤,直到拍摄完整个键盘为止,记录下整个过程中键盘尺寸图纸或待检测样品相机拍照的位置。3.根据权利要求1所述的键盘轮廓度的检测方法,其特征在于:所述标定板为一个带棋盘格和二维码的玻璃板,玻璃板的尺寸不小于键盘尺寸,棋盘格的尺寸已知,二维码已知,每个二维码表示一个二维的坐标点(x,y)。4.根据权利要求3所述的键盘轮廓度的检测方法,其特征在于:将所述标定板放置到键盘所在位...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘承胤,葛大伟,刘运飞,
申请(专利权)人:苏州德创测控科技有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏,32
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。