集成电路器件制造技术

本发明专利技术的实施例公开了集成电路器件。该集成电路器件包括焦点检测像素和透镜。该焦点检测像素包括衬底中的感光单元和非感光单元。该透镜设置在焦点检测像素上方，其中，感光单元和非感光单元相对于透镜的光轴彼此相对设置，并且穿过透镜的光束同时入射至感光单元和非感光单元。

Integrated circuit device

Embodiments of the present invention disclose integrated circuit devices. The integrated circuit device includes a focus detection pixel and a lens. The focus detection pixel includes a photosensitive unit in a substrate and a non photosensitive unit. The focus lens is arranged in the pixel detection above the photosensitive element and non photosensitive unit relative to the optical axis of the lens set relative to each other, and at the same time through the lens beam incident to the photosensitive element and non photosensitive unit.

【技术实现步骤摘要】
集成电路器件
本专利技术的实施例涉及集成电路器件。
技术介绍
图像传感器器件包括用于检测光和记录检测的光的强度的像素阵列。例如，像素阵列通过积聚电荷响应于光。光的强度越高，像素阵列中积聚的电荷越高。积聚的电荷用于提供用于合适的应用中(诸如，数码相机)的图像信息。一些图像传感器器件使用相位差检测像素进行自动对焦(AF)。相位差通过处理图像感测像素之中的焦点检测像素工作。焦点检测像素的信号输出用于检测由不同焦点检测像素产生的信号之间的相位差。检测的相位差可以用于进行AF。
技术实现思路
本专利技术的实施例提供了一种集成电路器件，包括：焦点检测像素，包括位于衬底中的感光单元和非感光单元；以及透镜，设置在所述焦点检测像素上方，其中，所述感光单元和所述非感光单元相对于所述透镜的光轴彼此相对设置，并且穿过所述透镜的光束同时入射至所述感光单元和所述非感光单元。本专利技术的另一实施例提供了一种集成电路器件，包括：多个图像感测像素；焦点检测像素对，设置在所述图像感测像素之间并且包括第一焦点检测像素和第二焦点检测像素，其中，所述第一焦点检测像素包括第一侧处的第一感光单元和第二侧处的第一非感光单元，并且所述第本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种集成电路器件，包括：焦点检测像素，包括位于衬底中的感光单元和非感光单元；以及透镜，设置在所述焦点检测像素上方，其中，所述感光单元和所述非感光单元相对于所述透镜的光轴彼此相对设置，并且穿过所述透镜的光束同时入射至所述感光单元和所述非感光单元。

【技术特征摘要】
2016.03.04 US 15/060,6041.一种集成电路器件，包括：焦点检测像素，包括位于衬底中的感光单元和非感光单...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄任锋，简荣亮，
申请(专利权)人：台湾积体电路制造股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71