一种半导体圆片级封装方法技术

本发明专利技术公开了一种半导体圆片级封装方法，所述封装方法包括：提供半导体圆片，所述圆片设有若干矩阵排列的芯片，所述芯片之间设有划片槽；所述圆片包括正面及背面，所述芯片的正面即所述圆片的正面，所述芯片的背面即所述圆片的背面；在所述圆片的所述划片槽处形成至少两相互间隔的凹槽；对准两凹槽之间的区域进行切割，以将至少两个所述芯片分离。通过上述方式，本发明专利技术预切割形成宽度较小的凹槽，在二次切割时刀片易对准，提高成品率同时提高圆片的利用率。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体圆片级封装方法
本专利技术涉及半导体芯片领域，特别是涉及半导体圆片级封装方法。
技术介绍
半导体集成电路芯片用的安装外壳，起着安放、固定、密封、保护芯片和增强电热性能的作用，而且还是沟通芯片内部世界与外部电路的桥梁，芯片上的接点用导线连接到封装外壳的引脚上，这些引脚又通过印制板上的导线与其他器件建立连接。因此，半导体器件的封装对中央处理器和其他大规模集成电路起着重要的作用。在芯片封装结构中，圆片级封装是在整片晶圆上进行封装和测试，再对其进行塑封，然后将其切割成单颗芯片。现有的圆片级封装方法中一般采用二次切割法，先进行预切割形成划片槽，然后进行二次切割将圆片切割为单颗芯片，通常预切割形成的划片槽宽度较大，二次切割时刀片容易切偏，使得部分芯片侧面没有树脂材料保护，并且较宽的划片槽占用面积较大，使得圆片利用率不高。
技术实现思路
本专利技术主要解决的技术问题是提供一种半导体芯片的圆片级封装方法，能够减小预切割宽度，使得第二次切割时刀片对准度提高，提高成品率的同时提高圆片的利用率。为解决上述技术问题，本专利技术采用的技术方案是提供一种半导体圆片级封装方法，包括以下步骤：提供半导体圆片，所述圆片设有若干矩阵排列的芯片，所述芯片之间设有划片槽；所述圆片包括正面及背面，所述芯片的正面即所述圆片的所述正面，所述芯片的背面即所述圆片的所述背面；在所述圆片的所述划片槽处形成至少两相互间隔的凹槽；对准两凹槽之间的区域进行切割，以将至少两个所述芯片分离。本专利技术的有益效果是：区别于现有技术情况，本专利技术所提供的半导体圆片级封装方法，首次切割时在圆片的划片槽处形成至少两相互间隔的凹槽，上述凹槽的宽度较小，在二次切割时刀片容易对准，进而提高成品率和圆片的利用率。附图说明图1为本专利技术半导体圆片级封装方法一实施方式的流程示意图；图2为半导体圆片一实施方式的结构示意图；图3为利用本专利技术半导体圆片级封装方法一实施方式对圆片进行第一次切割的结构示意图；图4为利用本专利技术半导体圆片级封装方法另一实施方式对圆片进行第一次切割的结构示意图；图5为本专利技术半导体圆片封装方法另一实施方式的流程示意图；图6为图5中步骤S501～S505对应的的半导体圆片的封装结构示意图；图7为图5中步骤S506～S512对应的的半导体圆片的封装结构示意图。具体实施方式请参阅图1，图1为本专利技术半导体圆片级封装方法一实施方式的流程示意图，该方法包括以下步骤：S101：提供半导体圆片，圆片设有若干矩阵排列的芯片，芯片之间设有划片槽；圆片包括正面及背面，芯片的正面即圆片的正面，芯片的背面即圆片的背面；具体地，请结合图2，图2为半导体圆片一实施方式的结构示意图。该圆片100设有正面及背面，其中，正面为功能面，背面为非功能面，该圆片100的正面阵列分布若干芯片10，这些芯片10之间设有若干划片槽20。其中，芯片10为硅基底、锗基底、绝缘体上硅基底其中的一种，芯片10内形成有半导体器件(未图示)及焊盘，半导体器件与焊盘可以位于芯片10的同一侧表面，也可以位于芯片10的不同侧表面。当半导体器件与焊盘位于芯片10的不同侧表面时，利用贯穿芯片10的硅通孔将焊盘与半导体器件电学连接。在本实施例中，半导体器件与焊盘同位于圆片100的正面，半导体器件与焊盘电学连接，利用焊盘将芯片中的电路结构与外电路电连接。S102：在圆片的划片槽处形成至少两相互间隔的凹槽；具体地，可以采用等离子、激光、或刀片在圆片的划片槽处形成至少两相互间隔的凹槽。请参阅图3-图4，图3为利用本专利技术半导体圆片级封装方法一实施方式对圆片进行第一次切割的结构示意图，图4为利用本专利技术半导体圆片级封装方法另一实施方式对圆片进行第一次切割的结构示意图。图3中为在半导体圆片31上利用上述任一方式形成两个相互间隔的凹槽32、33，图4为在半导体圆片41上利用上述任一方式形成三个相互间隔的凹槽41、42、43；当然，在其他实施例中，还可形成多个相互间隔的凹槽，本专利技术对此不作限定。S103：对准两凹槽之间的区域进行切割，以将至少两个芯片分离。具体地，请继续参阅图3和图4，其中，图3中两凹槽32、33之间包括圆片部分34，以圆片部分34分别与两凹槽32、33耦接的两边界a、b为对准基准进行切割；同理，在图4中，可以以边界c、d或者e、f为对准基准进行切割。下面请参照图5至图7具体阐述本专利技术封装方法；其中图5为本专利技术半导体圆片封装方法另一实施方式的流程示意图，图6为图5中步骤S501～S505对应的的半导体圆片的封装结构示意图，图7为图5中步骤S506～S512对应的的半导体圆片的封装结构示意图。S501：提供芯片，芯片表面设有焊盘；请参阅图6a，在本实施例中，半导体圆片600的正面阵列分布若干芯片(图未示)，芯片包括焊盘601、基底603，其中基底603材料为硅，在其他实施例中还可为其他。另外，关于圆片600的详细介绍可参见图2以及图2对应的相关说明。通常在芯片上形成焊盘601的方式为：先在圆片600表面涂覆一层钝化层605以保护圆片600，接着通过曝光显影或者其他手段将钝化层605对应焊盘601的位置形成第一开口，最后所形成的结构如图6a所示。S502：在焊盘表面形成种子层；请参阅图6b，种子层606的材料为铝、铜、金、银其中的一种或几种的混合物，形成种子层606的工艺为溅射工艺或物理气相沉积工艺。当种子层606的材料为铝时，形成种子层606的工艺为溅射工艺，当种子层606的材料为铜、金、银其中的一种，形成种子层606的工艺为物理气相沉积工艺。在本实施例中，种子层606的材料为铝。S503：在种子层表面形成掩膜层，并在掩膜层对应焊盘的位置设置开口；请参阅图6c，在上述种子层606的表面形成掩膜层608，并在掩膜层608位于焊盘601上方的位置设置开口609；具体地，掩膜层608的材料为光刻胶、氧化硅、氮化硅、无定形碳其中的一种或几种，在本实施例中，掩膜层608的材料为光刻胶。利用光刻工艺在掩膜层608内形成贯穿掩膜层608的开口609，开口609位于焊盘601上方，开口609后续用于形成柱状电极。S504：在开口内形成金属端子；请参阅图6d，利用电镀工艺在开口609内形成金属端子610，金属端子610的材料为铜或其他合适的金属；在一个实施方式中，将种子层606与电镀的直流电源的阴极相连接，直流电源的阳极位于硫酸铜的水溶液中，将芯片浸泡在硫酸铜溶液中，然后通直流电，在开口609暴露出的种子层606表面形成铜柱，作为金属端子610。在本实施方式中金属端子610的高度低于开口609的深度，在其他实施方式中金属端子610的高度也可以与开口609的深度相同。S505：去除掩膜层以及金属端子以外的种子层；请参阅图6e，在一个实施方式中，首先利用光刻工艺将芯片表面的掩膜层608上的光刻胶去除，暴露出的种子层606；然后利用湿法刻蚀工艺或干法刻蚀工艺去除暴露出的种子层606，在金属端子610周围保留部分种子层606。S506：预切割在划片槽处形成至少两相互间隔的凹槽；为示意清楚，S506步骤以及之后的步骤示意图将S501-S505步骤中的部分元件省略画出，仅保留圆片700和金属端子701。请参阅图7a，采用激光、等离子、或者刀片切割的方法在圆片700的划片本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种半导体圆片级封装方法，其特征在于，包括：提供半导体圆片，所述圆片设有若干矩阵排列的芯片，所述芯片之间设有划片槽；所述圆片包括正面及背面，所述芯片的正面即所述圆片的正面，所述芯片的背面即所述圆片的背面；在所述圆片的所述划片槽处形成至少两相互间隔的凹槽；对准两凹槽之间的区域进行切割，以将至少两个所述芯片分离。

【技术特征摘要】
1.一种半导体圆片级封装方法，其特征在于，包括：提供半导体圆片，所述圆片设有若干矩阵排列的芯片，所述芯片之间设有划片槽；所述圆片包括正面及背面，所述芯片的正面即所述圆片的正面，所述芯片的背面即所述圆片的背面；在所述圆片的所述划片槽处形成至少两相互间隔的凹槽；对准两凹槽之间的区域进行切割，以将至少两个所述芯片分离。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对准所述两凹槽之间的区域进行切割之前包括：在所述圆片的正面形成塑封层，所述塑封层填充至少两个所述凹槽；对圆片的背面进行研磨直至裸露所述凹槽底部的所述塑封层。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对准两凹槽之间的区域进行切割包括：所述两凹槽之间包括圆片部分，以所述圆片部分分别与所述两凹槽耦接的两边界为对准基准进行切割，切割掉所述两边界内的所述圆片，或者，切割掉所述两凹槽之间的所述圆片以及所述两凹槽之间的部分所述塑封层。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述在圆片的正面形成塑封层之前包括：提供所述芯片，所述芯片表面设有焊盘；在所述焊盘表面形成种子层；在所述种子层表面形成掩膜层，并在所述掩膜层位于焊盘上方的位置设置开口；在所述开口内形成金属端子；去...

【专利技术属性】
技术研发人员：高国华，朱桂林，
申请(专利权)人：通富微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32