一种太阳能硅片的表面缺陷检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种太阳能硅片的表面缺陷检测装置，包含抓取部件、环形轨道、检测部件、驱动系统和控制系统，其中检测部件包含拍照部件一和拍照部件二，所述拍照部件一设于所述吸盘的下方，所述拍照部件一的位置适配所述吸盘的转动轨迹，所述拍照部件一用于拍摄硅片的底面，所述拍照部件二用于拍摄所述硅片的顶面。采用本装置能够通过所述吸盘对所述硅片只需一次取放及旋转即可实现对所述硅片正、反面的拍摄，以便对所述硅片进行外观尺寸及瑕疵的检测，无需将所述硅片进行翻面，简化抓取机构的结构，操作过程短，效率高，检测方便，减少机械损耗，避免硅片产品额外损失，提高外观质量，降低成本。

Surface defect detecting device for solar silicon chip

The surface defects of the present invention relates to a solar wafer detection device, including grasping parts, an annular track, detection unit, driving system and control system, which includes a camera component detecting unit and camera component two, below the camera part arranged on the chuck, the camera rotation track component position adaptation the chuck, the bottom surface of the camera component for shooting a silicon wafer, the photographing part two for shooting the top surface of the silicon wafer. The device can through the suction of the silicon wafer only once to take place and rotation can be realized on the silicon wafer of positive and negative film, detection for the size and appearance defects of the silicon wafer, the wafer without turning the surface, simplify the structure of gripper mechanism, the operation process is short, high efficiency, convenient detection, reducing the mechanical loss, avoid wafer extra losses, improve the appearance quality, reduce the cost.

【技术实现步骤摘要】
一种太阳能硅片的表面缺陷检测装置
本专利技术涉及太阳能硅片检测
，特别是一种太阳能硅片的表面缺陷检测装置。
技术介绍
太阳能板的主要构成部件为太阳能硅片，太阳能硅片的光电转换功能效率不断提升，在民用、国防、航空、航天等诸方面都有极为重要的应用，已成为清净能源中不可或缺的成员之一，业界对太阳能硅片需求殷切，而太阳能硅片的外观品质会直接影响到后续的太阳能电池片的制作和转换效率等，同时太阳能硅片很轻薄，在自动化制造与检测过程中，稍有不慎，即可能造成破损、缺角甚至肉眼无法观察的微细裂缝，降低生产效率，增加生产成本，因此为提升太阳能硅片的质量，需要对太阳能硅片进行检测分级。在对硅片进行外形尺寸、外观缺陷等检测时，需要分别拍摄硅片的上下表面，现有技术在拍照时，常采用先拍摄硅片的一面，然后将硅片进行翻面后再拍摄另一面，该过程时间较长，效率低下，容易造成硅片破损，增加次品率。
技术实现思路
本专利技术的专利技术目的在于克服现有技术在对硅片进行外观检测的过程时间长效率低，机械损耗大，容易造成硅片破损等上述不足，提供一种太阳能硅片的表面缺陷检测装置，缩短机械行程，提高工作效率，减少机械损耗，提高外观质本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种太阳能硅片的表面缺陷检测装置，其特征在于，包括：抓取部件，包含至少一个吸盘(1)，所有所述吸盘(1)位于同一平面；环形轨道(8)，所有所述吸盘(1)均滑动连接于所述环形轨道(8)上；检测部件，包含拍照部件一(10)和拍照部件二(11)，所述拍照部件一(10)设于所述吸盘(1)的下方，所述拍照部件一(10)的位置适配所述吸盘(1)的转动轨迹，所述拍照部件一(10)用于拍摄硅片(12)的底面，所述拍照部件二(11)用于拍摄所述硅片(12)的顶面；驱动系统，驱动所述抓取部件和检测部件；控制系统，控制所述驱动系统。

【技术特征摘要】
1.一种太阳能硅片的表面缺陷检测装置，其特征在于，包括：抓取部件，包含至少一个吸盘(1)，所有所述吸盘(1)位于同一平面；环形轨道(8)，所有所述吸盘(1)均滑动连接于所述环形轨道(8)上；检测部件，包含拍照部件一(10)和拍照部件二(11)，所述拍照部件一(10)设于所述吸盘(1)的下方，所述拍照部件一(10)的位置适配所述吸盘(1)的转动轨迹，所述拍照部件一(10)用于拍摄硅片(12)的底面，所述拍照部件二(11)用于拍摄所述硅片(12)的顶面；驱动系统，驱动所述抓取部件和检测部件；控制系统，控制所述驱动系统。2.根据权利要求1所述的一种太阳能硅片的表面缺陷检测装置，其特征在于，还包含显示部件。3.根据权利要求1所述的一种太阳能硅片的表面缺陷检测装置，其特征在于，还包含上料装置和下料装置，所述上料装置和下料装置的位置适配所述吸盘(1)的转动轨迹，以使每个所述吸盘(1)旋转到所述上料装置和下料装置工位上方时分别实现上料和下料。4.根据权利要求3所述的一种太阳能硅片的表面缺陷检测装置，其特征在于，所述上料装置包含顶升部件(51)和吹气部件(52)。5.根据权利要求3所述的一种太阳能硅片的表面缺陷检测装置，其特征在于，所述拍照部件一(10)位于所述上料装置和下料装置之间，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹志明，张春雷，席劲松，谭平，唐星，赵成龙，
申请(专利权)人：成都福誉科技有限公司，
类型：发明
国别省市：四川,51