【技术实现步骤摘要】
二分区间法的集成电路数据解压电路及方法
本专利技术涉及一种集成电路测试技术,更具体涉及一种集成电路测试中的数据存储技术。
技术介绍
随着集成电路的发展,如何处理越来越庞大的测试数据已成为集成电路测试的关键难题之一。根据ITRS在2010年的报告数据,测试一个芯片,在2009年,仅仅需要85个测试模式数,也只需要压缩比为80;而到2019年,对测试模式数的要求则需要达到20370个,对压缩比的要求则需要达到12000。仅仅十年,模式数增加到240倍,压缩比增加到150倍。关于减少测试数据量的研究,一直是研究的热点,主要可以分为三类:测试集压缩(TestSetCompaction)方法、内建自测试(Built-inSelf-Test,BIST)方法和静态编码压缩方法。(1)测试集压缩方法。其特点是确保在不降低故障覆盖率的情况下,有选择性尝试使用不同的敏化路径,通过算法调整测试立方体(TestTubes)中无关位(Don’tcarebits)的位置,或者将相容的两个或多个测试向量合并成单一测试向量的方法来减少总的测试向量的个数,以期达到测试集最小化或最优化。其优势是所有工作由软件实现,不会增加额外的硬件成本。但其缺点也非常明显,测试向量的个数的减少造成了对非模型故障的覆盖率的降低。本方法另一缺点是压缩后测试集的测试数据量仍然非常庞大,很难一次性完全直接存储在ATE的存储器中。因此,需要与其它方法结合使用。(2)内建自测试方法。其在被测电路中新增一部分电路,该电路专门用于测试,能够完成测试模式生成、测试控制、测试调度和测试结果分析,这样可以不依赖外部的自动测试设备 ...
【技术保护点】
一种二分区间法的集成电路数据解压电路,其特征在于,包含3个寄存器A、寄存器B和寄存器C的寄存器组、1个计数器、第一三态门T1、第二三态门T2、1个加法器和1个控制器;第一三态门T1和第二三态门T2的输入端连接,寄存器C的输出端连接到第一三态门T1和第二三态门T2的输入端。第一三态门T1的输出端连接到寄存器B的输入端,第二三态门T2的输出端连接到寄存器A的输入端,第一三态门T1和第二三态门T2的控制端连接到控制器的第一信号端C1,寄存器A和寄存器B的输出端连接到加法器,加法器的输出端连接到寄存器C,寄存器C的输出端连接到计数器,计数器的输出端作为解压电路的输出端。寄存器C的置位端和移位端分别连接到控制器的第三信号端C3和第四信号端C4,控制器的第二信号端C2作为解压电路的输入端;控制器的第二信号端C2输入需要解压的数据,解压以后的数据从寄存器输出。
【技术特征摘要】
1.一种二分区间法的集成电路数据解压电路,其特征在于,包含3个寄存器A、寄存器B和寄存器C的寄存器组、1个计数器、第一三态门T1、第二三态门T2、1个加法器和1个控制器;第一三态门T1和第二三态门T2的输入端连接,寄存器C的输出端连接到第一三态门T1和第二三态门T2的输入端。第一三态门T1的输出端连接到寄存器B的输入端,第二三态门T2的输出端连接到寄存器A的输入端,第一三态门T1和第二三态门T2的控制端连接到控制器的第一信号端C1,寄存器A和寄存器B的输出端连接到加法器,加法器的输出端连接到寄存器C,寄存器C的输出端连接到计数器,计数器的输出端作为解压电路的输出端。寄存器C的置位端和移位端分别连接到控制器的第三信号端C3和第四信号端C4,控制器的第二信号端C2作为解压电路的输入端;控制器的第二信号端C2输入需要解压的数据,解压以后的数据从寄存器输出。2.根据权利要求1所述的二分区间法的集成电路数据解压电路,其特征在于,加法器采用超前进位加法器构成。3.根据权利要求1所述的二分区间法的集成电路数据解压电路,其特征在于,所述解压电路对数据进行解压的方法包括下述步骤:步骤1:初始化,寄存器A和寄存器B分别置为数据“0”和“1”,寄存器A和寄存器B完成累加移位运算得到0.5,此时寄存器C的值为0.5;步骤2:控制器的第二信号端C2自压缩数据的第一位开始依次输入压缩数据,输入压缩数据的相应位为1时,控制器C1为高电平,控制器C1控制第二三态门T2,将寄存器C的值直接传输到寄存器A,输入压缩数据的相应位为0时,控制器C1为低电平,控制器C1控制第一三态门T1,将寄存器C的值直接传输到寄存器B,重复上述加法以及移位计算,寄存器C的值更新,最终更新数值为0.Y1Y2……Yn,0.Y1Y2……Yn属于区间(0,1);步骤3:将寄存器C的最终更新数值移位到计数器,统计压缩前数据的游程长度依次为Y1、Y2、……Yn,Yn表示为第n个测试向量的游程长度,n为正整数,按游程长度编码输出即可得到解压以后的数据。4.根据权利要求3所述的二分区间法的集成电路数据解压电路,其特征在于,所述压缩数据的压缩方法包括:步骤21:统计原始测试数据的游程长度Y1、Y2、……,Yn,其中,Yn表示为第n个测试向量的游程长度,n为正整数,将该测试向量按0类型游程统计游程长度,直到...
【专利技术属性】
技术研发人员:詹文法,程一飞,张振林,
申请(专利权)人:安庆师范大学,
类型:发明
国别省市:安徽,34
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