【技术实现步骤摘要】
本技术属于半导体器件
,特别涉及一种用于CSP共晶焊接的压合装置。
技术介绍
CSP封装,即芯粒级封装是近几年发展起来的封装形式,目前已有上百种产品,并且不断出现一些新的产品。尽管如此,国内CSP技术还是处于初级阶段,没有形成统一的标准。现今市场上的CSP产品中芯粒焊盘与封装基片焊盘的连接方式大多采用倒装片键合,封装基板也采用几十年前的陶瓷基板。但是把硅芯粒安装到陶瓷基板上之后,由于陶瓷基板与PCB基板的热膨胀系数不匹配、差别太大,很难将陶瓷基板安置到PCB基板上。为了解决上述问题,一般主要通过共晶的方法把芯粒连接在基板上,即在基板上点上膏状共晶焊料,再将若干芯粒置于基板的设定位置上,然后在一定的温度和压力下,使芯粒与共晶焊料发生共晶反应,进而使芯粒和基板结合在一起。虽然共晶工艺能显著提高芯粒的可靠性,然而,共晶工序也存在一定的缺陷:1.现有的共晶方法需将芯粒与基板一一压合,从而使得共晶时间较长;2.芯粒和基板的结合力问题,致使共晶工艺的结合力不够,共晶精度不精确及CSP成品的性能低。 因此,研发一种能够减短芯粒共晶时间,却能够提高芯粒共晶精度及CSP成品的性能的用于CSP共晶焊接的压合装置是非常有必要的。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是提供一种能够减短芯粒共晶时间,却能够提高芯粒共晶精度及CSP成品的性能的用于CSP共晶焊接的压合装置。为解决上述技术问题,本技术的技术方案为:一种用于CSP共晶焊接的压合装置,所述压合装置包括一压板,在所述压板的下表面均匀分布有垂直向下的T型探针,其创新点在于:所述压板上均匀分布有若干个与T型探针一一对应的圆孔 ...
【技术保护点】
一种用于CSP共晶焊接的压合装置,所述压合装置包括一压板,在所述压板的下表面均匀分布有垂直向下的T型探针,其特征在于:所述压板上均匀分布有若干个与T型探针一一对应的圆孔,在所述圆孔内设有横截面为T型的套筒,且套筒的内腔开有一贯穿的通孔;在所述套筒的上端设有调节装置,该调节装置包括调节手轮和调节杆,且调节杆的下端插入套筒的通孔内,并与通孔螺纹连接;在所述套筒的下端设有T型探针,且T型探针的上端插入套筒的通孔内,且在所述调节装置和T型探针之间连有缓冲弹簧;在所述套筒的底端还连有一限位套,所述限位套为圆柱形的罩筒,其底端带有端盖,且端盖中心设有一中心孔,该中心孔的内径与T型探针的下端外径相同。
【技术特征摘要】
1.一种用于CSP共晶焊接的压合装置,所述压合装置包括一压板,在所述压板的下表面均匀分布有垂直向下的T型探针,其特征在于:所述压板上均匀分布有若干个与T型探针一一对应的圆孔,在所述圆孔内设有横截面为T型的套筒,且套筒的内腔开有一贯穿的通孔;在所述套筒的上端设有调节装置,该调节装置包括调节手轮和调节...
【专利技术属性】
技术研发人员:贾辰宇,孙智江,
申请(专利权)人:海迪科南通光电科技有限公司,
类型:新型
国别省市:江苏;32
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