半导体装置制造方法及图纸

技术编号:12060579 阅读:98 留言:0更新日期:2015-09-17 11:00
本发明专利技术涉及半导体装置,具备:硅基板,包含有:第一部分,具有第一面;和第二部分;具有与所述第一面之间的角度为125度以上126度以下的第二面;第一半导体元件,设置在所述第一部分;第一半导体层,设置在所述第二面之上;以及第二半导体元件,设置在所述第一半导体层。

【技术实现步骤摘要】
【专利说明】半导体装置相关申请的引用:本申请基于2014年3月13日申请的日本专利申请第2014 —050789号的优先权利益,并且要求该优先权利益,在本申请中通过引用包含该在先申请的全部内容。
本专利技术的实施方式一般而言涉及半导体装置。
技术介绍
例如,有在硅基板的(111)面上设置含有氮化镓的半导体元件的例子。另一方面,也有在硅基板的(100)面上设置半导体元件的例子。例如,还有将在(111)面上形成的半导体元件和在(100)面上形成的半导体元件层叠而成的半导体装置。在半导体装置中,要求高性能且稳定的特性。
技术实现思路
本专利技术的实施方式提供一种高性能且特性稳定的半导体装置。实施方式提供一种半导体装置,具备:娃基板,包含有:第一部分,具有第一面;和第二部分;具有与所述第一面之间的角度为125度以上126度以下的第二面;第一半导体元件,设置在所述第一部分;第一半导体层,设置在所述第二面之上;以及第二半导体元件,设置在所述第一半导体层。实施方式能够获得高性能且特性稳定的半导体装置。【附图说明】图1(a)?图1(c)是示例实施方式的半导体装置的示意图。图2(a)?图2(d)是本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种半导体装置,其中,具备:硅基板,包含有:第一部分,具有第一面;和第二部分;具有与所述第一面之间的角度为125度以上126度以下的第二面;第一半导体元件,设置在所述第一部分;第一半导体层,设置在所述第二面之上;以及第二半导体元件,设置在所述第一半导体层。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:猪原正弘
申请(专利权)人:株式会社东芝
类型:发明
国别省市:日本;JP

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