一种抗单粒子翻转的自纠错集成电路及其纠错方法技术

本发明专利技术属于单粒子翻转容错技术领域，提供了一种抗单粒子翻转的自纠错集成电路及其纠错方法。该自纠错集成电路及其纠错方法是采用双模冗余方式对集成电路进行加固，每一功能单元组包括两个互为冗余的功能单元，在其中一功能单元中集成流水线管理功能，自纠错单元对该功能单元进行流水线控制，使得该功能单元执行两次，得到两个执行结果。则在基于错误只发生在功能单元组中某一功能单元的某一时刻的前提下，通过该功能单元的两次执行结果与另一功能单元的执行结果进行比较，即可实现自纠错功能。相对于现有的三模冗余加固技术，该抗单粒子翻转的自纠错集成电路中需添加的功能模块和布线减少，减小了集成电路的面积，从而提高了系统工作的可靠性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于单粒子翻转容错
，尤其涉及一种主要应用在空间设备中的抗单粒子翻转的自纠错集成电路及其纠错方法。
技术介绍
微处理器是各类空间设备(如:卫星、运载火箭、宇宙飞船等)中的核心器件之一。在外太空，由多种射线和单个重离子组成的宇宙射线具有极强的穿透力，会对微处理器造成极大损害，容易使得微处理器中半导体器件出现单粒子翻转，即使得半导体器件的逻辑状态发生翻转，从而导致微处理器的功能失效。因此，空间设备中微处理器的抗辐照能力尤为重要。为解决空间设备中微处理器的单粒子翻转问题，现有技术提出了一种三模冗余加固技术。该技术是对微处理器进行功能划分，并利用三个互为冗余的功能模块实现同一功能，在三个实现相同功能的功能模块的输出端口，增加一多数表决器，用以对三个功能模块输出的数据进行选择以实现纠错的目的。但前述三模冗余加固技术需要额外添加的功能模块和布线较多，使得硬件资源和系统功能消耗较大，且使得微处理器面积增大为原来的三倍。同时，由于面积增大，从而相应增加了辐照面积，降低了微处理器的可靠性。
技术实现思路
本专利技术实施例的目的在于提供一种抗单粒子翻转的自纠错集成电路，旨在解决本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种抗单粒子翻转的自纠错集成电路，其特征在于，所述自纠错集成电路包括：至少一个功能单元组，每一功能单元组包括互为冗余的第一功能单元和第二功能单元；与所述功能单元组一一对应连接的自纠错单元，各自纠错单元级联连接，且上一级自纠错单元的输出信号作为下一级自纠错单元的输入信号，所述自纠错单元用于接收输入信号，将所述输入信号发送给相应的所述第一功能单元和所述第二功能单元，并控制所述第一功能单元执行两次，若所述第一功能单元的第一次执行结果与所述第二功能单元的执行结果不一致，则将所述第一功能单元的第一次执行结果和所述第二功能单元的执行结果中、与所述第一功能单元的第二次执行结果相同的结果作为输出信号输出。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：邱嘉敏，李孝远，陈益冬，罗春华，
申请(专利权)人：深圳市国微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44