一种磁传感装置的制备工艺制造方法及图纸

技术编号:11231006 阅读:69 留言:0更新日期:2015-03-29 18:36
本发明专利技术揭示了一种磁传感装置的制备工艺,包括如下步骤:在基底的表面设置沟槽;在基底表面沉积磁性材料,形成磁性材料层;磁性材料层包括设置于基底表面的第一部分及沟槽内的第二部分;回刻位于基底表面的磁性材料层的第一部分;沉积第一介质材料;沉积光刻胶,曝光,显影;刻蚀形成ARM图形;沉积第二介质材料;通过光刻工艺和刻蚀工艺形成接触窗口;沉积金属层,并刻蚀,形成感应单元的电极层。本发明专利技术提出的磁传感装置的制备工艺,通过提高第三轴的磁性材料的物理厚度,从而增加第三轴的感应能力;同时不会增加感应单元的磁性材料在第一、第二轴方向的厚度。因此,本发明专利技术工艺可提高磁传感装置的感应能力及灵敏度。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术揭示了一种磁传感装置的制备工艺,包括如下步骤:在基底的表面设置沟槽;在基底表面沉积磁性材料,形成磁性材料层;磁性材料层包括设置于基底表面的第一部分及沟槽内的第二部分;回刻位于基底表面的磁性材料层的第一部分;沉积第一介质材料;沉积光刻胶,曝光,显影;刻蚀形成ARM图形;沉积第二介质材料;通过光刻工艺和刻蚀工艺形成接触窗口;沉积金属层,并刻蚀,形成感应单元的电极层。本专利技术提出的磁传感装置的制备工艺,通过提高第三轴的磁性材料的物理厚度,从而增加第三轴的感应能力;同时不会增加感应单元的磁性材料在第一、第二轴方向的厚度。因此,本专利技术工艺可提高磁传感装置的感应能力及灵敏度。【专利说明】一种磁传感装置的制备工艺
本专利技术属于半导体工艺
,涉及一种磁传感器,尤其涉及一种磁传感装置的制备工艺。
技术介绍
磁传感器按照其原理,可以分为以下几类:霍尔元件,磁敏二极管,各项异性磁阻元件(AMR),隧道结磁阻(TMR)元件及巨磁阻(GMR)元件、感应线圈、超导量子干涉磁强计坐寸ο 电子罗盘是磁传感器的重要应用领域之一,随着近年来消费电子的迅猛发展,除了导航系统之外,还有越来越多的智能手机和平板电脑也开始标配电子罗盘,给用户带来很大的应用便利,近年来,磁传感器的需求也开始从两轴向三轴发展。两轴的磁传感器,即平面磁传感器,可以用来测量平面上的磁场强度和方向,可以用X和Y轴两个方向来表示。 以下介绍现有磁传感器的工作原理。磁传感器采用各向异性磁致电阻(Anisotropic Magneto-Resistance)材料来检测空间中磁感应强度的大小。这种具有晶体结构的合金材料对外界的磁场很敏感,磁场的强弱变化会导致AMR自身电阻值发生变化。 在制造、应用过程中,将一个强磁场加在AMR单元上使其在某一方向上磁化,建立起一个主磁域,与主磁域垂直的轴被称为该AMR的敏感轴,如图1所示。为了使测量结果以线性的方式变化,AMR材料上的金属导线呈45°角倾斜排列,电流从这些导线和AMR材料上流过,如图2所示;由初始的强磁场在AMR材料上建立起来的主磁域和电流的方向有45°的夹角。 当存在外界磁场Ha时,AMR单元上主磁域方向就会发生变化而不再是初始的方向,那么磁场方向M和电流I的夹角Θ也会发生变化,如图3所示。对于AMR材料来说,Θ角的变化会弓I起AMR自身阻值的变化,如图4所示。 通过对AMR单元电阻变化的测量,可以得到外界磁场。在实际的应用中,为了提高器件的灵敏度等,磁传感器可利用惠斯通电桥检测AMR阻值的变化,如图5所示。R1/R2/R3/R4是初始状态相同的AMR电阻,当检测到外界磁场的时候,R1/R2阻值增加Λ R而R3/R4减少AR。这样在没有外界磁场的情况下,电桥的输出为零;而在有外界磁场时,电桥的输出为一个微小的电压AV。 目前的三轴传感器是将一个平面(X、Y两轴)传感部件与Z方向的磁传感部件进行系统级封装组合在一起,以实现三轴传感的功能(可参考美国专利US5247278、US5952825、US6529114、US7126330、US7358722);也就是说需要将平面传感部件及Z方向磁传感部件分别设置于两个圆晶或芯片上,最后通过封装连接在一起。目前,在单圆晶/芯片上无法同时实现三轴传感器的制造。 为了使三轴磁传感器可以设置于一个圆晶或芯片上,本 申请人:于2012年12月24日申请了一件专利技术专利,名称为《一种磁传感装置的制备工艺》,专利号为201210563952.5 ;该工艺中,将导磁单元设置于沟槽中,导磁单元用于感应Z轴方向的磁场;感应单元靠近沟槽设置,能接收导磁单元的信号,并根据该信号测量出Z轴方向的磁场。 然而,沟槽中的导磁单元由于是沉积在倾斜的沟槽侧壁上,因此其厚度远低于沉积于基底上的感应单元的厚度,而导磁单元的厚度越薄其性能越差;同时,如果感应单元(感应X轴、Y轴方向的磁场)的厚度较厚,也会损失X轴、Y轴方向的灵敏度。 有鉴于此,如今迫切需要设计一种新的磁传感装置制备工艺,以便克服现有磁传感装置的上述缺陷。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是:提供一种磁传感装置的制备工艺,可提高磁传感装置的感应能力。 为解决上述技术问题,本专利技术采用如下技术方案: 一种磁传感装置的制备工艺,所述制备工艺包括如下步骤: 步骤S1、在基底的表面设置沟槽; 步骤S2、在包含有沟槽的基底表面沉积磁性材料,形成磁性材料层;磁性材料层包括设置于基底表面的第一部分及沟槽内的第二部分;磁性材料层的第一部分的厚度大于200A、小于 5000A ; 步骤S3、回刻位于基底表面的磁性材料层的第一部分,保留第一部分的厚度为0.3至2.5倍第二部分的厚度; 步骤S4、沉积第一介质材料,形成第一介质材料层; 步骤S5、沉积光刻胶,曝光,显影; 步骤S6、刻蚀形成ARM图形,去除部分磁性材料,去除光刻胶;在基底上分别形成感应单元的磁性材料层、导磁单元;导磁单元的主体部分形成于沟槽内,并有部分露出沟槽至基底表面,用以感应第三方向的磁信号,并将该磁信号输出到感应单元进行测量;感应单元的磁性材料层形成于沟槽外,感应单元用以测量第一方向或/和第二方向的磁场,结合导磁单元输出的磁信号,能测量被导磁单元引导到第一方向或/和第二方向的第三方向磁场;第一方向、第二方向、第三方向两两相互垂直; 步骤S7、沉积第二介质材料; 步骤S8、通过光刻工艺和刻蚀工艺形成接触窗口 ; 步骤S9、沉积金属层,并刻蚀,形成感应单元的电极层。 一种磁传感装置的制备工艺,所述制备工艺包括如下步骤: 步骤S1、在基底的表面设置沟槽; 步骤S2、在包含有沟槽的基底表面沉积磁性材料,形成磁性材料层;磁性材料层包括设置于基底表面的第一部分及沟槽内的第二部分; 步骤S3、回刻位于基底表面的磁性材料层的第一部分; 步骤S4、沉积第一介质材料,形成第一介质材料层; 步骤S5、沉积光刻胶,曝光,显影; 步骤S6、刻蚀形成ARM图形,去除部分磁性材料,去除光刻胶; 步骤S7、沉积第二介质材料; 步骤S8、通过光刻工艺和刻蚀工艺形成接触窗口 ; 步骤S9、沉积金属层,并刻蚀,形成感应单元的电极层。 作为本专利技术的一种优选方案,所述步骤S2中,磁性材料层的第一部分的厚度大于200A、小于 100Ao 作为本专利技术的一种优选方案,所述步骤S3中,保留第一部分的厚度是沟槽内第二部分的厚度的0.5至1.2倍。 作为本专利技术的一种优选方案,所述步骤S6中,在基底上分别形成感应单元的磁性材料层、导磁单元; 所述导磁单元的主体部分形成于沟槽内,并有部分露出沟槽至基底表面,用以感应第三方向的磁信号,并将该磁信号输出到感应单元进行测量;所述感应单元的磁性材料层形成于沟槽外,感应单元用以测量第一方向或/和第二方向的磁场,结合导磁单元输出的磁信号,能测量被导磁单元引导到第一方向或/和第二方向的第三方向磁场;第一方向、第二方向、第三方向两两相互垂直。 本专利技术的有益效果在于:本专利技术提出的磁传感装置的制备工艺,通过提高第三轴(导磁单元)的磁性材料的物理厚度,从而增加第三轴的感应能力;同时不会增加感应单元的磁本文档来自技高网
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一种磁传感装置的制备工艺

【技术保护点】
一种磁传感装置的制备工艺,其特征在于,所述制备工艺包括如下步骤:步骤S1、在基底的表面设置沟槽;步骤S2、在包含有沟槽的基底表面沉积磁性材料,形成磁性材料层;磁性材料层包括设置于基底表面的第一部分及沟槽内的第二部分;磁性材料层的第一部分的厚度大于200A、小于5000A;步骤S3、回刻位于基底表面的磁性材料层的第一部分,保留第一部分的厚度为0.3至2.5倍第二部分的厚度;步骤S4、沉积第一介质材料,形成第一介质材料层;步骤S5、沉积光刻胶,曝光,显影;步骤S6、刻蚀形成ARM图形,去除部分磁性材料,去除光刻胶;在基底上分别形成感应单元的磁性材料层、导磁单元;导磁单元的主体部分形成于沟槽内,并有部分露出沟槽至基底表面,用以感应第三方向的磁信号,并将该磁信号输出到感应单元进行测量;感应单元的磁性材料层形成于沟槽外,感应单元用以测量第一方向或/和第二方向的磁场,结合导磁单元输出的磁信号,能测量被导磁单元引导到第一方向或/和第二方向的第三方向磁场;第一方向、第二方向、第三方向两两相互垂直;步骤S7、沉积第二介质材料;步骤S8、通过光刻工艺和刻蚀工艺形成接触窗口;步骤S9、沉积金属层,并刻蚀,形成感应单元的电极层。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:杨鹤俊张挺
申请(专利权)人:上海矽睿科技有限公司
类型:发明
国别省市:上海;31

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