电路板传输线测试连接头制造技术

本实用新型专利技术涉及一种电路板传输线测试连接头，其包括底座以及探头。该电路板传输线测试连接头可替代传统的标准SMA连接头对电路板外层传输线进行测试。底座在下表面开设有避让槽，且探头的靠近下表面的部分位于该避让槽内，从而座体部可以通过该避让槽与传输线错开而不会压在传输线上造成短路，从而该连接头可以直接从外层传输线的一侧与传输线连接后进行测试，而不必在电路板上对外层传输线的测试端开设过孔，可以避免测试时信号在过孔段产生残端效应分流现象及拐点处发生的反射现象，且也不会改变传输线及阻焊表面的空气层介电常数值，从而提高测试精度及准确性。

【技术实现步骤摘要】
电路板传输线测试连接头
本技术涉及印制电路板测试领域，尤其是涉及一种电路板传输线测试连接头。
技术介绍
随着4G通信技术的发展，高速电子产品已成为行业发展的趋势，因而对于印制电路板(PCB)中传输线的控制要求也越来越高。对传输线的控制除要求提高对传输线的阻抗控制精度及降低传输过程的损耗外，还要求对传输线的特性阻抗、损耗测量结果更接近其真实值。外层传输线的阻抗设计可分两种情况:一种是无阻焊模式，即信号层一侧为空气；另外一种是有阻焊模式，信号层一侧设置阻焊层，阻焊层外侧为空气。为验证设计阻抗值的偏差，传统的测试过程中普遍使用标准SMA连接头进行测试，通过网络分析仪测量其阻抗或损耗。然而，使用标准SMA连接头对外层传输线的阻抗或损耗值进行测试时，一般都需设计传输线过孔。当外层无阻焊时，如果从传输线所在层正面测量将造成短路，因而只能从传输线所在层的背面进行连接测量；当外层有阻焊时，大都也采用SMA连接头从传输线所在层的背面通过传输线过孔相连，然后将信号层放置在测试台面进行测试。然而由于台面材料的介电常数与空气不同，会影响阻抗及损耗测量值的真实性。此外，在信号过孔处还可能造成孔与线的阻抗不匹配、信号拐角处反射，增大损耗。当采用从传输线所在层一侧将SMA接头与传输线连接测量时，标准SMA连接头压盖在传输线上小范围的阻焊处，虽然可以避免短路，但会造成该处正面阻焊层的介电常数的变化，将引起阻抗波动，并且留有一段信号孔，信号孔的长度相当一段残端(stub)，造成信号在此处分流，产生谐振，增大损耗。
技术实现思路
基于此，有必要提供一种能够提高测试精度的电路板传输线测试连接头。 一种电路板传输线测试连接头，包括: 底座，包括座体部以及连接部，所述座体部具有相对的上表面和下表面，所述连接部设在所述上表面上，且所述连接部的轴向开设有贯穿至所述下表面的通孔；以及 探头，设在所述通孔内，且一端凸出或持平于所述下表面，所述探头的外周壁与所述通孔的孔壁之间设有绝缘层； 所述座体部在所述下表面开设有避让槽，所述避让槽延伸至所述座体部的侧边并在所述侧边形成开口，所述避让槽的最大深度小于所述座体部的高度，所述绝缘层及所述探头的靠近所述下表面的部分位于所述避让槽内。 在其中一个实施例中，所述避让槽围绕所述绝缘层的部分外周壁设置，并延伸至所述座体部的一侧边，所述避让槽的槽底呈弧面形状。 在其中一个实施例中，所述连接部为空心的圆柱体结构，且外周壁设有用于与外接设备连接的外螺纹。 在其中一个实施例中，所述探头包括具有稳定特性阻抗值的空心铜棒以及弹性抵接件，所述弹性抵接件设在所述空心铜棒的至少一端。 在其中一个实施例中，所述弹性抵接件为套设在所述空心铜棒两端的弹簧。 在其中一个实施例中，所述探头的长度大于所述绝缘层的长度，且所述探头的两端伸出所述绝缘层。 在其中一个实施例中，所述避让槽的开口角度为60°?120°。 在其中一个实施例中，所述座体部上设有螺纹固定孔，所述螺纹固定孔从所述上表面贯穿至所述下表面。 在其中一个实施例中，所述座体部上设有用于与外接设备插接的插件孔。 上述电路板传输线测试连接头可替代传统的标准SMA连接头对电路板外层传输线进行测试。由于座体部在下表面开设有避让槽，且探头的靠近下表面的部分位于该避让槽内，从而座体部可以通过该避让槽与传输线错开而不会压在传输线上造成短路，从而该连接头可以直接从外层传输线的一侧与传输线连接后进行测试，而不必在电路板上对外层传输线的测试端开设过孔，可以避免测试时信号在过孔段产生残端效应分流现象及拐点处发生的反射现象，且也不会改变传输线及阻焊表面的空气层介电常数值，从而提高测试精度及准确性。 【附图说明】 图1为一实施方式的电路板传输线测试连接头的结构示意图； 图2为图1所不连接头的另一视角结构不意图； 图3为图1所示连接头的另一视角结构示意图； 图4为图1所述连接头在电路板上的测试示意图。 【具体实施方式】 为了便于理解本技术，下面将参照相关附图对本技术进行更全面的描述。附图中给出了本技术的较佳实施例。但是，本技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本技术的公开内容的理解更加透彻全面。 需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。 除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。 请结合图1、图2和图3，一实施方式的电路板传输线测试连接头(以下简称为连接头)10用于连接外接测试设备与电路板，以对电路板上的传输线进行阻抗或损耗测试。连接头10包括底座100和探头200。 底座100优选不锈钢材质制作，包括座体部110和连接部120。座体部110呈板状结构，具有相对的上表面112和下表面114。连接部120设在上表面112上。连接部120的轴向开设有通孔(图中未标示)。该通孔从连接部120的一端依次贯穿整个连接部120及座体部110。 在本实施方式中，连接部120为空心的圆柱体结构。连接部120的外周壁设有外螺纹。连接部120可通过该外螺纹与外接设备螺纹连接。可理解，在其他实施方式中，连接部120的形状不限于此，如也可以为四面柱体、六面柱体等其他柱体结构；且连接部120与外接设备的连接方式也不限于螺纹连接，如还可以为卡扣等连接方式等。 探头200设在通孔内。探头200的一端凸出或持平于下表面，用于与电路板上的传输线抵接。探头200的外周壁与通孔的孔壁之间设有绝缘层300。在本实施方式中，探头200通过该绝缘层300与通孔的孔壁抵接，从而被固定在通孔内。绝缘层300包裹探头200的外周壁，从而将探头200与底座100绝缘，以避免短路对测试过程造成干扰。 探头200的长度大于绝缘层300的长度，从而探头200的两端伸出绝缘层300。本实施方式的探头200包括空心铜棒210以及弹性抵接件220。空心铜棒210采用标准铜棒制作，特性阻抗值稳定。空心铜棒210的表面镀有特定阻抗值稳定的抗氧化层(图未示)，如金层，以减缓空心铜棒210的氧化，保证探头200性能的稳定。 弹性抵接件220有两个，分别设在空心铜棒210的两端。在本实施方式中，弹性抵接件220为套设在空心铜棒210两端的弹簧，一端用于与电路板上的传输线抵接且形成通路，另一端用于与外接设备抵接且形成通路。 可理解，在其他实施方式中，探头200的结构不限于上面所述，如可以没有弹性抵接件或者只有一个弹性抵接件等。 进一步，座体部110从下表面114向上表面112的方向开设有避让槽116。避让槽116延伸至座体部110的侧边并在相应的侧边形成开口。绝缘层300的靠近下表面114的部分及探头200的靠近下表面114本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电路板传输线测试连接头，其特征在于，包括：底座，包括座体部以及连接部，所述座体部具有相对的上表面和下表面，所述连接部设在所述上表面上，且所述连接部的轴向开设有贯穿至所述下表面的通孔；以及探头，设在所述通孔内，且一端凸出或持平于所述下表面，所述探头的外周壁与所述通孔的孔壁之间设有绝缘层；所述座体部在所述下表面开设有避让槽，所述避让槽从下表面延伸至所述座体部的侧边并在所述侧边形成开口，所述避让槽的最大深度小于所述座体部的高度，所述绝缘层及所述探头的靠近所述下表面的部分位于所述避让槽内。

【技术特征摘要】
1.一种电路板传输线测试连接头，其特征在于，包括: 底座，包括座体部以及连接部，所述座体部具有相对的上表面和下表面，所述连接部设在所述上表面上，且所述连接部的轴向开设有贯穿至所述下表面的通孔；以及 探头，设在所述通孔内，且一端凸出或持平于所述下表面，所述探头的外周壁与所述通孔的孔壁之间设有绝缘层； 所述座体部在所述下表面开设有避让槽，所述避让槽从下表面延伸至所述座体部的侧边并在所述侧边形成开口，所述避让槽的最大深度小于所述座体部的高度，所述绝缘层及所述探头的靠近所述下表面的部分位于所述避让槽内。2.如权利要求1所述的电路板传输线测试连接头，其特征在于，所述避让槽围绕所述绝缘层的部分外周壁设置，并延伸至所述座体部的一侧边，所述避让槽的槽底呈弧面形状。3.如权利要求1所述的电路板传输线测试连接头，其特征在于，所述连接部为空心的圆柱体结构，且外周壁...

【专利技术属性】
技术研发人员：范红，王红飞，陈蓓，刘文敏，
申请(专利权)人：广州兴森快捷电路科技有限公司，深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司，宜兴硅谷电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44