用于半导体的感测元件制造技术

技术编号:10813242 阅读:74 留言:0更新日期:2014-12-24 18:03
本发明专利技术公开了用于半导体的感测元件。一个实施例涉及一种装置,包括高压侧半导体、低压侧半导体、与高压侧半导体相邻布置的第一感测元件。第一感测元件与高压侧半导体隔离,并且第一感测元件可直接连接至处理装置。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种装置,包括:高压侧半导体,低压侧半导体,与所述高压侧半导体相邻布置的第一感测元件,其中所述第一感测元件与所述高压侧半导体隔离;其中所述第一感测元件可直接连接至处理装置。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:S·威尔科费尔A·基普
申请(专利权)人:英飞凌科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:德国;DE

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1