本发明公开了一种ATE测试机台板间同步校准系统，属于芯片测试技术领域，具体包括控制板卡、若干个子板卡和通讯母板；所述控制板卡用于收集各个子板卡的信息，并统一发送指令至各个子板卡；所述通讯母板用于连接控制板卡和子板卡，进行控制板卡和子板卡...

本发明属于PCB板技术领域，提供了一种抗寄生电感的PCB叠层结构，包括两组PCB板主体、内连接杆、绝缘筒、外连接套和固定组件，绝缘筒和外连接套依次套设在内连接杆上，内连接杆的两端均设置有引出杆。旨在解决现有技术中固定PCB板式导致高压电...

本发明公开了一种存储芯片稀疏失效单元电路的修复方法，属于芯片测试技术领域，具体包括：芯片测试机获取失效单元电路信息，为特定区域的失效单元分配修复方案，并将剩余的稀疏失效单元信息存储到哈希表中，在任一区域，构建X‑Y和Y‑X哈希表结构，X...

本发明公开了一种基于测试设备的存储芯片的修复方法，属于芯片测试技术领域，具体包括：采集存储芯片中的失效单元电路信息；将区块编号作为存储键值，失效单元电路坐标作为存储值，构建X‑Y和Y‑X哈希表结构；对哈希表进行遍历，若存在超过预设阈值的...

本发明公开了一种高精度可调基准电压源，属于信号控制技术领域，具体包括：设置基准电压源，控制数据处理单元获取校准数据，生成校准算法。存储配置数据、校准数据和温度器件误差；读取存储数据，基于FPGA将数据转化为拟合数据，发送至数据转换单元；...

本发明公开了一种用于提升精度的校准数据存储以及调用方法，属于芯片测试技术领域，具体包括：调试通道板，生成专属ID并写入EEPROM；选择对应信号，计算偏移和增益参数，存储并校准ADC；对专用测试芯片进行DC校准，将数据存储在EWS和通道...

本发明公开了一种用于存储芯片测试机向量产生器的突发绕码系统，属于芯片测试技术领域，具体包括：在存储芯片上建立一个坐标系，产生逻辑地址（x，y），使用地址匹配算法将逻辑地址转换为物理地址（u，v），预先存储所有X/Y地址位对应的物理地址，...

本发明公开了一种用于存储器FT测试的DPS电源板卡，属于芯片测试技术领域，具体包括：电源模块，用于将测试机台提供的电源转换为若干种不同的电压电源；CPU模块，用于上电后配置各个FPGA的程序，接收上位机的指令转发给各个FPGA，并回读汇...

本发明公开了一种双向可控的芯片限流检测电路，属于电流保护技术领域，包括控制回路、电流限制回路和过流检测回路，其中控制回路包括电阻R1和MOS驱动器，R1为MOS驱动器的LED限流电阻，用于防止LED电流过大损坏；电流限制回路包括MOS驱...

本发明公开了一种具有主动保护功能可调参数的双脉冲测试储能装置，属于储能测试技术领域，具体包括储能元件、储能参数选择电路、电流检测电路、强制续流电路、电流信号调理电路、过电流比较电路、保护控制电路、储能参数选择控制电路、上位机和控制电源；...

本发明公开了一种用于存储器FT测试的特定适配装置，属于芯片测试技术领域，具体包括自动化分选机、ATE测试机、对接机构和翻转机构，其中，所述对接机构用于对接所述自动化分选机和所述ATE测试机；所述对接机构包括基础机械框架、上下浮动机构、树...

本实用新型属于保护电路技术领域，其目的在于提供一种过流保护电路

本发明公开了一种用于存储芯片

本实用新型涉及集成电路技术领域，具体的说是一种集成电路测试设备上测试板间的欧差对接机构，包括机构主体，通过将滚轮与可折叠握把传动配合，替代原有的下压组件以及下压轴配合，由于滚轮自身可转动，在下移的过程中将水平方向的分力通过转动的方式消耗...

本实用新型涉及测试板对接技术领域，具体的说是一种探针与测试板对接锁紧结构，包括底座，所述底座顶部固定安装有安装顶板，安装顶板底部错位安装有平移滑块，平移滑块顶部固定安装有联动滚轴，联动滚轴外侧滑动安装有摆杆旋转座，摆杆旋转座外侧固定安装...

本发明公开了一种基于遗传算法的存储芯片冗余修复方案生成方法

本发明涉及存储器测试仪技术领域，公开了一种用于存储芯片测试机向量产生器的微处理器系统，包括：指令域：用于处理向量产生时各种指令的解析和执行；地址域：用于生成被测存储器件的地址；数据域：用于产生被测存储器件的数据；控制域：用于控制外部DU...

本实用新型涉及测试机技术领域，具体的说是一种测试机的高密度连接器对接结构，包括测试安装底板，所述测试安装底板固定安装有气缸，气缸的输出端固定连接有拉杆，拉杆外壁固定连接有若干拔插滑槽，拔插滑槽滑动连接在线性导轨上，当连接器需要对接时，只...

本发明公开了一种基于fail周期的ATE测试方法及系统，属于半导体测试技术领域，具体包括：书写波形数据文件并进行编译，将波形数据文件转化为FPGA阵列能够识别的格式；将编译后的波形数据加载至FPGA阵列，开始运行波形指令到FPGA阵列，...

本发明公开了一种用于存储芯片晶圆测试方法及系统，属于晶圆测试技术领域，具体包括系统监控板、探针台、探针卡、驱动单元和电信号检测单元，其中：系统监控板与探针台通过联锁电缆连接进行信息交互，系统监控板通过控制信号连接驱动单元；驱动单元包括电...