一种用于存储芯片测试机向量产生器的微处理器系统技术方案

本发明专利技术涉及存储器测试仪技术领域，公开了一种用于存储芯片测试机向量产生器的微处理器系统，包括：指令域：用于处理向量产生时各种指令的解析和执行；地址域：用于生成被测存储器件的地址；数据域：用于产生被测存储器件的数据；控制域：用于控制外部DUT的管脚资源和测试机内部通道的映射关系；向量缓存器：用于接收产生的向量并输出至外部的时序模块和比较模块；微处理器：上位机将指令发送给微处理器的解析模块；解析模块解析指令得到操作码和操作数，并发送给执行模块；所述的执行模块根据操作码的分类执行不同的操作，执行后的指令和标志通过输出模块输出到外部的地址域和数据域。相比于现有技术，本发明专利技术提高了工作效率。本发明专利技术提高了工作效率。本发明专利技术提高了工作效率。

【技术实现步骤摘要】
一种用于存储芯片测试机向量产生器的微处理器系统


[0001]本专利技术涉及存储器测试仪
，具体涉及一种用于存储芯片测试机向量产生器的微处理器系统。

技术介绍

[0002]集成电路产业的发展关键的就是测试，集成电路测试贯穿在集成电路设计、芯片制造、封装及集成电路应用的全过程。测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。测试内容可以归纳为两大类：参数测试与功能测试。参数测试主要是直流参数测试，在DUT管脚施加电压或电流测出具体的参数值；而功能测试就是逻辑测试，根据向量真值表，施加预定的激励，实现预期逻辑功能的一种测试。
[0003]从测试芯片的种类分，可以分为SOC测试仪、模拟测试仪和存储器测试仪等。存储测试仪区别于普通的SOC测试仪就是测试向量大，要存储的信息多。在存储芯片测试设备中，测试向量的产生和普通的SOC测试设备产生的方法不一样，因为存储芯片测试需要大量的测试向量，测试向量的种类和深度都不一样但又遵循一定的规则。而普通的SOC测试设备，地址和测试数据没有明显的关联关系。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种用于存储芯片测试机向量产生器的微处理器系统，用以解决上述技术问题。
[0005]本专利技术的目的可以通过以下技术方案实现：一种用于存储芯片测试机向量产生器的微处理器系统，包括：指令域：用于处理向量产生时各种指令的解析和执行，所述的指令包括循环指令、跳转指令、匹配指令和定时指令；地址域：用于生成被测存储器件的地址；数据域：用于产生被测存储器件的数据；控制域：用于控制外部DUT的管脚资源和测试机内部通道的映射关系；向量缓存器：用于接收产生的向量并输出至外部的时序模块和比较模块；微处理器：设置于指令域内，上位机将指令发送给微处理器的解析模块；解析模块解析指令得到操作码和操作数，并发送给执行模块；所述的执行模块根据操作码的分类执行不同的操作，执行后的指令和标志通过输出模块输出到外部的地址域和数据域。
[0006]作为本专利技术进一步的方案：所述的循环指令具体包括以下步骤：逐条读取当前操作码；假如当前操作码是循环指令，记录下当前的循环起始地址，并且当前的操作数包括循环的结束地址以及循环次数；从循环起始地址开始执行，执行到循环的结束地址时，循环次数减一；
如果减一后的次数还不为0，从循环的结束地址跳转到循环的起始地址再顺序执行，直到循环次数为0，结束循环。
[0007]作为本专利技术进一步的方案：所述的跳转指令具体包括以下步骤：逐条读取当前操作码；如果当前操作码是跳转指令，所述的跳转指令包括条件跳转和直接跳转；如果跳转指令是条件跳转，则操作数是子片段的起始地址和结束地址；将当前地址的下一个地址放到栈里面去，然后跳转到新地址执行子片段，当子片段执行结束，再把栈里面缓存的地址释放出来，接着从这个地址开始执行；如果跳转指令是直接跳转，操作数就是跳转的新地址，直接执行跳转后的新地址。
[0008]作为本专利技术进一步的方案：所述的匹配指令具体包括以下步骤：逐条读取当前操作码；如果当前操作码是匹配指令，操作数为匹配的结束地址；地址+1开始执行，如果匹配到了，不继续执行，直接跳出匹配段，执行后续操作；如果直到匹配的结束地址都没有匹配成功，直接结束。
[0009]作为本专利技术进一步的方案：所述的定时指令具体包括以下步骤：逐条读取当前操作码；如果当前操作码是定时指令，操作数为定时时间；定时器开始计时，地址+1开始执行，如果匹配到了，不继续计时，直接跳出计时操作，执行后续操作；如果计时器计时到最后都没有符合设置条件的情况发生，直接结束。
[0010]本专利技术的有益效果：微处理器的设计，增加了向量产生的灵活性和智能性；比如循环指令，假如我们不采用这个指令，那么在向量里就要写相同的向量好多遍，既占用了储存空间，又增加了测试人员工作量；还有就是匹配和定时等指令，增加了向量产生器的智能性；例如匹配指令，在一定的地址范围内操作要达到预期才说明芯片正常工作，假如没有这个指令，后面的测试可能是在芯片不正常工作的情况下得到了，结果不准确，浪费测试人员的时间。
附图说明
[0011]下面结合附图对本专利技术作进一步的说明。
[0012]图1是本专利技术中一种用于存储芯片测试机向量产生器的微处理器系统的整体结构示意图；图2是本专利技术中微处理器的整体结构示意图；图3是本专利技术循环指令的流程示意图；图4是本专利技术跳转指令的流程示意图；图5是本专利技术匹配指令的流程示意图；图6是本专利技术定时指令的流程示意图。
具体实施方式
[0013]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完
整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0014]请参阅图1所示，本专利技术为一种用于存储芯片测试机向量产生器的微处理器系统，其整体结构如图1所示，整个向量产生器有四个部分，分别为指令域，地址域，数据域，控制域；指令域就是微处理器所在的模块，主要的作用是处理向量产生时各种指令的解析和执行，比如向量的重复、循环、跳转和定时等；地址域是生成被测存储器件的地址，地址可以根据指令域的指令进行选择，运算等操作；数据域就是产生被测存储器件的数据，数据也可以根据指令域的指令进行选择，运算等操作；控制域主要控制外部DUT的管脚资源和测试机内部通道的映射关系，产生的向量经过缓存器后输出外部的时序和比较模块。
[0015]微处理器的框图见图2，上位机通过千兆网将指令发给微处理器的解析模块，解析模块解析指令得到操作码和操作数，然后将两者发给执行模块，执行模块根据操作码的分类执行不同的循环、跳转、匹配和定时等操作，执行后的指令和标志通过输出模块输出到外部的地址域和数据域。
[0016]图3是循环流程图，我们逐条读取当前操作码，假如当前操作码是循环指令，记录下当前的循环起始地址；当前的操作数包括循环的结束地址以及循环次数；依次往下执行，执行到循环的结束地址时，循环次数减一；假如减一后的次数还不为0，那么地址要跳转到循环的起始地址再顺序执行，直到循环次数为0，结束循环，继续执行别的操作，直到结束。
[0017]图4是跳转流程图，我们逐条读取当前操作码，假如当前操作码是跳转指令，跳转指令分两种，条件跳转和直接跳转；假如是条件跳转指令，操作数是子片段的起始和结束地址，将当前地址的下一个地址放到栈里面去，然后跳转到新地址执行子片段，当子片段执行结束，再把栈里面缓存的地址释放出来，接着从这个地址开始执行；假如跳转指令是直接跳转，操作数就为跳转的新地址，那么程序直接执行跳转后的新地址；继续执行别的操作，直到结束。
[0018]图5是匹配流程图，匹配是指在当前地址以后的一段地址内，看能够找到符合设置条件的向量；我们逐条读取当前操作码，假如当前操作码是匹配指令；操作数为匹配的结束地址；地址+1开始执行，如本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于存储芯片测试机向量产生器的微处理器系统，其特征在于，包括：指令域：用于处理向量产生时各种指令的解析和执行，所述的指令包括循环指令、跳转指令、匹配指令和定时指令；地址域：用于生成被测存储器件的地址；数据域：用于产生被测存储器件的数据；控制域：用于控制外部DUT的管脚资源和测试机内部通道的映射关系；向量缓存器：用于接收产生的向量并输出至外部的时序模块和比较模块；微处理器：设置于指令域内，上位机将指令发送给微处理器的解析模块；解析模块解析指令得到操作码和操作数，并发送给执行模块；所述的执行模块根据操作码的分类执行不同的操作，执行后的指令和标志通过输出模块输出到外部的地址域和数据域。2.根据权利要求1所述的一种用于存储芯片测试机向量产生器的微处理器系统，其特征在于，所述的循环指令具体包括以下步骤：逐条读取当前操作码；假如当前操作码是循环指令，记录下当前的循环起始地址，并且当前的操作数包括循环的结束地址以及循环次数；从循环起始地址开始执行，执行到循环的结束地址时，循环次数减一；如果减一后的次数还不为0，从循环的结束地址跳转到循环的起始地址再顺序执行，直到循环次数为0，结束循环。3.根据权利要求1所述的一种用于存储芯片测试机向量产生器的微处理...

【专利技术属性】
技术研发人员：钱黄生，崔荣熏，刘金海，宋秀良，
申请(专利权)人：悦芯科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：